[發明專利]檢查裝置

在審

• 申請號: 202010626211.1
• 申請日: 2020-07-02
• 公開（公告）號: CN112255251A
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 巖井厚司;萬木太;冨永浩太;牧広祥
• 申請（專利權）人: 株式會社石田
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 車美靈

1.一種檢查裝置，針對通過使電磁波透射物品得到的透射圖像，使用從多種圖像處理算法中預先選擇的圖像處理算法進行圖像處理，根據所述圖像處理的結果來檢查所述物品中是否包含異物，其特征在于，

所述檢查裝置具有：

存儲部，存儲多種所述圖像處理算法；

獲取部，獲取通過使電磁波透射附有異物的所述物品得到的透射圖像或者合成透射圖像作為基準透射圖像，所述合成透射圖像是通過對使電磁波透射所述物品得到的透射圖像虛擬地合成所述異物而生成的；

評價部，根據利用所述存儲部中存儲的多種所述圖像處理算法分別對所述基準透射圖像進行處理得到的評價圖像，評價各種所述圖像處理算法對所述異物的檢測精度；以及

設定部，根據所述評價部的評價將所述圖像處理算法中至少一種圖像處理算法設定為所述預先選擇的圖像處理算法。

2.根據權利要求1所述的檢查裝置，其特征在于，

所述合成透射圖像是通過對使電磁波透射所述物品得到的透射圖像的至少一部分合成通過使電磁波透射所述異物得到的透射圖像而生成的。

3.根據權利要求1或2所述的檢查裝置，其特征在于，

所述評價部根據得分來評價所述檢測精度，所述得分是根據所述評價圖像的與所述異物對應的部分的平均亮度、所述評價圖像的與所述異物對應的部分的最小亮度、以及所述評價圖像的與所述異物以外的所述物品對應的部分的最大亮度計算出的。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的檢查裝置，其特征在于，

在通過所述圖像處理算法對所述基準透射圖像進行處理后，得到在所述電磁波的透射量越大時顯示得越暗且在所述透射量越小時顯示得越亮的評價圖像的情況下，

所述評價部根據按照計算式計算出的得分來評價所述檢測精度，所述計算式被設定為在所述評價圖像的與所述異物對應的部分越亮且與所述異物以外的所述物品對應的部分越暗時，使所述得分越高。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的檢查裝置，其特征在于，

所述獲取部根據通過使電磁波透射以放置于傳送帶的狀態被輸送的所述異物而獲取的透射圖像來生成異物透射圖像，所述異物透射圖像在電磁波的透射量越大時顯示得越暗且在所述透射量越小時顯示得越亮，并且所述異物透射圖像是通過從所述透射圖像中切取與所述異物對應的部分和與所述異物的周圍的背景對應的部分而得到的，通過從構成所述異物透射圖像的各個像素的亮度減去作為所述異物透射圖像中的亮度的最頻值的亮度，生成使與所述背景對應的部分的亮度為0的虛擬異物圖像，將所述虛擬異物圖像合成在通過使電磁波透射所述物品得到的透射圖像上，由此生成所述合成透射圖像。

6.根據權利要求5所述的檢查裝置，其特征在于，

所述獲取部獲取：

第一變化量，表示所述異物透射圖像中與所述異物對應的部分相對于與所述背景對應的部分的亮度的變化；以及

第二變化量，表示在通過使電磁波透射含有所述異物的所述物品得到的透射圖像中，與所述異物對應的部分相對于與所述物品對應的部分的亮度的變化，

所述獲取部根據所述第一變化量和所述第二變化量來校正構成所述合成透射圖像的各個像素的亮度。