[發(fā)明專利]一種在超高真空系統(tǒng)內(nèi)精確氣體進(jìn)樣、采集的分析裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010655472.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111879757B | 公開(公告)日: | 2023-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 董珊珊;周傳耀;夏樹才 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/75 | 分類號(hào): | G01N21/75;G01N21/03 |
| 代理公司: | 沈陽科苑專利商標(biāo)代理有限公司 21002 | 代理人: | 何麗英 |
| 地址: | 116023 遼寧*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 超高 真空 系統(tǒng) 精確 氣體 采集 分析 裝置 | ||
本發(fā)明屬于表面化學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種在超高真空系統(tǒng)內(nèi)精確氣體進(jìn)樣、采集的分析裝置。包括氣路裝置、定量給料器裝置、殘余氣體分析儀裝置、激光器及超高真空腔體,其中氣路裝置和定量給料器裝置連接,定量給料器裝置接入超高真空腔體內(nèi),用于給樣品的表面提供吸附氣體;殘余氣體分析儀與銅罩子組合安裝在超高真空腔體上,用于精準(zhǔn)探測(cè)樣品表面脫附出的氣體;超高真空腔體上有預(yù)留的窗口,激光器發(fā)射的激光通過窗口照射至樣品的表面上進(jìn)行光化學(xué)反應(yīng)。本發(fā)明易操作,精確度高,可以靈活地在超高真空系統(tǒng)內(nèi)以各種角度轉(zhuǎn)動(dòng)樣品,結(jié)合外加光照,可進(jìn)一步探測(cè)并分析表面化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)物。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于表面化學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種在超高真空系統(tǒng)內(nèi)精確氣體進(jìn)樣、采集的分析裝置。
背景技術(shù)
在目前實(shí)際真空系統(tǒng)反應(yīng)條件下,對(duì)精確定量的表面氣體吸附、脫附采集進(jìn)而研究表面化學(xué)反應(yīng)是一個(gè)很有意義的課題,由于在表面化學(xué)實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域,在超高真空條件下進(jìn)行樣品不同信息探測(cè)是研究的基礎(chǔ),因此會(huì)在真空腔體的不同位置上安裝許多探測(cè)儀器,且還要留出真空腔體外激光系統(tǒng)產(chǎn)生的激光來照射樣品的窗口,激光穿過窗口從而將入射光照到樣品表面,因此一個(gè)真空腔體需要很多合適的窗口,與此協(xié)同地,便是樣品位置的靈活性。而樣品是位于樣品臺(tái)上的,它一般可以通過樣品臺(tái)在X、Y、Z軸的移動(dòng)和沿Z軸的轉(zhuǎn)動(dòng)而改變空間位置,所以設(shè)計(jì)出既能夠符合實(shí)際實(shí)驗(yàn)腔體,又安裝上方便操作的一套互聯(lián)的裝置,在最初的儀器設(shè)計(jì)時(shí),就要做好精確的計(jì)算和推演。
根據(jù)對(duì)以往的定量給料器裝置的調(diào)研,有三種較為常用的方式,區(qū)別在于單毛細(xì)管、針孔和毛細(xì)管陣列的選擇上。對(duì)于單個(gè)毛細(xì)管給料器,(吸附劑通過注射器針頭定向于表面吸附。因?yàn)樗母邔挶群苄。?dāng)離樣品的距離與毛細(xì)管的長(zhǎng)度相當(dāng)時(shí),這種類型的給料器能發(fā)出高方向性的吸附劑,并在擴(kuò)散背景上提供極好的增強(qiáng)效果)。在大多數(shù)情況下,吸附劑的通量分布不均勻,由于表面擴(kuò)散不能重新生成均勻的覆蓋面,這是不可接受的。針孔給料器通過焊接在供氣管末端的薄金屬箔上的孔,向樣品提供吸附分子。針孔的設(shè)計(jì)通量更均勻,但增強(qiáng)程度較低。第三種配置利用了毛細(xì)管陣列,它是由平行毛細(xì)管組成的密集網(wǎng)格,與針孔給料器中的箔片一樣,陣列安裝在供氣管的末端,平行于吸附劑的表面。AndrewM.Glines等人采用了第三種定量給料器,并設(shè)計(jì)將殘余氣體分析儀安裝在其正下端,為此將毛細(xì)管陣列固定在平行于殘余氣體分析儀前端罩子的正上方,以及樣品的斜前方以便能夠不用移動(dòng)樣品和兩臺(tái)儀器進(jìn)行先吸附后脫附測(cè)量的。但是這種方法對(duì)于單純探測(cè)吸附脫附分子是非常方便直接的,而如果想要在吸附分子后續(xù),轉(zhuǎn)動(dòng)樣品進(jìn)行光照或者探測(cè)其他表面性質(zhì),則是不方便的。
根據(jù)John?T.Yates的儀器設(shè)計(jì),對(duì)于殘余氣體分析儀裝置,在真空腔體中進(jìn)行程序升溫脫附測(cè)量,在儀器的最前端安置了一個(gè)尖嘴玻璃罩子,可以減少氣體在最初升溫脫附收集時(shí)罩子表面的吸附,從而影響定量判定吸附分子的覆蓋度,也可以集中收集樣品表面脫附的氣體。這在我們其他真空腔體儀器的設(shè)計(jì)上采用過,不過在實(shí)際使用的過程中,玻璃罩子存在電荷累積的問題,影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。而且鑒于玻璃罩子在普通車間加工時(shí),收集氣體分子的尖嘴不能做得特別小,且不易加工,在使用過程中被樣品臺(tái)容易撞碎的可能。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述問題,本發(fā)明的目的在于提供一種在超高真空系統(tǒng)內(nèi)精確氣體進(jìn)樣、采集的分析裝置,以更好的實(shí)現(xiàn)表面化學(xué)領(lǐng)域?qū)嶒?yàn)儀器的設(shè)計(jì)、使用。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采取如下技術(shù)方案:
一種在超高真空系統(tǒng)內(nèi)精確氣體進(jìn)樣、采集的分析裝置,包括氣路裝置、定量給料器裝置、殘余氣體分析儀裝置及超高真空腔體,其中,氣路裝置和定量給料器裝置連接,定量給料器裝置接入超高真空腔體內(nèi),用于給樣品的表面提供吸附氣體;殘余氣體分析儀裝置安裝在超高真空腔體上,用于探測(cè)樣品表面脫附出的氣體。
所述超高真空腔體上有預(yù)留的窗口,可用激光器發(fā)射的激光通過窗口照射到樣品表面上,發(fā)生光化學(xué)反應(yīng)。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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