[發明專利]一種提高并穩定銅礦石入選品位的方法

在審

• 申請號: 202010658664.2
• 申請日: 2020-07-09
• 公開（公告）號: CN111871587A
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發明（設計）人: 王彩虹;楊云虎;魏有林
• 申請（專利權）人: 甘肅酒鋼集團宏興鋼鐵股份有限公司
• 主分類號: B02C23/12
• 分類號: B02C23/12;B02C23/14;B07B15/00;B07C5/34
• 代理公司: 蘭州智和專利代理事務所(普通合伙) 62201
• 代理人: 張英荷

本發明提供了一種提高并穩定銅礦石入選品位的方法，是在在銅選廠原有兩段一閉路破碎篩分流程的基礎上，將原有單層振動篩改造為雙層振動篩，并在細碎前增設光電預選設備，實現上層篩篩上物預選，預選精礦與上、下層篩中間物共同細碎，細碎與雙層篩組成閉合回路，下層篩篩下物為破碎合格產品，直接進入球磨料倉。針對光電預選設備要求入選物料必須為塊狀的特性，對銅選廠原有破碎篩分流程加以改造，將光電預選設備科學配置于破碎篩分流程，提前拋出多混入的圍巖，在提高采出銅礦石品位的同時，穩定銅選廠入選礦石品位，對銅選廠技術、經濟指標提升極為有利。

技術領域

本發明屬于選礦技術領域，涉及一種提高并穩定銅礦石入選品位的方法。

背景技術

礦石在開采過程中，受礦床地質成因、采礦方法以及生產操作等多因素影響，不可避免的會有圍巖混入，對于低品位銅礦而言，由于礦體邊界線不清，開采過程容易造成鑿巖過深，圍巖混入率高于設計值，采出礦石品位忽高忽低的問題，給選礦生產調整帶來極大不利，嚴重影響選廠技術及經濟指標。傳統穩定入選品位的方法是配礦，但這并不能消除多混入的圍巖在磨選過程的成本增加。

銅選廠破碎篩分工藝一般采用兩段一閉路破碎篩分流程，如圖1所示，將原礦粗碎，通過單層振動篩進行篩分，篩上物進入細碎設備完成細碎返回單層振動篩，篩下物為破碎合格產品。

發明內容

本發明的目的是提供一種提高并穩定銅礦石入選品位的方法，達到預選拋廢，穩定銅選廠入選礦石品位，降低磨礦選別成本的目的。

本發明在銅選廠原有兩段一閉路破碎篩分流程的基礎上，將原有單層篩改造為雙層篩，并在細碎前增設光電預選設備，實現上層篩篩上物預選，預選精礦與上、下層篩中間物共同細碎，細碎與雙層篩組成閉合回路，下層篩篩下物為破碎合格產品，直接進入球磨料倉。針對光電預選設備要求入選物料必須為塊狀的特性，將光電預選設備科學配置于破碎篩分流程，提前拋出多混入的圍巖，在提高采出銅礦石品位的同時，穩定銅選廠入選礦石品位，對銅選廠技術、經濟指標提升極為有利。

本發明提高并穩定銅礦石入選品位的方法，是在兩段一閉路破碎篩分流程的基礎上，將單層振動篩改造為雙層振動篩，并在細碎前增設光電預選設備，具體包括以下步驟：

（1）將原礦粗碎，通過雙層振動篩篩分，分別得到篩上物、中間物和篩下物；

（2）將步驟（1）中篩上物通過光電預選設備進行預選，預選后得到預選精礦及廢石，廢石直接丟棄；

（3）將步驟（2）得到的預選精礦與步驟（1）上、下層振動篩中間物一同進入細碎設備完成細碎，得到細碎產物；

（4）將步驟（3） 得到的細碎產物返回步驟（1）雙層振動篩組成閉合回路，下層振動篩篩下物為破碎產品，直接進入球磨料倉。

所述振動篩篩孔為方形或圓形，上層振動篩篩孔孔徑為30~50mm，下層振動篩篩孔孔徑為10~15mm。

所述光電預選設備為基于XRF（X射線熒光分析）輻射分選機或基于XRT（X射線衍射形貌術）的智能分選機。

本發明預選拋出廢石量多少，根據拋出廢石的銅品位決定，原則上拋出廢石銅品位不應高于浮選尾礦銅品位。破碎篩分流程流程既能滿足預選功能，又能確保不預選時流程順暢，根據采出礦石品位及圍巖混入率，決定礦石是否進行預選，采出礦石品位高、圍巖混入率低，無需預選，此時只需關閉光電預選設備調節閥，無需預選的具體步驟如下：

（1）關閉光電預選設備，將原礦粗碎后，通過雙層振動篩篩分，分別得到篩上物、中間物和篩下物；

（2）步驟（1）得到的篩上物通過預選設備但不預選，與步驟（1）得到中間物一同進入圓錐破碎機細碎，得到細碎產物；

（3）將細碎產物返回雙層振動篩組成閉合回路，下層振動篩篩下物為破碎產品，直接進入球磨料倉。