[發(fā)明專利]一種原始比特錯誤率感知的讀電平施加方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010650818.3 | 申請日： | 2020-07-08 |
| 公開（公告）號： | CN111858137A | 公開（公告）日： | 2020-10-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李禮;葉韜;吳佳 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海威固信息技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/10 | 分類號： | G06F11/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 上海海貝律師事務(wù)所 31301 | 代理人： | 王文鋒 |
| 地址： | 201702 上海市青*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 原始 比特 錯誤率 感知 電平 施加 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種原始比特錯誤率感知的讀電平施加方法。低密度奇偶校驗(yàn)碼(LDPC)被廣泛用于閃存糾錯，但LDPC軟譯碼需要多次讀取操作獲取軟信息，且無法準(zhǔn)確獲得所需要施加的讀電平數(shù)量，使得讀延遲具有不穩(wěn)定性，降低了閃存系統(tǒng)讀性能。本發(fā)明，首先利用上一次的譯碼結(jié)果和初始讀取結(jié)果獲知原始比特錯誤率和所施加的讀電平。然后建立原始比特錯誤率和讀電平之間的關(guān)系模型。最后當(dāng)再次對該信息進(jìn)行讀取時，利用模型直接施加所需要的讀電平數(shù)量獲取LDPC譯碼軟信息，從而提升閃存存儲系統(tǒng)讀性能。本發(fā)明利用原始比特錯誤率的變化，動態(tài)施加所需要的讀電平數(shù)量，消除冗余的譯碼迭代步驟，降低譯碼迭代延遲。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于固態(tài)盤存儲技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種原始比特錯誤率感知的讀電平施加方法。
背景技術(shù)
閃存具有大容量、高密度、低成本和非易失等特性廣泛用于智能手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)和筆記本電腦等電子產(chǎn)品中。數(shù)據(jù)以電荷的形式存儲在閃存單元中，存儲過程中會受擦寫周期、保存時間、編程和讀干擾的影響而發(fā)生錯誤。原始比特錯誤率逐漸增高，降低了閃存數(shù)據(jù)可靠性。
為了保證數(shù)據(jù)可靠性，低密度奇偶校驗(yàn)碼(Low-Density Parity-Check,LDPC)因采用軟譯碼具有優(yōu)異的糾錯性能被廣泛應(yīng)用。尤其對3D閃存而言，LDPC碼已經(jīng)成為提升數(shù)據(jù)可靠性有效的技術(shù)手段。但是LDPC軟譯碼需要施加多個讀電平進(jìn)行多次讀取以獲取軟信息，且無法準(zhǔn)確獲知需要施加的讀電平數(shù)目，使得讀延遲具有較大的波動性，降低了閃存整體的讀性能。
然而，現(xiàn)有的LDPC碼在進(jìn)行軟判決譯碼的過程中，一方面逐次施加讀電平直到成功譯碼為止，造成了不必要的譯碼延遲開銷。另一方面在兩個相鄰的閾值電壓窗口之間施加特定數(shù)目的讀電平獲取軟信息，造成額外的讀延遲開銷。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求，本發(fā)明提供了一種原始比特錯誤率感知的讀電平施加方法，其目的在于，當(dāng)對閃存頁中的數(shù)據(jù)執(zhí)行LDPC軟譯碼操作時，逐漸施加讀電平獲取軟信息，直到譯碼成功，并記錄此時讀電平的數(shù)目、譯碼結(jié)果和讀取的初始結(jié)果。將譯碼結(jié)果和初始結(jié)果進(jìn)行對比獲取原始比特錯誤率。建立原始比特錯誤率和讀電平之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系。在閃存塊擦除之前，對該閃存頁中的數(shù)據(jù)進(jìn)行再次讀取時，直接施加特定個數(shù)讀電平獲取軟信息進(jìn)行LDPC譯碼操作，避免重復(fù)的譯碼迭代操作和冗余的讀操作。本發(fā)明基于比特錯誤率的變化動態(tài)施加特定數(shù)目的讀電平獲取LDPC譯碼軟信息從而能夠解決冗余的譯碼迭代和讀次數(shù)引起的閃存讀性能下降的技術(shù)問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，按照本發(fā)明的一個方面，提供了一種原始比特錯誤率感知的讀電平施加方法，其是應(yīng)用在閃存系統(tǒng)中。具體技術(shù)方案如下：
一種原始比特錯誤率感知的讀電平施加方法，包括以下步驟：
(1)施加硬讀電壓對閃存頁進(jìn)行讀取以獲得比特流信息，標(biāo)記為：
(2)將比特流信息送入LDPC譯碼器中進(jìn)行迭代譯碼；
(3)如果譯碼成功，則輸出譯碼結(jié)果并記錄施加的讀電平；
(4)如果譯碼失敗，則增加兩個讀電平獲取兩組比特流信息，標(biāo)記為：
和
(5)根據(jù)和獲取LDPC譯碼軟信息，之后繼續(xù)執(zhí)行LDPC譯碼操作；
(6)重復(fù)執(zhí)行步驟(3)和(4)，直到譯碼成功為止；
(7)記錄譯碼成功后的比特流信息和所施加的電平數(shù)量，所施加的電平數(shù)量記為N；對比譯碼結(jié)果信息和初始讀取的比特流信息獲取原始比特錯誤率；
(8)建立原始比特錯誤率和讀電平之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系模型；
(9)對閃存塊擦除之前再次讀取閃存頁中的數(shù)據(jù)，判斷保存時間是否大于特定閾值；
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海威固信息技術(shù)股份有限公司，未經(jīng)上海威固信息技術(shù)股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
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