[發明專利]一種強噪聲條件下光場EPI圖像超分辨率的處理方法在審
| 申請號: | 202010626079.4 | 申請日: | 2020-07-02 |
| 公開(公告)號: | CN111951159A | 公開(公告)日: | 2020-11-17 |
| 發明(設計)人: | 金海燕;于洋;肖照林 | 申請(專利權)人: | 西安理工大學 |
| 主分類號: | G06T3/40 | 分類號: | G06T3/40;G06T5/00 |
| 代理公司: | 西安弘理專利事務所 61214 | 代理人: | 燕肇琪 |
| 地址: | 710048 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 噪聲 條件下 epi 圖像 分辨率 處理 方法 | ||
本發明公開了一種強噪聲條件下光場EPI圖像超分辨率的處理方法,具體按照以下實施:讀入光場原始文件,進行解析,得到光場原始圖像、光場白圖像和微透鏡中心坐標文件;利用得到的光場原始圖像、光場白圖像和微透鏡中心坐標文件進行解碼,得到光場圖像的二維位置信息;通過得到的光場圖像信息提取不同角度信息的子孔徑圖;對得到的子孔徑圖提取像素點,得到光場EPI圖像;對得到的光場EPI圖像進行BM3D去噪處理;對去噪處理后的光場圖像進行超分辨重建,完成強噪聲條件下光場EPI圖像超分辨率的處理,能在不改變光場相機硬件設計的條件下,利用光場多視圖間的關系,對光場EPI圖像實現超分辨率重建。
技術領域
本發明屬于計算攝影與數字圖像處理技術領域,涉及一種強噪聲條件下光場EPI圖像超分辨率的處理方法。
背景技術
隨著多媒體技術和計算機網絡技術的發展和應用,圖像已成為主流的信息載體之一。在圖像的采集、傳輸、處理以及顯示過程中,普遍存在圖像噪聲,惡化圖像質量的問題。因此,圖像算法的抗噪聲性能常影響到算法的適用范圍。
光場成像系統能夠同時記錄光輻射在傳播過程中的位置和方向信息,因而能夠獲得重聚焦、視點可變、景深可調、深度可計算等一系列成像優勢。光場相機成像優勢源自比傳統相機多出的二維角度信息,但是角度信息的獲得常是以犧牲一定的空間分辨率為代價的。因此,光場成像過程存在著空間分辨率和角度分辨率的折衷問題。
目前,基于微透鏡陣列的傳統型光場相機(Plenoptic1.0),采用在傳感器平面前加入微透鏡陣列實現光場采集。而其微透鏡數量決定了空間分辨率的大小。與成像傳感器相比,微透鏡陣列的微透鏡數量較少,例如Lytro公司的一代和二代光場相機的空間分辨率尚未達到標清標準。目前,主要是以四維結構化光場為基礎,研究深度估計進行圖像重建,但由于光場相機基線窄,相鄰多視角圖像之間的視差很小,且存在微透鏡鏡頭畸變、鏡頭漸暈效應等硬件因素的影響,使得圖像采集、傳輸及處理中存在噪聲干擾,導致該方法實際應用中存在缺陷。
發明內容
本發明的目的是提供一種強噪聲條件下光場EPI圖像超分辨率的處理方法,能在不改變光場相機硬件設計的條件下,利用光場多視圖間的關系,對光場EPI圖像實現超分辨率重建。
本發明所采用的技術方案是,一種強噪聲條件下光場EPI圖像超分辨率的處理方法,具體按照以下步驟實施:
步驟1、讀入光場原始文件,進行解析,得到光場原始圖像、光場白圖像和微透鏡中心坐標文件;
步驟2、利用步驟1得到的光場原始圖像、光場白圖像和微透鏡中心坐標文件進行解碼,得到光場圖像的二維位置信息;
步驟3、通過步驟2得到的光場圖像信息提取不同角度信息的子孔徑圖;
步驟4、對步驟3得到的子孔徑圖提取像素點,得到光場EPI圖像;
步驟5、對步驟4得到的光場EPI圖像進行堆疊,并采用BM3D去噪處理;
步驟6、對步驟5去噪處理后的光場圖像進行超分辨重建,得到對光場EPI去噪處理和超分辨率重建以后的光場子孔徑圖像,完成強噪聲條件下光場EPI圖像超分辨率的處理。
本發明的特點還在于:
步驟1具體按照以下實施:從光場相機中提取原始文件,MATLAB讀入后,使用光場工具包進行解析,得到光場原始圖像,光場白圖像,以及微透鏡中心坐標文件。
步驟2具體按照以下步驟實施:
步驟2.1,從微透鏡中心坐標文件中獲取圖像旋轉角度,對光場原圖像與光場白圖像進行相應的圖像旋轉;
步驟2.2,計算微透鏡陣列間的水平與垂直距離,如公式1所示,得到光場圖像的微透鏡角度分辨率(u,v),即光場圖像的二維角度信息;
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