[發明專利]一種偏光片透過軸的檢測裝置及其檢測方法

有效

• 申請號: 202010632764.8
• 申請日: 2020-07-02
• 公開（公告）號: CN111855151B
• 公開（公告）日: 2022-03-08
• 發明（設計）人: 劉洋
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 遠明

1.一種偏光片透過軸的檢測裝置，其特征在于，包括

背光源；

檢測單元，位于所述背光源的一側，所述檢測單元包括第一檢測偏光片及第二檢測偏光片，所述第一檢測偏光片具有第一吸收軸和第一透過軸，所述第一吸收軸和第一透過軸的位置為已知的；所述第二檢測偏光片具有第二吸收軸和第二透過軸；

光譜儀，設于所述檢測單元遠離所述背光源的一側，所述光譜儀用于獲取所述第二檢測偏光片的轉動角度和所述第二檢測偏光片在不同轉動角度下所述背光源穿過所述第一檢測偏光片和所述第二檢測偏光片的光線的亮度，以及基于二分法根據所述第二檢測偏光片的轉動角度和光線亮度計算透過軸或吸收軸位于的區間位置和控制所述第二檢測偏光片的轉動角度：

檢測時，保持所述第一檢測偏光片不動，在所述第二檢測偏光片上任取一以所述第二檢測偏光片的中心點為端點的線為基準線，以所述基準線相對第一偏光片的初始位置為基準位置；

以所述第二檢測偏光片的所述基準線為基準，從所述基準位置，按照預設轉動方向轉動所述第二檢測偏光片，使得所述基準線到第一位置，轉動角度為任意角度θ1，同時測量光線亮度L1，所述光譜儀記錄此時基準線相對于基準位置的角度和光線亮度(θ1，L1)并標記為第一參數；

將所述第二檢測偏光片從所述第一位置按照所述預設轉動方向轉動，使得所述基準線到第二位置，轉動角度為預設角度θ2，同時測量光線亮度L2，記錄此時基準線相對于基準位置的角度和光線亮度(θ1+θ2，L2)，并標記為第二參數；

測量所述基準線在第一位置和所述第二位置時形成的夾角的第一中心線，計算所述第一中心線位置相對于基準位置的角度：θ1+0.5×θ2；將所述第二檢測偏光片轉動到所述基準線至所述第一中心線位置，并測量此時的光線亮度L3，記錄此時所述基準線相對于基準位置的角度和光線亮度(θ1+1/2θ2，L3)，并標記為第三參數；

計算ΔL＝|L1-L3|-|L2-L3|；判斷ΔL是否大于0，若是，則判斷最大亮度位置或最小亮度位置在所述第二位置和所述第一中心線位置所形成的夾角內；若否，則判斷最大亮度位置或最小亮度位置在所述第一位置和所述第一中心線位置所形成的夾角內；

若判斷出最大亮度位置或最小亮度位置在所述第二位置和所述第一中心線位置所形成的夾角內，將第三參數轉變為所述第一參數，第二參數不變，再次計算所述基準線在所述第二位置和所述第一中心線位置所形成的夾角的第二中心線，所述第二中心線相對于基準位置的角度為θ1+0.75×θ2，將所述第二檢測偏光片的所述基準線轉動到所述第二中心線位置，并測量此時的光線亮度L4，記錄此時所述基準線相對于基準位置的角度和光線亮度(θ1+0.75×θ2，L4)，并標記為新的第三參數；若判斷出最大亮度位置或最小亮度位置在所述第一位置和所述第一中心線位置所形成的夾角內，將第一參數不變，第三參數轉變為第二參數，再次計算所述基準線在所述第一位置和所述第一中心線位置所形成的夾角的第二中心線，所述第二中心線相對于基準位置的角度為θ1+0.25×θ2，將所述第二檢測偏光片的所述基準線轉動到所述第二中心線位置，并測量此時的光線亮度L4，記錄此時所述基準線相對于基準位置的角度和光線亮度(θ1+0.25×θ2，L4)，并標記為新的第三參數；計算ΔL判斷最大亮度位置或最小亮度位置所在夾角；

再進行若干次將夾角兩端的角度位置及位置所在處的亮度分別轉變所述第一參數和第二參數，夾角中心線分割并標記中心線位置的角度和亮度為新的第三參數，計算ΔL判斷最大亮度位置或最小亮度位置所在夾角，并且在進行夾角中心線分割時同時計算夾角值；

直至夾角值＜0.2時，確定所述基準線在其夾角的中心線位置時為最大亮度位置或最小亮度位置處，最大亮度時，與所述第一透過軸平行的以所述第二檢測偏光片的中心點為端點的線為第二透過軸；最小亮度時，與所述第一吸收軸平行的以所述第二檢測偏光片的中心點為端點的線為第二吸收軸。

2.根據權利要求1所述的偏光片透過軸的檢測裝置，其特征在于，所述θ2大于90°并小于180°。