[發明專利]一種新型數據校驗方法

有效

• 申請號: 202010629549.2
• 申請日: 2020-07-03
• 公開（公告）號: CN111786745B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 李文祥;亢超;周小軍;趙金標
• 申請（專利權）人: 中科院南京天文儀器有限公司
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 李湘群

1.一種新型數據校驗方法，其特征在于，包括：

步驟1：傳輸d位數據碼d₁d₂d₃……d_d時，將p位校驗碼p₁p₂p₃……p_p添加到數據碼中組成新的N位碼字；其中，所述數據碼與所述校驗碼的位數滿足如下關系：

N＝d+p≤2^p-1

其中，d為數據碼位數，p為校驗碼的位數，d、p均為正整數；

步驟2：確定校驗碼的位置以及取值，將校驗碼安插到2ⁿ處，再計算出校驗碼的取值；所述步驟2中，校驗碼的位置安插在2ⁿ位，然后從第i位的校驗碼所在第2ⁿ位開始，連續校驗2ⁿ位后再隔2ⁿ位繼續校驗，如此類推得到求解校驗碼的方程組：

步驟3：新增第二校驗碼P對第一校驗碼p₁～p_p進行校驗，新增第三校驗碼D對數據碼d₁～d_d進行校驗，第二校驗碼P、第三校驗碼D滿足如下關系：

P＝p₁⊕p₂⊕p₃……⊕p_p

D＝d₁⊕d₂⊕d₃……⊕d_d

步驟4：新增第一狀態碼S_P對第一校驗碼p₁～p_p和第二校驗碼P進行校驗，新增第二狀態碼S_D對數據碼d₁～d_d和第三校驗碼D進行校驗，第一狀態碼S_P、第二狀態碼S_D滿足如下關系：狀態碼S_P、狀態碼S_D滿足如下關系：

S_P＝P⊕p₁⊕p₂⊕p₃……⊕p_p

S_D＝D⊕d₁⊕d₂⊕d₃……⊕d_d

步驟5：將第一校驗碼與數據碼進行分組處理，若碼字傳輸過程中沒有出現錯誤，則各狀態碼S₄S₃S₂S₁的校驗結果為0；

所述步驟5中，將接收到的碼字分三種情況處理：

1)若僅單個數據碼出錯：根據狀態碼找到錯誤位；對錯誤碼進行取反校正；去除校驗碼，提取并接收數據信息；

2)若僅單個第一校驗碼出錯：不檢測或者糾正校驗碼，直接提取并接收數據信息；

3)若單個第一校驗碼和單個數據碼同時出錯：結合新增狀態碼可知至少有兩個出錯位，無法實現數據糾正，重傳碼字，再次進行校驗。

2.根據權利要求1所述的新型數據校驗方法，其特征在于，在發送端，根據數據碼位數計算出所需校驗碼的位數，然后將校驗碼安插到2ⁿ處，再計算出校驗碼的取值，最后組成新的碼字進行發送；在接收端，接收到新碼字后，在特定位置獲取所有校驗碼，然后根據相應公式求解出狀態碼，最后再進行分類處理。