[發(fā)明專利]基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010660739.0 | 申請日: | 2020-07-10 |
| 公開(公告)號: | CN111898329B | 公開(公告)日: | 2022-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃如;劉姝涵;黃芊芊 | 申請(專利權(quán))人: | 北京大學(xué) |
| 主分類號: | G06F30/38 | 分類號: | G06F30/38;G06N3/04;G06N3/063 |
| 代理公司: | 北京萬象新悅知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11360 | 代理人: | 賈曉玲 |
| 地址: | 100871*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 晶體管 fefet 卷積 計算方法 | ||
1.一種基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法,其特征在于,具體包括如下步驟:
1)構(gòu)建一個鐵電晶體管FeFET組成的存儲陣列、一個m位的移位寄存器和一個n位的移位寄存器;其中,鐵電晶體管FeFET排列成m行n列的存儲陣列,每一行器件的柵端相連構(gòu)成字線,每一列器件的漏端相連構(gòu)成位線,每一列器件的源端相連構(gòu)成源線,將所有源線連在一起共同組成一個輸出端;m位移位寄存器每一位的輸出端分別連接于相應(yīng)的字線;n位移位寄存器每一位的輸出端分別連接于相應(yīng)的位線;
2)數(shù)據(jù)“0”對應(yīng)存儲器件的低閾值態(tài),數(shù)據(jù)“1”對應(yīng)存儲器件的高閾值態(tài),逐個對應(yīng)地將輸入特征圖寫入到存儲陣列中;卷積核分解成兩個向量的乘積,得到的兩個向量分別存儲于兩個移位寄存器中,并作為電壓輸入,分別施加到卷積窗口對應(yīng)的位線和字線上;
3) 除卷積窗口對應(yīng)的位線和字線外,其余位線和字線的電壓置零,從輸出端口讀取輸出電流值,得到卷積計算的一個結(jié)果;不斷移動卷積窗口,直至完成卷積核與輸入特征圖的卷積運(yùn)算,得到輸出特征圖。
2.如權(quán)利要求1所述的基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法,其特征在于,所述卷積核分解成一個列向量和一個行向量的乘積矩陣。
3.如權(quán)利要求1所述的基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法,其特征在于,所述卷積核若不可直接分解,則在訓(xùn)練時加約束條件將卷積核訓(xùn)練成可分解的矩陣,或按損失函數(shù)最小進(jìn)行近似分解,或分解成一系列可分解矩陣的線性疊加。
4.如權(quán)利要求1所述的基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法,其特征在于,采用移位寄存器對卷積窗口中位線和/或字線的電壓進(jìn)行移位。
5.如權(quán)利要求1所述的基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法,其特征在于,n位移位寄存器用于存儲卷積核分解的行向量,同時給位線輸出電壓。
6.如權(quán)利要求1所述的基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法,其特征在于, m位移位寄存器用于存儲卷積核分解的列向量,同時給字線輸出電壓。
7.如權(quán)利要求1所述的基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法,其特征在于,所述FeFET器件基于MFMIS、MFIS或MFS結(jié)構(gòu)。
8.如權(quán)利要求1所述的基于鐵電晶體管FeFET的卷積計算方法,其特征在于,所述FeFET器件采用鈣鈦礦型鐵電、鐵電聚合物或HfO2摻Zr、HfO2摻Al、HfO2摻Si、HfO2摻Y(jié)。
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