[發(fā)明專利]一種基于表面pn結(jié)晶體硅太陽電池的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010664691.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111668347B | 公開(公告)日: | 2022-08-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊宏;白巧巧;王鶴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L31/18 | 分類號(hào): | H01L31/18;H01L31/0352;H01L31/068 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 姚詠華 |
| 地址: | 710049 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 表面 pn 結(jié)晶體 太陽電池 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于表面pn結(jié)晶體硅太陽電池的制備方法,首先對(duì)原始硅片進(jìn)行清洗、制絨、氧化、光刻處理,采用選擇性局域擴(kuò)散的方法在硅片表面形成表面pn結(jié),然后去除邊緣和背面的pn結(jié),在正反兩面形成對(duì)應(yīng)的鈍化層,再通過絲網(wǎng)印刷及燒結(jié)的方法形成電極。上述表面pn結(jié)晶體硅太陽電池的制備方法是在電池受光面進(jìn)行局域擴(kuò)散,從而形成表面pn結(jié),這樣的表面pn結(jié)避免了傳統(tǒng)硅太陽電池表面“死層”的存在,使得入射的紫外光子全部轉(zhuǎn)換成電能輸出,有利于提高硅太陽電池的效率,這種表面結(jié)太陽電池既可以用來發(fā)電也可以用來做紫外探測或太陽光譜探測。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于太陽能光伏技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種基于表面pn結(jié)晶體硅太陽電池的制備方法。
背景技術(shù)
目前,晶體硅太陽電池是光伏發(fā)電的主力,其基本結(jié)構(gòu)是在受光面有0.3-0.5um的n+層(n+p電池)或者0.35-0.6um的p+層(p+n電池)。為了提高太陽電池的光電轉(zhuǎn)換效率,受光面一般做成重?fù)诫s層,但重?fù)诫s層少子壽命小,沒有電場。該層吸收紫外波段的光子產(chǎn)生的光生載流子靠擴(kuò)散不能有效地輸出,通常把這一層叫“死層”。因此,現(xiàn)有的太陽電池在紫外光波段光電轉(zhuǎn)換效率很低,當(dāng)被用作探測器時(shí),其紫外探測效果很差。
為了解決“死層”問題,人們就把pn結(jié)盡量做成淺結(jié),受光面的摻雜濃度做的盡可能低,這樣就可以吸收近紫外光,把這樣的電池叫紫光電池。但是,該電池?zé)o法全部利用紫外光,且低的摻雜濃度會(huì)直接導(dǎo)致電池的開路電壓(Voc)低,不利于提高電池的光電轉(zhuǎn)換效率。
基于上述技術(shù)現(xiàn)狀,人們?cè)跍y量全部太陽光的輻射時(shí),通常采用熱電堆制成的太陽輻射計(jì)。熱電堆是無源器件,其工作原理是利用輻射的熱效應(yīng),先將輻射能轉(zhuǎn)換為熱能,再將熱能轉(zhuǎn)換為電能。其反應(yīng)慢,準(zhǔn)確度低(5%),無法滿足準(zhǔn)確、快速測量太陽輻射的需要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出了一種基于表面pn結(jié)晶體硅太陽電池的制備方法。較傳統(tǒng)的硅太陽電池,該新型硅太陽電池在電池受光面進(jìn)行局域擴(kuò)散,從而形成表面pn結(jié),這樣的表面pn結(jié)避免了常規(guī)太陽電池表面“死層”存在,使得入射的紫外光子全部轉(zhuǎn)換成電能輸出,這樣不僅能提高太陽電池的轉(zhuǎn)換效率,而且該器件也可用于太陽光全波段輻射的快速、準(zhǔn)確探測,特別是紫外探測。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下的技術(shù)方案:
一種基于表面pn結(jié)晶體硅太陽電池的制備方法,首先對(duì)硅片進(jìn)行制絨、氧化、光刻處理,采用選擇性局域擴(kuò)散的方法在硅片表面形成表面pn結(jié),然后去除邊緣和背面的pn結(jié),在正反兩面沉積鈍化層,再通過絲網(wǎng)印刷及燒結(jié)的方法形成正、負(fù)電極,得到基于表面pn結(jié)晶體硅太陽電池。
本發(fā)明進(jìn)一步的改進(jìn)在于,硅片的電阻率為1-3Ω·cm,厚度為100-450um。
本發(fā)明進(jìn)一步的改進(jìn)在于,制絨的具體過程是:先用電子清洗劑對(duì)硅片表面進(jìn)行超聲清洗,然后在質(zhì)量濃度為1%-1.5%,溫度為80-82℃的氫氧化鈉溶液中進(jìn)行腐蝕制絨,制絨時(shí)間為15-25min,再對(duì)硅片進(jìn)行噴淋、酸洗、漂洗、預(yù)脫水、烘干。
本發(fā)明進(jìn)一步的改進(jìn)在于,氧化的具體過程為:對(duì)制絨完成后的硅片進(jìn)行表面氧化,形成二氧化硅膜,其中,氧化的溫度為850-1150℃,氧化時(shí)間為10-40min;二氧化硅膜厚度為0.1-0.5um。
本發(fā)明進(jìn)一步的改進(jìn)在于,光刻的具體過程如下:使用正性光刻膠旋涂在氧化后的硅片上,將涂膠后的硅片進(jìn)行前烘,對(duì)前烘后的硅片按照掩模版的圖案進(jìn)行紫外光曝光,對(duì)曝光后的硅片進(jìn)行顯影,將顯影后的硅片再進(jìn)行后烘,然后將硅片放入氫氟酸溶液中,腐蝕掉無光刻膠區(qū)域即待擴(kuò)散區(qū)的二氧化硅膜,再去膠、清洗、烘干。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





