[發明專利]修復分析電路及包括其的存儲器

在審

• 申請號: 202010657912.1
• 申請日: 2020-07-09
• 公開（公告）號: CN113012748A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 趙晧成
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G11C29/44
• 分類號: G11C29/44
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 許偉群;阮愛青

本申請公開了一種修復分析電路及包括其的存儲器。存儲器可以包括第一修復分析電路，其適用于當輸入故障地址與已經儲存在第一修復分析電路中的故障地址不同時儲存輸入故障地址，并且當第一修復分析電路的儲存容量已滿時，將輸入故障地址作為第一傳送故障地址輸出；以及第二修復分析電路，其適用于當第一傳送故障地址與已經儲存在第二修復分析電路中的故障地址不同時，儲存第一傳送故障地址。

相關申請的交叉引用

本申請要求2019年12月20日提交的申請號為10-2019-0171654的韓國專利申請的優先權，其全部內容通過引用合并于本文中。

技術領域

本專利文件涉及一種存儲器，更具體而言，涉及存儲器的修復分析電路。

背景技術

在存儲器半導體工業的初始階段，許多原始的良好裸片已經分布在晶圓上，每個良好裸片在經過半導體制造工藝的存儲芯片中沒有缺陷單元。然而，存儲器容量的增大使得難以制造沒有缺陷單元的存儲芯片。當前，幾乎沒有可能性制造這種存儲芯片。

為了克服這種情況，已經提出了一種安裝有備用存儲器，即用于修復(替換)有缺陷單元的冗余存儲器的方法。為了修復有缺陷單元，需要通過測試來檢測有缺陷單元。然后，需要分析和儲存檢測到的有缺陷單元。近來，用于分析和儲存所發現的有缺陷單元的信息的修復分析電路被安裝在存儲器中。

發明內容

各種實施例針對能夠利用有效的方法來分析和儲存故障地址的技術。

在一個實施例中，一種存儲器可以包括：第一修復分析電路，其適用于當輸入故障地址與已經儲存在第一修復分析電路中的故障地址不同時，儲存輸入故障地址，并且當第一修復分析電路的儲存容量已滿時，將輸入故障地址作為第一傳送故障地址輸出；以及第二修復分析電路，其適用于當第一傳送故障地址與已經儲存在第二修復分析電路中的故障地址不同時，儲存第一傳送故障地址。

在一個實施例中，一種存儲器可以包括：第一修復分析電路至第四修復分析電路；以及控制電路，其適用于：在第一模式中，控制第一修復分析電路至第四修復分析電路儲存存儲器內的不同區域的故障地址；以及在第二模式中，控制第一修復分析電路和第二修復分析電路儲存指示存儲器內的一個區域的故障地址，并控制第三修復分析電路和第四修復分析電路儲存指示存儲器內的另一區域的故障地址。