[發明專利]一種基于圖像識別的砂石檢測方法

在審

• 申請號: 202010672064.1
• 申請日: 2020-07-14
• 公開（公告）號: CN111833327A
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發明（設計）人: 李亞坤;劉軍;袁德勝;王治猛
• 申請（專利權）人: 中國建筑第二工程局有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62;G06K9/38;G01N15/02
• 代理公司: 北京德崇智捷知識產權代理有限公司 11467
• 代理人: 俞江

1.一種基于圖像識別的砂石檢測方法，其特征在于，包括：將待檢砂石進行圖像二值化，細砂、中砂、粗砂分別呈現出不同密度的像素點，計算各類砂石的像素點與總像素點的實際占比值，對比各類砂石的預設占比區間，判斷砂石的類型；將待檢砂石圖像二值化后進行輪廓檢測，統計每個砂石的粒徑，計算各類砂石的平均粒徑值，對比各類砂石的粒徑范圍，判斷砂石的類型；最后，綜合判斷待檢砂石的類型。

2.根據權利要求1所述基于圖像識別的砂石檢測方法，其特征在于， 將上述得到的各類砂石的實際占比值，比上該類砂石預設的理想占比值，計算占比得分A；將上述得到的各類砂石的平均粒徑值，比上該類砂石預設的理想粒徑值，計算粒徑得分B；最后結合占比得分A和粒徑得分B算出總分C，綜合判斷砂石的質量。

3.根據權利要求2所述基于圖像識別的砂石檢測方法，其特征在于，所述總分；計算結果越接近1 ，砂石的質量越好。

4.根據權利要求1所述基于圖像識別的砂石檢測方法，其特征在于，上述計算各類砂石的像素點與總像素點的實際占比值方法如下：將二值化后的圖像進行分塊，統計每塊圖像中砂石的像素點與總像素點的比例，數據去噪后得出各類砂石的占比結果。

5.根據權利要求1所述基于圖像識別的砂石檢測方法，其特征在于，上述計算各類砂石平均粒徑的方法如下：將待檢砂石進行輪廓檢測，數據去噪后統計各類砂石的平均粒徑值。

6.一種基于圖像識別的砂石檢測裝置，其特征在于，包括：

占比計算模塊：將待檢砂石進行圖像二值化，細砂、中砂、粗砂分別呈現出不同密度的像素點，計算各類砂石的像素點與總像素點的實際占比值，對比各類砂石的預設占比區間，判斷砂石的類型；

粒徑計算模塊：將待檢砂石圖像二值化后進行輪廓檢測，統計每個砂石的粒徑，計算各類砂石的平均粒徑值，對比各類砂石的粒徑范圍，判斷砂石的類型；

最后，綜合判斷待檢砂石的類型。

7.根據權利要求6所述基于圖像識別的砂石檢測裝置，其特征在于， 在占比計算模塊中，將各類砂石的實際占比值比上該類砂石預設的理想占比值，計算占比得分A；在粒徑計算模塊中，將各類砂石的平均粒徑值比上該類砂石預設的理想粒徑值，計算粒徑得分B；最后結合占比得分A和粒徑得分B算出總分C，綜合判斷砂石的質量。

8.根據權利要求7所述基于圖像識別的砂石檢測裝置，其特征在于，所述總分；計算結果越接近1 ，砂石的質量越好。

9.根據權利要求6所述基于圖像識別的砂石檢測方法，其特征在于，上述計算各類砂石的像素點與總像素點的實際占比值方法如下：將二值化后的圖像進行分塊，統計每塊圖像中砂石的像素點與總像素點的比例，數據去噪后得出各類砂石的占比結果。

10.根據權利要求6所述基于圖像識別的砂石檢測裝置，其特征在于，上述計算各類砂石平均粒徑的方法如下：將待檢砂石進行輪廓檢測，數據去噪后統計各類砂石的平均粒徑值。