[發(fā)明專利]采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010655248.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111799251B | 公開(公告)日: | 2023-06-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊伊杰;蔣衛(wèi)娟;緱娟;孫炎權(quán) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華羿微電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L25/18 | 分類號(hào): | H01L25/18;H01L23/495;H01L23/367;H01L23/373;H01L21/50;H01L21/60 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郭永麗;侯芳 |
| 地址: | 710018 陜西省西安市未央?yún)^(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 采用 芯片 堆疊 結(jié)構(gòu) 功率 分立 器件 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明屬于功率器件封裝結(jié)構(gòu)的技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件及其制備方法,采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件包括散熱基板;至少兩個(gè)芯片,其分別粘接在所述散熱基板上,或者所述至少兩個(gè)芯片以堆疊的方式粘接在所述散熱基板上;其中,所述至少兩個(gè)芯片與所述散熱基板之間,或者所述至少兩個(gè)芯片之間,均設(shè)有導(dǎo)電銀漿層;其中,所述導(dǎo)電銀漿層的點(diǎn)膠圖案為星狀或者十字狀。采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件的制備方法可以制備上述采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件。本發(fā)明提供的采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件及其制備方法,既能保證功率器件的散熱要求,又實(shí)現(xiàn)大功率器件封裝結(jié)構(gòu)小型化的目的。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于功率器件封裝結(jié)構(gòu)的技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件及其制備方法。
背景技術(shù)
近年來,第三代半導(dǎo)體材料(主要包括SiC、GaN、金剛石等)正憑借其優(yōu)越的性能和巨大的市場(chǎng)前景,成為全球半導(dǎo)體市場(chǎng)爭(zhēng)奪的焦點(diǎn)。和第一代、第二代半導(dǎo)體材料相比,第三代半導(dǎo)體材料具有高熱導(dǎo)率、高擊穿場(chǎng)強(qiáng)、高飽和電子漂移速率和高鍵合能等優(yōu)點(diǎn),可以滿足現(xiàn)代電子技術(shù)對(duì)高溫、高功率、高壓、高頻以及抗輻射等惡劣條件的新要求,是半導(dǎo)體材料領(lǐng)域有前景的材料。
第三代半導(dǎo)體材料大多應(yīng)用在功率器件中,隨著功率器件的發(fā)展,對(duì)封裝產(chǎn)品的要求越來越高,產(chǎn)品厚度薄型化,體積小型化,功能多型化已成主流,大功率小體積的封裝技術(shù)需求市場(chǎng)越來越大,其大功率、高散熱、小體積順應(yīng)功率器件的發(fā)展趨勢(shì)。產(chǎn)品的功率在增加,功能在增多,對(duì)封裝芯片的集成度,芯片數(shù)量,器件散熱性能要求在不斷提高,而封裝體積則趨向小型化,為了達(dá)到這個(gè)目的就必須采用多芯片的堆疊封裝結(jié)構(gòu)且需要選用高導(dǎo)熱材質(zhì)作為封裝材料。
在GaN(氮化鎵)或SiC(氮化硅)采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件封裝過程中,由于大電流大電壓的存在,普通的粘片膠不能滿足導(dǎo)熱要求,使用焊料粘片又比較難實(shí)現(xiàn)芯片的堆疊封裝,為了實(shí)現(xiàn)封裝結(jié)構(gòu)小型化,且要保證散熱及提高器件的耐壓性能,需要開發(fā)一種新的器件結(jié)構(gòu)、運(yùn)用新的封裝材料來保證器件的可靠性。
為了解決這些問題,本發(fā)明提供了一種采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件及其制備方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)目的是解決至少上述問題和/或缺陷,并提供至少后面將說明的優(yōu)點(diǎn)。
本發(fā)明還有一個(gè)目的是提供采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件,其既能保證功率器件的散熱要求,又實(shí)現(xiàn)了大功率器件封裝結(jié)構(gòu)小型化。
本發(fā)明還有一個(gè)目的是提供采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件的制備方法,其制備過程簡(jiǎn)單易操作,環(huán)保無(wú)污染,制備出來的功率分立器件,其既能保證功率器件的散熱要求,又實(shí)現(xiàn)了大功率器件封裝結(jié)構(gòu)小型化。
為了實(shí)現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的這些目的和其它優(yōu)點(diǎn),本發(fā)明提供了采用多芯片堆疊結(jié)構(gòu)的功率分立器件,包括:
散熱基板;
至少兩個(gè)芯片,其分別粘接在所述散熱基板上,或者所述至少兩個(gè)芯片以堆疊的方式粘接在所述散熱基板上;
其中,所述至少兩個(gè)芯片與所述散熱基板之間,或者所述至少兩個(gè)芯片之間,均設(shè)有導(dǎo)電銀漿層;
其中,所述導(dǎo)電銀漿層的點(diǎn)膠圖案為星狀或者十字狀。
優(yōu)選的是,所述導(dǎo)電銀漿層為納米燒結(jié)銀漿層,所述納米燒結(jié)銀漿層的厚度為25um~50um。
優(yōu)選的是,所述至少兩個(gè)芯片包括第一芯片和第二芯片,所述第一芯片和所述第二芯片分別通過所述納米燒結(jié)銀漿層粘接在所述散熱基板上;或者所述第一芯片粘接在所述散熱基板上,所述第二芯片粘接在所述第一芯片上,所述第一芯片與所述散熱基板之間,所述第二芯片和所述第一芯片之間均通過所述納米燒結(jié)銀漿層粘接。
優(yōu)選的是,所述散熱基板上設(shè)置導(dǎo)通孔,所述導(dǎo)通孔中電鍍金屬層,或者加入銅柱;
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L25-00 由多個(gè)單個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)器件組成的組裝件
H01L25-03 .所有包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中同一小組內(nèi)的相同類型的器件,例如整流二極管的組裝件
H01L25-16 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個(gè)或多個(gè)不同大組內(nèi)的類型的器件,例如構(gòu)成混合電路的
H01L25-18 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個(gè)或多個(gè)同一大組的不同小組內(nèi)的類型的器件
H01L25-04 ..不具有單獨(dú)容器的器件
H01L25-10 ..具有單獨(dú)容器的器件
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺(tái)結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





