[發明專利]一種建筑軸線控制檢測方法

在審

• 申請號: 202010634628.2
• 申請日: 2020-07-04
• 公開（公告）號: CN111750841A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 姜兆雙;郭建平;王偉林
• 申請（專利權）人: 北京首鋼建設集團有限公司
• 主分類號: G01C15/00
• 分類號: G01C15/00
• 代理公司: 北京華誼知識產權代理有限公司 11207
• 代理人: 劉月娥

一種建筑軸線控制檢測方法，屬于多層框架結構安裝施工技術領域。將簡易測量裝置放置在每根框架柱的頂部，然后放下三個吊墜，當端部兩個吊墜與首層地面的兩個測量圓點重合時，依照兩點成一線的原理，此時第三個吊墜落點即是建筑軸線點。優點在于，簡單易操作，利用簡易測量裝置及兩點成一線原理，有效地控制了每層框架的建筑軸線，避免了長期使用測量儀器及專業測量人員，節省了人力物力，大大降低了施工成本。

技術領域

本發明屬于多層框架結構安裝施工技術領域，特別是提供了一種建筑軸線控制檢測方法。

背景技術

多層框架結構施工時，對于建筑軸線的控制一般都采取測量儀器往上進行返點坐標控制，需要專業的測量人員長期配合，且測量操作不當也會產生一定的誤差，后期調整費工費時，加大了實干成本。

發明內容

本發明的目的在于提供一種建筑軸線控制檢測方法，將簡易測量裝置放置在每根框架柱的頂部，然后放下三個吊墜，當端部兩個吊墜與首層地面的兩個測量圓點重合時，依照兩點成一線的原理，此時第三個吊墜落點即是建筑軸線點。具體步驟如下：

第一步，先加工制作一簡易測量裝置，該裝置由兩根立柱2及一根橫梁1組成，在橫梁1的中心線上開設三個圓孔，并在每個圓孔上設置第一個吊墜3、第二個吊墜4、第三個吊墜5(圖1、圖2)；

第二步，在廠房6的首層地面利用測量儀器標出建筑定位軸線點，并在每個定位軸線點軸線的水平方向標出間距與測量裝置上三個圓孔等距離的兩個測量圓點7，使兩個測量圓點7與建筑軸線點在一條直線上(圖3)；

第三步，在首層框架結構安裝完畢后，將簡易測量裝置放置在每根框架柱8的頂部，然后同時放下第一個吊墜3、第二個吊墜4、第三個吊墜5，當端部第二個吊墜4、第三個吊墜5與首層地面的兩個測量圓點7重合時，依照兩點成一線的原理，此時第一個吊墜3落點即是建筑軸線點，按照此方法將首層框架柱8上所有的建筑軸線點檢測出來，然后依據檢測出的建筑軸線點調整框架柱8和框架梁9，使框架結構達到允許偏差范圍。以此方法直到安裝調整完整體多層框架結構，減少累積誤差，滿足整體建筑軸線要求(圖4、圖5)。

本發明的優點在于，簡單易操作，利用簡易測量裝置及兩點成一線原理，有效地控制了每層框架的建筑軸線，避免了長期使用測量儀器及專業測量人員，節省了人力物力，大大降低了施工成本，為公司取得了良好的經濟效益。

附圖說明

圖1為簡易測量裝置主視圖。

圖2為簡易測量裝置俯視圖。

圖3為廠房地面建筑軸線及測量圓點俯視圖。

圖4為簡易測量裝置放置在首層框架上主視圖。

圖5為簡易測量裝置測量使用主視圖。

圖中，橫梁1、立柱2、第一個吊墜3、第二個吊墜4、第三個吊墜5、廠房6、測量圓點7、框架柱8、框架梁9。

具體實施方式

圖1-圖5為本發明的一種具體實施方式。具體實施方式如下：

第一步，先加工制作一簡易測量裝置，該裝置由兩根立柱2及一根橫梁1組成，在橫梁1的中心線上開設三個圓孔，并在每個圓孔上設置第一個吊墜3、第二個吊墜4、第三個吊墜5；

第二步，在廠房6的首層地面利用測量儀器標出建筑定位軸線點，并在每個定位軸線點軸線的水平方向標出間距與測量裝置上三個圓孔等距離的兩個測量圓點7，使兩個測量圓點7與建筑軸線點在一條直線上；