[發明專利]帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法

有效

• 申請號: 202010628221.9
• 申請日: 2020-07-02
• 公開（公告）號: CN111946333B
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發明（設計）人: 李存祿;秦曉強;周忠建;趙仁寶;端木令蒙;程樺;許光泉;姚直書;彭世龍;張海濤;余大有;孫家應;榮傳新;王曉健;蔡海兵;李華
• 申請（專利權）人: 臨沂礦業集團菏澤煤電有限公司;安徽理工大學;安徽建筑大學;安徽省煤田地質局第一勘探隊
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/047;E21D5/04
• 代理公司: 北京五洲洋和知識產權代理事務所(普通合伙) 11387
• 代理人: 劉春成;徐麗娜

1.一種帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：

1)鉆孔并對所述孔進行洗井，在所述含水層的位置處放置濾管，在非含水層的位置處放置套管；

2)觀測所述孔的初始水位，確定所述初始水位H₀；

3)啟動所述水位傳感器，設置觀測時間的間隔，將所述水位傳感器放入所述孔內的水中，然后再進行穩定水位觀測；

4)將具有固定體積的物體放入所述孔內的水中；

在所述步驟4)中，固定體積的物體為水、裝滿水的箱或者重物；

在所述步驟4)中，將所述固定體積的物體放入所述孔內的水中后，所述孔內水位的上升幅度小于25m且大于10m；

5)根據所述步驟3)中設置的觀測時間的間隔觀測所述孔內的水位，直至水位恢復至所述初始水位H₀時，試驗結束；

6)根據所述步驟5)中觀測的水位計算鉆孔水位降深值s，利用水位降深值s及對應的觀測時間t求解水文地質參數。

2.根據權利要求1所述的帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法，其特征在于，所述步驟6)中，水文地質參數按照下列公式的計算過程如下：

T＝r_c²/t (1)

K＝T/b (2)

S為貯水系數；K為滲透系數；b為含水層的厚度；t為時間，注水瞬時為起始時間，t＝0；T為導水系數；r_s為濾管的半徑；r_c為套管的半徑；α為Laplace積分變換的求解參數。

3.根據權利要求1所述的帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法，其特征在于，

在所述步驟3)中，觀測時間的間隔為1秒鐘、5分鐘、和/或10分鐘。

4.根據權利要求1所述的帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法，其特征在于，

在所述步驟3)中，將所述水位傳感器完全淹沒在水中，所述水位傳感器與水表面之間的距離≥5m。

5.根據權利要求1所述的帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法，其特征在于，

在所述步驟5)中，先每5分鐘觀測一次水位，連續觀測30分鐘；然后每隔10分鐘觀測一次水位。

6.根據權利要求1所述的帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法，其特征在于，

在所述步驟1)中，所述孔的孔徑為190mm，所述濾管的孔徑為139.7±6.2mm。

7.根據權利要求1所述的帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法，其特征在于，

在所述步驟1)中，用清水對所述孔進行洗井，洗井時間不小于24小時。

8.根據權利要求1所述的帷幕注漿條件下含水層水文地質參數簡易測試與求解方法，其特征在于，

在所述步驟6)中，利用配線法擬合求解水文地質參數。