[發(fā)明專利]物位計(jì)、測量方法及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010630917.5
• 申請日: 2020-07-03
• 公開（公告）號: CN111765946A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 呼秀山;夏陽
• 申請（專利權(quán)）人: 呼秀山;夏陽
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京庚致知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11807
• 代理人: 李偉波;韓德凱

1.一種物位計(jì)，其特征在于，所述物位計(jì)包括天線，所述天線包括：

至少一個(gè)發(fā)射天線，用于形成發(fā)射波，其中所述發(fā)射波經(jīng)由對象反射而形成回波；以及

兩個(gè)以上的接收天線，用于接收來自一個(gè)對象反射而形成的回波信號，其中所述兩個(gè)以上的接收天線的波瓣角度設(shè)置為彼此不同，從而基于所述兩個(gè)以上的接收天線所接收的所述回波信號的能量差值、以及所述回波信號的距離，來確定所述一個(gè)對象的角度。

2.如權(quán)利要求1所述的物位計(jì)，其特征在于，所述兩個(gè)以上的接收天線同時(shí)接收所述回波信號，并且對所述兩個(gè)以上的接收天線接收的所述回波信號同時(shí)進(jìn)行處理，以得到所述能量差值。

3.如權(quán)利要求1所述的物位計(jì)，其特征在于，所述兩個(gè)以上的接收天線分時(shí)接收所述回波信號，并且對所述兩個(gè)以上的接收天線接收的所述回波信號分時(shí)進(jìn)行處理，以得到所述能量差值。

4.如權(quán)利要求1所述的物位計(jì)，其特征在于，所述兩個(gè)以上的接收天線的設(shè)置角度不同，而使得所述兩個(gè)以上的接收天線的主波瓣角度彼此不同。

5.如權(quán)利要求1所述的物位計(jì)，其特征在于，所述兩個(gè)以上的接收天線為結(jié)構(gòu)彼此不同的天線，而使得所述兩個(gè)以上的接收天線的主波瓣角度彼此不同。

6.一種測量系統(tǒng)，其特征在于，包括：

如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的物位計(jì)；

顯示裝置，根據(jù)所述物位計(jì)的測量信息來實(shí)時(shí)更新所顯示的信息；以及

通信裝置，用于實(shí)現(xiàn)所述物位計(jì)與所述顯示裝置之間的雙向通信。

7.一種測量方法，其特征在于，包括：

通過至少一個(gè)發(fā)射天線形成發(fā)射波；

所述發(fā)射波經(jīng)由一個(gè)對象反射后形成回波信號；

通過兩個(gè)以上的接收天線接收所述回波信號，其中所述兩個(gè)以上的接收天線的主波瓣角度設(shè)置為彼此不同；以及

基于所述兩個(gè)以上的接收天線所接收的所述回波信號的能量差值、以及所述回波信號的距離，來確定所述一個(gè)對象所處的角度。

8.一種物位計(jì)，其特征在于，所述物位計(jì)包括微帶天線及微波透鏡，所述微帶天線包括至少一個(gè)發(fā)射天線和兩個(gè)以上的接收天線：

所述至少一個(gè)發(fā)射天線，用于形成發(fā)射波，其中所述發(fā)射波經(jīng)由對象反射而形成回波，

所述兩個(gè)以上的接收天線，用于接收來自一個(gè)對象反射而形成的回波信號，通過所述兩個(gè)以上的接收天線接收的回波信號之間的相位差，來確定所述回波信號是否為來自作為干擾物的一個(gè)對象的反射后的回波信號，

所述微波透鏡用于會聚所述發(fā)射波的波束及所述回波的波束，所述至少一個(gè)發(fā)射天線與所述兩個(gè)以上的接收天線位于所述微波透鏡的一側(cè)，而所述對象位于所述微波透鏡的另一側(cè)。

9.如權(quán)利要求8所述的物位計(jì)，其特征在于，所述兩個(gè)以上的接收天線的波瓣角度設(shè)置為彼此不同，從而基于所述兩個(gè)以上的接收天線所接收的所述回波信號的能量差值、所述回波信號的距離、以及基于回波信號之間的相位差得到的角度范圍，來確定所述一個(gè)對象的角度。

10.一種測量系統(tǒng)，其特征在于，包括：

如權(quán)利要求8或9所述的物位計(jì)；

顯示裝置，根據(jù)所述物位計(jì)的測量信息來實(shí)時(shí)更新所顯示的信息；以及

通信裝置，用于實(shí)現(xiàn)所述物位計(jì)與所述顯示裝置之間的雙向通信。