[發明專利]一種光學系統空間分辨率的手動測試方法有效
| 申請號： | 202010637061.4 | 申請日： | 2020-07-03 |
| 公開（公告）號： | CN111879799B | 公開（公告）日： | 2022-08-26 |
| 發明（設計）人： | 齊子誠;唐盛明;倪培君;李曉靜;王若蘭;鄭穎;郭智敏;左欣;付康;張榮繁;李紅偉;喬日東;張維國 | 申請（專利權）人： | 中國兵器科學研究院寧波分院 |
| 主分類號： | G01N23/046 | 分類號： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 寧波誠源專利事務所有限公司 33102 | 代理人： | 袁忠衛;方寧 |
| 地址： | 315103 浙*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光學系統 空間 分辨率 手動 測試 方法 | ||
1.一種光學系統空間分辨率的手動測試方法，其特征在于：用于手動測量線陣工業CT系統或面陣工業CT系統中的極限空間分辨率，包括以下步驟：
步驟1、通過機械化加工手段制造待測試模體；其中，待測試模體為兩個材質與尺寸均相同的圓柱形或球形測試塊；
步驟2、將步驟1中的兩測試塊貼合在一起，并對貼合在一起的兩測試塊進行CT掃描，獲得兩測試塊截面對應的CT圖像；
步驟3、在CT圖像中任意框選一個測試塊或兩個測試塊中的內部區域，并計算出框選區域內的灰度值均值T；
步驟4、將CT圖像中兩圓圓心分別記為A1和A2，做一條垂直且等分線段A1A2的線段L；
步驟5、提取該線段L上的灰度分布，并繪制成灰度分布曲線；
步驟6、在步驟5中的灰度分布曲線上繪制灰度值為K的直線P，該直線P與線段L上的灰度值相交于B1和B2兩點；
步驟7、計算B1和B2兩點之間的距離h，單位為：毫米；
步驟8、根據測試塊的直徑d和步驟7中的距離h，計算得到最小識別間隙a，d和a的單位均為：毫米，計算公式為：
步驟9、根據步驟8中得到的最小識別間隙a，計算出該即為調制度MTF＝10％下對應的線對數，該線對數為極限空間分辨率。
2.根據權利要求1所述的光學系統空間分辨率的手動測試方法，其特征在于：所述步驟3中框選的區域小于測試塊對應的圓截面的三分之二。
3.根據權利要求1所述的光學系統空間分辨率的手動測試方法，其特征在于：所述步驟3中框選的區域為圓形或矩形。
4.根據權利要求1所述的光學系統空間分辨率的手動測試方法，其特征在于：所述步驟6中K的取值范圍為50％T～55％T。
5.根據權利要求4所述的光學系統空間分辨率的手動測試方法，其特征在于：所述步驟6中K的取值為52％T。
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