[發明專利]一種定位方法、裝置及電子設備

有效

• 申請號: 202010656276.0
• 申請日: 2020-07-09
• 公開（公告）號: CN111866713B
• 公開（公告）日: 2021-09-10
• 發明（設計）人: 劉雯;鄧中亮;程倩倩;賈銘杰
• 申請（專利權）人: 北京郵電大學
• 主分類號: H04W4/02
• 分類號: H04W4/02;H04W4/021;H04W4/33;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413
• 代理人: 項京;丁蕓

1.一種定位方法，其特征在于，包括：

獲取待進行相位特征提取的目標信道狀態信息CSI中的相位信息，作為目標CSI相位信息；所述目標CSI相位信息為待定位設備發送的、接收端設備中各天線接收到的用于傳輸預設數量個通信數據包的各子載波的CSI相位信息；

針對各通信數據包：基于不同天線間的第一相位關聯關系，及同一天線不同子載波間的第二相位關聯關系，得到鄰接方陣；其中，所述鄰接方陣的階數等于所有天線接收到的子載波總數量，且所述鄰接方陣中的各行、各列分別對應一個子載波；當元素所在行對應的子載波，與元素所在列對應的子載波之間存在所述第一相位關聯關系，或所述第二相位關聯關系時，將元素的元素值確定為1，反之，將元素的元素值確定為0；

將所述目標CSI相位信息和所述鄰接方陣輸入預先訓練完成的神經網絡模型中的特征提取子模型，得到目標相位特征；并將所述目標相位特征輸入所述神經網絡模型中的多層感知器，得到所述待定位設備位于各預設參考點的置信度；其中，所述特征提取子模型包括：圖卷積層和卷積層；

基于所述置信度，得到所述待定位設備的位置信息。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述特征提取子模型包括：第一圖卷積層、第一卷積層、第二圖卷積層以及第二卷積層；

所述將所述目標CSI相位信息和所述鄰接方陣輸入預先訓練完成的神經網絡模型中的特征提取子模型，得到目標相位特征，包括：

將所述目標CSI相位信息和所述鄰接方陣輸入所述第一圖卷積層；

所述第一圖卷積層，用于基于所述鄰接方陣，對所述目標CSI相位信息進行特征提取，得到第一相位特征，并將所述第一相位特征輸入所述第一卷積層；

所述第一卷積層，用于基于不同通信數據包在時間維度上的第三相位關聯關系，對所述第一相位特征進行特征提取，得到第二相位特征，并將所述第二相位特征輸入所述第二圖卷積層；

所述第二圖卷積層，用于基于所述鄰接方陣，對所述第二相位特征進行特征提取，得到第三相位特征，并將所述第三相位特征輸入所述第二卷積層；

所述第二卷積層，用于基于不同通信數據包在時間維度上的第三相位關聯關系，對所述第三相位特征進行特征提取，得到目標相位特征。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一圖卷積層，具體用于采用第一預設公式，對所述目標CSI相位信息進行特征提取，得到第一相位特征，并將所述第一相位特征輸入所述第一卷積層，所述第一預設公式為：

其中，A為所述鄰接方陣，I為與同階的單位陣；H⁽⁰⁾為所述目標CSI相位信息；H⁽¹⁾為所述第一相位特征；D為歸一化矩陣；σ為sigmoid函數；W⁽¹⁾為第一權重矩陣；

所述第二圖卷積層，具體用于采用第二預設公式，對所述第二相位特征進行特征提取，得到第三相位特征，并將所述第三相位特征輸入所述第二卷積層，所述第二預設公式為：

其中，A為所述鄰接方陣，I為與同階的單位陣；H⁽²⁾為所述第二相位特征；H⁽³⁾為所述第三相位特征；W⁽²⁾為第二權重矩陣。