[發明專利]一種嵌入式設備上的性能調試方法

在審

• 申請號: 202010655576.7
• 申請日: 2020-07-09
• 公開（公告）號: CN111813677A
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 徐波;岳堅;張少倩;湯婷
• 申請（專利權）人: 杭州優萬科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 杭州廣奧專利代理事務所(特殊普通合伙) 33334
• 代理人: 高麗敏

1.一種嵌入式設備上的性能調試方法，其特征在于是通過編譯器插樁的方法對函數的入口和出口進行插樁，結合輕量級PMU庫達到函數級統計效果，獲取系統中每個函數的開銷并輸出采集的結果；再讀取之前輸出的采集結果文件創建csv文件，解析之前保存的每個函數的記錄數據，讀取對應的工程的符號表信息，根據函數地址及符號表信息獲取函數名稱，把每個函數的性能采集數據及函數名稱寫入csv文件中，并保存，再在csv文件中根據每一項具體的新能數據，分析個函數的開銷，找到瓶頸函數。

2.根據權利要求1所述的一種嵌入式設備上的性能調試方法，其特征在于：開始采集時，先初始化采集系統，創建高性能內存池供后續hash表entity分配使用，初始化PMU，設置相關性能采集event，并enable，設置采集開始flag，系統開始采集相關信息，以__cyg_profile_func_enter為每個統計的開始點，為每個函數創建對應的hash表entity，分別記錄每個函數的入口和出口對應的性能數據值，并計算相應delta值，同時也記錄函數的運行次數等基礎數據，并更新到hash表的entity，設置結束采集標志，及設置采集開始的flag＝false，發送采集結果獲取命令，遍歷hash表中的各entity，并根據運行總時間進行快速排序，輸出相關結果，保存輸出結果到文件中。

3.根據權利要求1所述的一種嵌入式設備上的性能調試方法，其特征在于所述的編譯器插樁包括自行增加一個編譯器插件，所述的插件在代碼編譯階段在函數入口及退出的地方插入對應的指令。

4.根據權利要求1所述的一種嵌入式設備上的性能調試方法，其特征在于所述的編譯器插樁為直接使用編譯器參數-finstrument-functions來對函數的入口和出口進行插樁。

5.根據權利要求1所述的一種嵌入式設備上的性能調試方法，其特征在于所述的函數的開銷包括運行時間、運行次數、cache miss rate的性能關鍵數據。

6.根據權利要求1所述的一種嵌入式設備上的性能調試方法，其特征在于所述的CSV文件為excel文件。