[發明專利]一種大斜井炮檢移動VSP自由表面多次波成像方法和裝置有效
| 申請號: | 202010670672.9 | 申請日: | 2020-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN111781647B | 公開(公告)日: | 2022-05-20 |
| 發明(設計)人: | 李建國 | 申請(專利權)人: | 中油奧博(成都)科技有限公司 |
| 主分類號: | G01V1/36 | 分類號: | G01V1/36 |
| 代理公司: | 成都方圓聿聯專利代理事務所(普通合伙) 51241 | 代理人: | 李鵬 |
| 地址: | 611730 四川省成都市*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 斜井 移動 vsp 自由 表面 多次 成像 方法 裝置 | ||
本發明公開了一種大斜井炮檢移動VSP自由表面多次波成像方法和裝置,所述方法包括以下步驟:S1.輸入大斜井炮檢移動VSP全波場共檢波點道集、2維地質模型、偏移參數;S2.根據輸入數據,建立炮點、檢波點在2維地質模型中的坐標;S3.對輸入的共檢波點道集做快速傅里葉變換到頻率波數域,設置頻率域震源;S4.單檢波點的自由表面多次波單程波疊前深度偏移成像;S5.完成所有檢波點的炮檢移動VSP自由表面多次波疊前深度偏移成像;S6.共成像道集疊加,得到炮檢移動VSP自由表面多次波疊前深度偏移疊加成像。本發明有效利用自由表面多次波所攜帶的豐富信息,實現了炮檢移動VSP自由表面多次波疊前深度偏移成像,為地質研究、鉆井導向提供了準確的數據基礎。
技術領域
本發明涉及地球物理勘探中地震數據偏移成像,特別是涉及一種大斜井炮檢移動VSP自由表面多次波成像方法和裝置。
背景技術
炮檢移動VSP是針對大斜井設計的觀測系統,即炮線布設于地表、位于井中檢波器的正上方,炮線隨著檢波器移動。炮檢移動VSP的優勢是覆蓋次更加均勻。這種觀測系統主要用于斜井鉆進過程中的導向入靶。通常,自由表面多次波作為干擾波被衰減了。與反射相比,自由表面多次波具有易識別、照明寬、反射角小、傳播路徑長的特點。
吳世萍等研究了《Walkaway VSP多次波成像技術研究》,文獻將地震相干成像用于Walkaway VSP多次波成像。李建國等研究了《Walkaway VSP自由表面多次波疊前深度偏移成像》,文獻采用單程波延拓實現了變偏移距VSP的自由表面多次波成像;但是由于針對炮檢移動VSP的自由表面多次波成像的研究還不成熟,在地址研究、鉆進導向等領域還存在著諸多不便。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術的不足,提供一種大斜井炮檢移動VSP自由表面多次波成像方法和裝置,有效利用自由表面多次波所攜帶的豐富信息,實現了炮檢移動VSP自由表面多次波疊前深度偏移成像,為地質研究、鉆井導向提供了準確的數據基礎。
本發明的目的是通過以下技術方案來實現的:一種大斜井炮檢移動VSP自由表面多次波成像方法,包括以下步驟:
S1.輸入大斜井炮檢移動VSP全波場共檢波點道集、2維地質模型、偏移參數;
S2.根據輸入數據,建立炮點、檢波點在2維地質模型中的坐標;
S3.對輸入的共檢波點道集做快速傅里葉變換到頻率波數域,設置頻率域震源;
S4.將頻率域震源從檢波點深度向上延拓至自由表面,頻率波數域炮檢移動VSP共檢波點全波場、震源波場從自由表面向下延拓,實現單檢波點的自由表面多次波單程波疊前深度偏移成像;
S5.循環執行步驟S4,完成所有檢波點的炮檢移動VSP自由表面多次波疊前深度偏移成像;
S6.將步驟S5的成像重排成共成像道集,共成像道集疊加,得到炮檢移動VSP自由表面多次波疊前深度偏移疊加成像。
進一步地,所述步驟S1包括:
S101.輸入大斜井炮檢移動VSP全波場共檢波點道集{VSPData},讀取炮點坐標{SX,SY}、炮點深度SZ、檢波點坐標{RX,RY}、檢波點深度RZ、井口大地坐標{WMX,WMY};
S102.輸入縱波2維網格層速度地質模型{V},模型橫坐標MX、模型橫縱坐標MZ、井口模型坐標MWMX信息;
S103.輸入成像算子最大傾角dip、成像終止深度zmig2、成像深度步長dzmig、波場{VSPData}最小頻率fl、波場{VSPData}最大頻率參數fh。
所述步驟S2包括:
S201.利用步驟S1中的炮點坐標、炮點深度、檢波點坐標、檢波點深度、井口大地坐標、井口模型坐標,建立炮點、檢波點在2維地質模型中的坐標:
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