[發(fā)明專利]一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的方法及系統(tǒng)

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• 申請日: 2020-07-09
• 公開（公告）號: CN111887888A
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳宇鵬;馮巧梅
• 申請（專利權(quán)）人: 聚融醫(yī)療科技（杭州）有限公司
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00
• 代理公司: 浙江千克知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33246
• 代理人: 周希良

1.一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的方法，其特征在于，包括步驟：

S1.獲取脈沖發(fā)射器生成的窄脈沖波形，并存儲所述窄脈沖波形；

S2.將所述窄脈沖波形作為發(fā)射波形，并獲取示波器采集的超聲探頭表面的通道透鏡回波信號，并記錄超聲探頭的匹配層編號以及通道透鏡回波峰值；

S3.根據(jù)記錄的通道透鏡回波峰值，判斷是否需要更改超聲探頭的匹配層阻抗，若是，則執(zhí)行步驟S1-S2；若否，則執(zhí)行步驟S4；

S4.將所述通道透鏡回波峰值所對應(yīng)的匹配層作為最終的超聲探頭匹配層。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的方法，其特征在于，所述步驟S1之前還包括：探頭板與脈沖發(fā)射器連接，探頭連接器安裝于所述探頭板中，所述探頭連接器與超聲探頭連接，超聲探頭與示波器連接，所述超聲探頭置于空氣中。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的方法，其特征在于，所述步驟S2中記錄的通道透鏡回波峰值為通道透鏡回波信號的最大值。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的方法，其特征在于，所述步驟S2中記錄的匹配編號為超聲探頭匹配層不同材料。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的方法，其特征在于，所述步驟S3中判斷是否需要更改超聲探頭的匹配層阻抗具體為判斷所有材料匹配層是否未檢測完畢，若否，則執(zhí)行步驟S1-S2；若是，則執(zhí)行步驟S4。

6.一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的系統(tǒng)，其特征在于，包括步驟：

獲取模塊，用于獲取脈沖發(fā)射器生成的窄脈沖波形，并存儲所述窄脈沖波形；

記錄模塊，用于將所述窄脈沖波形作為發(fā)射波形，并獲取示波器采集的超聲探頭表面的通道透鏡回波信號，并記錄超聲探頭的匹配層編號以及通道透鏡回波峰值；

判斷模塊，用于根據(jù)記錄的通道透鏡回波峰值，判斷是否需要更改超聲探頭的匹配層阻抗；

匹配層模塊，用于將所述通道透鏡回波峰值所對應(yīng)的匹配層作為最終的超聲探頭匹配層。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的系統(tǒng)，其特征在于，還包括：

連接模塊，用于使探頭板與脈沖發(fā)射器連接，探頭連接器安裝于所述探頭板中，所述探頭連接器與超聲探頭連接，超聲探頭與示波器連接，所述超聲探頭置于空氣中。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的系統(tǒng)，其特征在于，所述記錄模塊中記錄的通道透鏡回波峰值為通道透鏡回波信號的最大值。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的系統(tǒng)，其特征在于，所述記錄模塊中記錄的匹配編號為超聲探頭匹配層不同材料。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于透鏡回波評估超聲探頭匹配層阻抗的系統(tǒng)，其特征在于，所述判斷模塊中判斷是否需要更改超聲探頭的匹配層阻抗具體為判斷所有材料匹配層是否未檢測完畢。