[發明專利]偏振復用的相位損傷評估方法及裝置

有效

• 申請號: 202010670431.4
• 申請日: 2020-07-13
• 公開（公告）號: CN111865453B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 李斌;楊柳;李竹青
• 申請（專利權）人: 武漢光盈科技有限公司
• 主分類號: H04B17/309
• 分類號: H04B17/309;H04B17/382;H04B17/391
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 郭亮

1.一種偏振復用的相位損傷評估方法，其特征在于，包括：

根據基礎相位噪聲模型的方差、光纖傳輸距離和偏振串擾強度，確定偏振串擾相位噪聲模型的方差；

所述根據基礎相位噪聲模型的方差、光纖傳輸距離和偏振串擾強度，確定偏振串擾相位噪聲模型的方差，包括：

σ_P²＝L_r×X_r×σ_L²；

其中，L_r和X_r分別為光纖傳輸距離和偏振串擾強度，σ_L²為基礎相位噪聲模型的方差，σ_P²為偏振串擾相位噪聲模型的方差；

根據基礎相位噪聲模型的方差和偏振串擾相位噪聲模型的方差，確定綜合相位噪聲模型的協方差，以得到綜合相位噪聲模型，用于相位損傷評估；

所述根據基礎相位噪聲模型的方差和偏振串擾相位噪聲模型的方差，確定綜合相位噪聲模型的協方差，包括：

其中，σ_L²為基礎相位噪聲模型的方差，σ_P²為偏振串擾相位噪聲模型的方差，σ²為綜合相位噪聲模型的協方差；

其中，所述基礎相位噪聲為偏振復用以外的噪聲。

2.根據權利要求1所述的偏振復用的相位損傷評估方法，其特征在于，所述確定綜合相位噪聲模型的協方差之前，還包括：

根據激光器的線寬和發送信號的采樣時間間隔，確定基礎相位噪聲模型的方差。

3.根據權利要求2所述的偏振復用的相位損傷評估方法，其特征在于，所述根據激光器的線寬和發送信號的采樣時間間隔，確定基礎相位噪聲模型的方差，包括：

σ_L²＝2πΔvdt；

其中，Δv為激光器的線寬，dt為發送信號的采樣時間間隔，σ_L²為基礎相位噪聲模型的方差。

4.根據權利要求1所述的偏振復用的相位損傷評估方法，其特征在于，所述綜合相位噪聲模型，具體為：

N為高斯分布；

其中，σ²為綜合相位噪聲模型的協方差。

5.根據權利要求1所述的偏振復用的相位損傷評估方法，其特征在于，得到綜合相位噪聲模型之后，包括：

根據所述綜合相位噪聲模型，確定每個偏振模式的相位噪聲損傷值。

6.一種偏振復用的相位損傷評估裝置，其特征在于，包括：

偏振串擾相位噪聲確定模塊，用于根據基礎相位噪聲模型的方差、光纖傳輸距離和偏振串擾強度，確定偏振串擾相位噪聲模型的方差；

所述根據基礎相位噪聲模型的方差、光纖傳輸距離和偏振串擾強度，確定偏振串擾相位噪聲模型的方差，包括：

σ_P²＝L_r×X_r×σ_L²；

其中，L_r和X_r分別為光纖傳輸距離和偏振串擾強度，σ_L²為基礎相位噪聲模型的方差，σ_P²為偏振串擾相位噪聲模型的方差

綜合相位噪聲模型構建模塊，用于根據基礎相位噪聲模型的方差和偏振串擾相位噪聲模型的方差，確定綜合相位噪聲模型的協方差，以得到綜合相位噪聲模型，用于相位損傷評估；

所述根據基礎相位噪聲模型的方差和偏振串擾相位噪聲模型的方差，確定綜合相位噪聲模型的協方差，包括：

其中，σ_L²為基礎相位噪聲模型的方差，σ_P²為偏振串擾相位噪聲模型的方差，σ²為綜合相位噪聲模型的協方差；

其中，所述基礎相位噪聲為偏振復用以外的噪聲。