[發(fā)明專利]一種LED顯示模組芯片的ESD測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010631107.1
• 申請(qǐng)日: 2020-07-03
• 公開（公告）號(hào): CN111899679B
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐惠能;賴敏誠(chéng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廈門強(qiáng)力巨彩光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00;G01R31/00
• 代理公司: 廈門市新華專利商標(biāo)代理有限公司 35203
• 代理人: 渠述華

本發(fā)明公開了一種LED顯示模組芯片的ESD測(cè)試方法，其在放電電極進(jìn)行放電時(shí)，同時(shí)是將放電槍的放電電極的尖端在LED顯示模組的芯片的各引腳正上方來回移動(dòng)。本發(fā)明在操作上更加簡(jiǎn)單快速，測(cè)試效率更高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及LED顯示屏領(lǐng)域，特別是指一種LED顯示模組芯片的ESD測(cè)試方法。

背景技術(shù)

在LED顯示屏的LED顯示模組生產(chǎn)過程中，需要對(duì)LED顯示模組的芯片進(jìn)行ESD測(cè)試（靜電放電測(cè)試），以驗(yàn)證LED顯示模組的芯片是否滿足靜電防護(hù)等級(jí)要求。目前對(duì)LED顯示模組的芯片進(jìn)行ESD測(cè)試，要對(duì)芯片的各引腳逐一進(jìn)行靜電放電測(cè)試；其中對(duì)芯片的每個(gè)引腳進(jìn)行靜電放電測(cè)試時(shí)，要將靜電放電發(fā)生器的槍頭抵靠在芯片的引腳上，然后進(jìn)行電壓值由低到高的接觸放電；由于需要將靜電放電發(fā)生器的槍頭抵靠在芯片的引腳上，且需要對(duì)芯片的各引腳逐一進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試費(fèi)時(shí)費(fèi)力，嚴(yán)重影響測(cè)試效率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種LED顯示模組芯片的ESD測(cè)試方法，其測(cè)試效率高。

為了達(dá)成上述目的，本發(fā)明的解決方案是：

一種LED顯示模組芯片的ESD測(cè)試方法，其包括如下步驟：

步驟一：將LED顯示模組進(jìn)行有效接地，并將LED顯示模組點(diǎn)亮；

步驟二：將靜電放電發(fā)生器的放電模式調(diào)整為接觸放電模式，并將靜電放電發(fā)生器的測(cè)試條件設(shè)定為多個(gè)預(yù)設(shè)放電條件中的一種，所述預(yù)設(shè)放電條件包括測(cè)試電壓、電壓極性、放電次數(shù)以及放電間隔時(shí)間；且其中靜電放電發(fā)生器的放電槍安裝的放電電極為圓錐形放電電極；

步驟三：觸發(fā)靜電發(fā)生器的放電槍開關(guān)而使得放電槍的放電電極放電，同時(shí)將放電槍的放電電極的尖端在LED顯示模組的芯片的各引腳正上方來回移動(dòng)，直至放電槍放電結(jié)束；其中將放電槍的放電電極的尖端在LED顯示模組的芯片的各引腳正上方來回移動(dòng)時(shí)，放電槍的放電電極尖端與芯片各引腳的高度差大于零且小于等于2mm；

步驟四：若在步驟三結(jié)束后，LED顯示模組工作出現(xiàn)異常，則結(jié)束測(cè)試；

而若在步驟三結(jié)束后，LED顯示模組正常工作，則先將靜電放電發(fā)生器的測(cè)試條件中的電壓極性調(diào)整為相反極性后重復(fù)步驟三；在重復(fù)步驟三后，若LED顯示模組工作出現(xiàn)異常，則結(jié)束測(cè)試；而若在重復(fù)步驟三后，LED顯示模組正常工作，則進(jìn)入步驟五：

步驟五：將靜電放電發(fā)生器的測(cè)試條件依次調(diào)整為其他的預(yù)設(shè)放電條件，并重復(fù)步驟三和步驟四；其中后一個(gè)預(yù)設(shè)放電條件的測(cè)試電壓的絕對(duì)值要大于前一個(gè)預(yù)設(shè)放電條件的測(cè)試電壓的絕對(duì)值。

所述放電槍的放電電極的尖端在LED顯示模組的芯片的各引腳正上方來回移動(dòng)時(shí)，放電電極垂直于芯片的各引腳所在平面。

各所述預(yù)設(shè)放電條件中的放電次數(shù)和放電間隔時(shí)間相同。

采用上述方案后，本發(fā)明具有以下特點(diǎn)：

1、本發(fā)明在放電電極進(jìn)行放電時(shí)，是將放電槍的放電電極的尖端在LED顯示模組的芯片的各引腳正上方來回移動(dòng)，直至放電槍放電結(jié)束，這使得本發(fā)明相比較現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明在操作上更加簡(jiǎn)單快速，測(cè)試效率更高。

2、本發(fā)明在放電電極進(jìn)行放電時(shí)，放電槍的放電電極的尖端是在LED顯示模組的芯片的各引腳正上方來回移動(dòng)，放電槍的放電電極釋放的高壓電需要擊穿空氣后才能輸入芯片的引腳，而且放電槍的放電電極釋放的高壓電擊穿空氣后能輸入芯片的多個(gè)引腳中，這使得本發(fā)明更能模擬實(shí)際場(chǎng)景中人體或物體對(duì)芯片的靜電放電形式。

具體實(shí)施方式

為了進(jìn)一步解釋本發(fā)明的技術(shù)方案，下面通過具體實(shí)施例來對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)闡述。

本發(fā)明揭示了一種LED顯示模組芯片的ESD測(cè)試方法，其包括如下步驟：