[發明專利]一種測量設備及方法

有效

• 申請號: 202010638408.7
• 申請日: 2020-07-06
• 公開（公告）號: CN111896804B
• 公開（公告）日: 2023-05-09
• 發明（設計）人: 楊志凌;薛運林;代金錢
• 申請（專利權）人: 優利德科技（中國）股份有限公司
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02;G01R29/02
• 代理公司: 東莞市興邦知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 44389
• 代理人: 馮思婷

本發明提供了一種測量設備，包括：第一測量電路，用于根據輸入信號獲取頻率信號；第二測量電路，用于根據輸入信號獲取占空比信號；開關電路，與所述第二測量電路相連；控制電路，其與所述開關電路相連，用于控制所述開關電路與所述第二測量電路耦接或斷開；處理電路，其輸入端與所述第一測量電路以及第二測量電路相連，所述處理電路用于處理由所述第一測量電路或第二測量電路輸出的頻率信號或占空比信號以獲得所述頻率信號的頻率值或占空比信號的占空比值。根據本發明上述實施例所述的測量設備可以分別獲取用于測量頻率的頻率信號以及用于測量占空比的占空比信號并最終獲得相應值，最終實現頻率和占空比信號類型的區分和識別以提高測量的準確度。

技術領域

本發明涉及通用測量領域，具體涉及一種測量設備及方法。

背景技術

信號的頻率以及占空比測量對分析信號具有十分重要的意義，信號的頻率也叫頻率信號，是指信號在周期內的變化時間，占空比表示周期內波形正峰或負峰所占的百分比％，通常采用萬用表來測量信號的頻率和占空比。

萬用表為了測量這些信號需引入信號整形技術，信號整形技術通過近二十年的發展，經歷了原有的外掛觸發電路到運放整形，直到目前的ADC+MCU技術的演變過程。其中，外掛觸發電路核心原理是采用單穩態觸發器技術，通過施密特觸發器完成頻率、占空比測量；隨著萬用表行業的發展，除單穩觸器技術外，還有些采用時基觸發器電路、運算放大器電路實現頻率整形測量，目前這些技術早已融入一體化數字萬表中。隨著芯片集成技術的發展，到目前為止，原外掛的單穩、時基觸發等處理技術早已集成一體化，即采用高速ADC+MCU技術。

但本申請發明人在實現本申請實施例中發明技術方案的過程中，發現上述技術中無論是外掛電路、整形處理技術或是集成ADC處理技術，都存在頻率測量和占空比測量準確度的問題，如何保證頻率信號和占空比信號測量更準確成了目前儀表行業需要共同解決的問題。

發明內容

鑒于上述頻率測量和占空比測量準確度不高的問題，提出了本發明以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的一種測量設備及方法。

依據本發明的一個方面，提供一種測量設備，包括：

第一測量電路，用于根據輸入信號獲取頻率信號；

第二測量電路，用于根據輸入信號獲取占空比信號；

開關電路，其與所述第二測量電路相連；

控制電路，其與所述開關電路相連，用于控制所述開關電路與所述第二測量電路耦接或斷開；

處理電路，其輸入端與所述第一測量電路以及第二測量電路相連，所述處理電路用于處理由所述第一測量電路或第二測量電路輸出的頻率信號或占空比信號以獲得所述頻率信號的頻率值或占空比信號的占空比值。

可選的，所述測量設備，其中：

當所述控制電路輸出第一電平時，所述開關電路與所述第二測量電路斷開，所述處理電路與所述第一測量電路耦接；

當所述控制電路輸出第二電平時，所述開關電路與所述第二測量電路耦接，所述處理電路與所述開關電路耦接。

可選的，所述測量設備還包括：

顯示組件，其與所述控制電路耦接，所述顯示組件配置為接收所述輸入信號的頻率值或占空比值并進行相應顯示；其中，

所述控制電路與所述處理電路的輸出端耦接，用于接收經所述處理電路輸出的所述輸入信號的頻率值或占空比值。

可選的，所述測量設備還包括：

輸入組件，與所述控制電路連接，所述輸入組件配置為接收用戶的輸入信息并根據所述輸入信息指令所述控制電路輸出第一電平或第二電平。

可選的，所述測量設備中：