[發明專利]一種電壓電流相位測量校準設備在審
| 申請號: | 202010645999.0 | 申請日: | 2020-07-07 |
| 公開(公告)號: | CN111751618A | 公開(公告)日: | 2020-10-09 |
| 發明(設計)人: | 葉躍華 | 申請(專利權)人: | 廣東省計量科學研究院(華南國家計量測試中心) |
| 主分類號: | G01R25/00 | 分類號: | G01R25/00 |
| 代理公司: | 北京商專潤文專利代理事務所(普通合伙) 11317 | 代理人: | 許春蘭;熊雯 |
| 地址: | 510000 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電壓 電流 相位 測量 校準 設備 | ||
本發明公開了一種電壓電流相位測量校準設備,其包括有測量組件、測量范圍自動調整組件、模擬量數字量轉換組件、相位測量校準中央處理器組件、通信傳輸顯示組件和直流電源組件;所述測量組件的輸出端直接連接所述測量范圍自動調整組件的輸入端;所述模擬量數字量轉換組件的輸入端直接連接所述測量范圍自動調整組件的輸出端,所述模擬量數字量轉換組件的輸出端直接連接所述相位測量校準中央處理器組件的輸入端;所述通信傳輸顯示組件的輸入端直接連接所述相位測量校準中央處理器組件的輸出端。該電壓電流相位測量校準設備能夠實現電壓對電壓、電流對電流相位的校準。
技術領域
本發明涉及電力設備校準技術領域,具體地,涉及一種電壓電流相位測量校準設備。
背景技術
進入21世紀以來,隨著電力行業的飛速發展,為維護電力系統的安全與穩定,電力設備的校準越來越重要,電壓和電流的相位校準也越來越受到關注。而在國內相位校準設備行業中,長久以來只能進行同相間電壓對電流的相位校準和調整,不能進行兩相間電壓對電壓和電流對電流相位的調整。因此可進行兩相間電壓對電壓和電流對電流相位調整的電壓電流相位測量校準設備的應用前景非常好。
發明內容
為了改善現有技術的不足,本發明的目的在于提供了一種電壓電流相位測量校準設備,該電壓電流相位測量校準設備不僅實現兩相間電壓對電壓和電流對電流相位的調整,而且能夠大大節省員工勞動力,提高效率。
在本發明的實施例中提供了一種電壓電流相位測量校準設備,其包括有測量組件、測量范圍自動調整組件、模擬量數字量轉換組件、相位測量校準中央處理器組件、通信傳輸顯示組件和直流電源組件;所述測量組件的輸出端直接連接所述測量范圍自動調整組件的輸入端;所述模擬量數字量轉換組件的輸入端直接連接所述測量范圍自動調整組件的輸出端,所述模擬量數字量轉換組件的輸出端直接連接所述相位測量校準中央處理器組件的輸入端;所述通信傳輸顯示組件的輸入端直接連接所述相位測量校準中央處理器組件的輸出端。
所述測量組件包括測量組件輸入接口和測量組件輸出接口,所述測量組件輸入接口直接連接外部待測回路測量端子。
所述測量范圍自動調整組件包括測量范圍自動調整輸入接口,第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、第五電阻,單刀五擲開關,測量范圍自動調整輸出接口;所述單刀五擲開關包括動觸點,第一靜觸點、第二靜觸點、第三靜觸點、第四靜觸點、第五靜觸點和投擲刀閘;所述測量范圍自動調整輸入接口直接連接所述測量組件輸出接口;所述第一電阻的一端直接連接所述測量范圍自動調整輸入接口,所述第一電阻的另一端直接連接所述單刀五擲開關的第一靜觸點;所述第二電阻的一端直接連接所述測量范圍自動調整輸入接口,所述第二電阻的另一端直接連接所述單刀五擲開關的第二靜觸點;所述第三電阻的一端直接連接所述測量范圍自動調整輸入接口,所述第三電阻的另一端直接連接所述單刀五擲開關的第三靜觸點;所述第四電阻的一端直接連接所述測量范圍自動調整輸入接口,所述第四電阻的另一端直接連接所述單刀五擲開關的第四靜觸點;所述第五電阻的一端直接連接所述測量范圍自動調整輸入接口,所述第五電阻的一端還直接連接所述單刀五擲開關的第五靜觸點,所述第五電阻的另一端直接連接地;所述投擲刀閘的一端直接連接所述單刀五擲開關的動觸點,所述投擲刀閘的另一端可選擇連接所述單刀五擲開關第一靜觸點、第二靜觸點、第三靜觸點、第四靜觸點和第五靜觸點中的一個;所述單刀五擲開關的動觸點還直接連接所述測量范圍自動調整輸出接口。
所述模擬量數字量轉換組件包括模擬量輸入接口、第一運算放大器、第一二極管、滑動變阻器、濾波器和數字量輸出接口;所述模擬量輸入接口直接連接所述測量范圍自動調整輸出接口,所述模擬量輸入接口還直接連接所述第一運算放大器的輸入端;所述第一運算放大器的輸出端直接連接所述第一二極管的陽極,所述第一二極管的陰極直接連接所述滑動變阻器的一端;所述滑動變阻器的另一端直接連接地,所述滑動變阻器的滑動端直接連接所述濾波器的一端;所述濾波器的另一端直接連接地,所述濾波器的另一端還直接連接所述數字量輸出接口。
所述相位測量校準中央處理器組件包括整形模塊、JK觸發器模塊和鑒相模塊。
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