[發明專利]代碼移位計算電路以及代碼位移值的計算方法

在審

• 申請號: 202010630326.8
• 申請日: 2020-07-03
• 公開（公告）號: CN113889171A
• 公開（公告）日: 2022-01-04
• 發明（設計）人: 道岡義久
• 申請（專利權）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號: G11C29/02
• 分類號: G11C29/02;G11C29/50
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 朱穎;劉芳

本發明提供一種代碼移位計算電路以及代碼位移值的計算方法。代碼移位計算電路的第一運算電路依據溫度差值以及驅動強度代碼對溫度的第一變化率來產生第一輸出值，其中溫度差值為獲取先前ZQ命令時的先前溫度與獲取當前ZQ命令時的當前溫度之間的差值。代碼移位計算電路的第二運算電路依據電壓差值以及驅動強度代碼對電壓的第二變化率來產生第二輸出值，其中電壓差值為獲取先前ZQ命令時的先前工作電壓與獲取當前ZQ命令時的當前工作電壓之間的差值。代碼移位計算電路的第三運算電路對第一輸出值以及第二輸出值進行加總以產生位移值，借此調整通過ZQ校準的驅動強度代碼。

技術領域

本發明涉及ZQ校準，尤其涉及代碼移位計算電路以及代碼位移值的計算方法。

背景技術

隨著電子設備的操作速度增加，在電子設備內的半導體存儲裝置之間傳送的信號的擺動寬度(swing width)減小，以最小化傳送信號所花費的延遲時間。然而，隨著擺動寬度減小，信號傳送在更大程度上受外部噪聲影響，并且在接口端的信號反射由于阻抗不匹配而增加。阻抗不匹配由制造過程、供應電壓以及操作溫度(Process-Voltage-Temperature，PVT)的變化引起。阻抗不匹配將使得從半導體存儲裝置輸出的信號失真，在接收失真的信號的相對應的半導體存儲裝置中可導致如設置/保持失敗(set up/holdfailure)或信號水平誤判的故障。為了要互相匹配傳輸線的阻抗與輸出電路的輸出阻抗，必須調整半導體存儲裝置的輸出阻抗以便匹配傳輸線的阻抗。

ZQ校準電路用以調整半導體存儲裝置的輸出阻抗，并提供ZQ接腳來作為半導體存儲裝置中的ZQ校準端子。外部ZQ校準命令，例如ZQCS(ZQ Calibration Short)命令被輸入至ZQ接腳之內。當輸入外部ZQ校準命令時，ZQ校準操作在此命令所界定的周期內執行，以利用所產生的代碼來改變輸出驅動器的電阻值。為了提高ZQ校準后輸出驅動器的電阻精度，可以采取提高分辨率(improve resolution)的做法，也就是增加代碼的方式。然而，由于ZQCS命令所界定的周期較短，若是在增加一個ZQCS命令可以移動的代碼的寬度下來提高分辨率，則可能導致信號傳輸不符合規范(即ZQCS命令所界定的周期)的風險。相對地，若是在不增加一個ZQCS命令可以移動的代碼的寬度的前提下來提高分辨率，將難以消除由溫度變化或電壓變化所帶來的輸出阻抗的變化。

因此，需要其他的解決方案，以在不增加一個ZQCS命令可以移動的代碼的寬度的前提下來提高分辨率，并消除由溫度變化或電壓變化所帶來的輸出阻抗的變化，即由溫度變化或電壓變化所帶來的驅動強度代碼的偏差。

發明內容

本發明提供一種代碼移位計算電路以及代碼位移值的計算方法，可以借由位移通過ZQ校準的驅動強度代碼，來消除由溫度變化或電壓變化所帶來的驅動強度代碼的偏差。

本發明的代碼移位計算電路用以產生位移值以調整通過ZQ校準的驅動強度代碼。代碼移位計算電路包括第一運算電路、第二運算電路以及第三運算電路。第一運算電路用以依據溫度差值以及驅動強度代碼對溫度的第一變化率來產生第一輸出值。其中，溫度差值為獲取先前ZQ命令時的先前溫度與獲取當前ZQ命令時的當前溫度之間的差值。第二運算電路用以依據電壓差值以及驅動強度代碼對電壓的第二變化率來產生第二輸出值。其中，電壓差值為獲取先前ZQ命令時的先前工作電壓與獲取當前ZQ命令時的當前工作電壓之間的差值。第三運算電路用以對第一輸出值以及第二輸出值進行加總以產生位移值，借此調整驅動強度代碼。

本發明的代碼位移值的計算方法用以產生位移值以調整通過ZQ校準的驅動強度代碼。所述方法包括：依據溫度差值以及驅動強度代碼對溫度的第一變化率來產生第一輸出值，其中溫度差值為獲取先前ZQ命令時的先前溫度與獲取當前ZQ命令時的當前溫度之間的差值；依據電壓差值以及驅動強度代碼對電壓的第二變化率來產生第二輸出值，其中電壓差值為獲取先前ZQ命令時的先前工作電壓與獲取當前ZQ命令時的當前工作電壓之間的差值；以及對第一輸出值以及第二輸出值進行加總以產生位移值，借此調整驅動強度代碼。