[發明專利]一種污染物監測數據的處理方法、裝置、存儲介質及終端有效
| 申請號: | 202010631899.2 | 申請日: | 2020-07-03 |
| 公開(公告)號: | CN111798932B | 公開(公告)日: | 2021-06-15 |
| 發明(設計)人: | 林久人;劉慧靈;周政男;晏平仲;秦東明;陸濤 | 申請(專利權)人: | 中科三清科技有限公司 |
| 主分類號: | G16C20/30 | 分類號: | G16C20/30;G16C20/40;G16C20/70 |
| 代理公司: | 北京辰權知識產權代理有限公司 11619 | 代理人: | 付婧 |
| 地址: | 100193 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 污染物 監測 數據 處理 方法 裝置 存儲 介質 終端 | ||
1.一種污染物監測數據的處理方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取污染物監測數據,所述污染物監測數據中攜帶有用于標識當前污染物類型的污染物類型信息,所述污染物類型包括第一類污染物和第二類污染物,所述第一類污染物為顆粒物污染物,所述第二類污染物為至少包括臭氧的具有強氧化性的污染物;
根據所述污染物類型信息,匹配對應的分析模型,所述分析模型包括與所述第一類污染物對應的第一分析模型和與所述第二類污染物對應的第二分析模型;
所述根據所述污染物類型信息,匹配對應的分析模型包括:
在所述污染物類型信息標識當前污染物為所述顆粒物污染物的情況下,則匹配所述第一分析模型,所述第一分析模型包括用于進行第一相關分析的第一分析子模型、用于進行成因分析的第二分析子模型、用于進行第一來源解析的第三分析子模型和用于進行第一氣象條件分析的第四分析子模型;或者,
在所述污染物類型信息標識當前污染物為至少包括臭氧的具有強氧化性的污染物的情況下,則匹配所述第二分析模型,所述第二分析模型包括用于進行揮發性有機物組分分析的第五分析子模型、用于進行第二來源解析的第六分析子模型、用于進行第二相關分析的第七分析子模型和用于進行第二氣象條件分析的第八分析子模型;
將與當前污染物對應的當前污染物監測數據輸入至對應的分析模型進行數據分析,得到對應的分析結果,所述分析結果中攜帶有污染物來源解析數據,所述分析結果中攜帶有顆粒物來源解析數據,針對污染物來源的解析結果包括顆粒物污染物的組分、各個組分下的顆粒物污染物的各個來源、各個來源的貢獻權重值和各個來源的貢獻濃度數值。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述將與當前污染物對應的當前污染物監測數據輸入至對應的分析模型進行數據分析,得到對應的分析結果包括:
在當前污染物為所述顆粒物污染物、且對應的分析模型為所述第一分析模型的情況下,將當前顆粒物污染物對應的第一監測數據輸入至所述第一分析模型進行數據分析,得到對應的分析結果;或者,
在當前污染物為具有強氧化性的污染物、且對應的分析模型為所述第二分析模型的情況下,將當前具有強氧化性的污染物對應的第二監測數據輸入至所述第二分析模型進行數據分析,得到對應的分析結果。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述將當前顆粒物污染物對應的第一監測數據輸入至所述第一分析模型進行數據分析,得到對應的分析結果包括:
對所述第一監測數據分析,得到當前顆粒物污染物的顆粒物屬性,所述顆粒物屬性包括第一屬性、第二屬性和第三屬性,所述第一屬性用于表征當前顆粒物污染物的組分特征、所述第二屬性用于表征當前顆粒物污染物的粒徑分布特征、所述第三屬性用于表征當前顆粒物污染物的光學特征;
根據所述顆粒物屬性,通過所述第一分析子模型對當前顆粒物污染物進行第一相關分析,得到對應的分析結果;和/或,
根據所述顆粒物屬性,通過所述第二分析子模型對當前顆粒物污染物進行成因分析,得到對應的分析結果;和/或,
根據所述顆粒物屬性,通過所述第三分析子模型對當前顆粒物污染物進行第一來源解析,得到對應的分析結果。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述將當前顆粒物污染物對應的第一監測數據輸入至所述第一分析模型進行數據分析,得到對應的分析結果還包括:
從所述第一監測數據中提取第一氣象條件數據;
根據所述第一氣象條件數據,通過所述第四分析子模型對當前顆粒物污染物進行氣象條件分析,得到對應的攜帶有第一氣象數據的分析結果;
其中,所述第一氣象數據包括以下至少一項:
第一氣象參考數據、第一微波輻射計測試數據、第一風廓線雷達測試數據和第一大氣穩定度數據。
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