[發明專利]測量工具固定裝置

有效

• 申請號: 202010625616.3
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111735599B
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 賀碧蛟;張歡迎;楊祖儀;蔡國飆;翁惠焱
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01M9/00
• 分類號: G01M9/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 趙薇

本發明提供了一種測量工具固定裝置，涉及電推力器測量工具的技術領域，包括：夾持構件和固定主體；由于在固定主體中部貫通形成導線通道，夾持構件夾持的測量工具的連接導線穿過夾持構件伸入到固定主體內的導線通道中，使測量工具的連接導線埋設在固定主體內，有效減少測量工具的連接導線受到推力器的轟擊，緩解了現有技術中存在的由于推力器對接觸式診斷測量系統的艙內組件進行轟擊，會造成夾具系統夾持的探針的導線受到損壞，導線的使用壽命大大減少，造成了經濟上的損失的技術問題，實現了提高導線使用壽命，降低成本的技術效果。

技術領域

本發明涉及電推力器測量工具技術領域，尤其是涉及一種測量工具固定裝置。

背景技術

電推力器因其比沖高、壽命長和系統質量較小等優點而廣泛應用于航天器的姿態和軌道控制。準確獲取電推力器真空羽流參數對評估電推力器和航天器性能是至關重要的。電推力器真空羽流是等離子體，主要包含離子、電子和中性氣體分子等，得到羽流中束電流密度分布是評估電推力器壽命及其羽流效應的重要指標，測量空間羽流參數如束電流密度、電子溫度、離子能量、束流發散角等參數對評估電推力器性能是非常重要的。

測量空間羽流參數一般使用接觸式診斷測量系統，從信號上游開始分別由探針系統、夾具系統、三圍移動機構、導線系統、測量系統及數據處理系統等部份組成。

但是，在夾具系統中，使用夾具對探針進行夾持，由于推力器對接觸式診斷測量系統的艙內組件進行轟擊，常常會造成與探針連接的導線損壞，導線的使用壽命大大減少，造成了經濟上的損失。

發明內容

本發明的目的在于提供一種測量工具固定裝置，以緩解了現有技術中存在的由于推力器對接觸式診斷測量系統的艙內組件進行轟擊，會造成夾具系統夾持的探針的導線受到損壞，導線的使用壽命大大減少，造成了經濟上的損失的技術問題。

第一方面，本發明提供的測量工具固定裝置，包括：夾持構件和固定主體；

所述夾持構件安裝于所述固定主體上，所述固定主體中部貫通形成有導線通道，所述夾持構件上設置有進線孔，所述進線孔與所述導線通道連通，所述夾持構件配置為能夠夾持測量工具，且所述測量工具的連接導線穿過所述進線孔伸入到所述導線通道內。

在可選的實施方式中，所述固定主體包括固定構件和穿線管；

所述夾持構件與所述固定構件連接，所述固定構件設置有固定孔，所述穿線管穿過所述固定孔伸入到所述固定構件內，所述固定構件和所述穿線管圍設形成所述導線通道。

在可選的實施方式中，所述測量工具固定裝置還包括限高組件；

所述限高組件與所述穿線管連接，所述限高組件配置為能夠調節所述穿線管伸入到所述固定構件內的長度。

在可選的實施方式中，所述限高組件包括第一限位件和第二限位件；

所述第一限位件設置于所述固定構件內，所述第一限位件與伸入到所述固定構件內的所述穿線管螺紋連接，且所述第一限位件與所述固定構件的內側抵接；

所述第二限位件與伸出所述固定構件的所述穿線管螺紋連接，且所述第二限位件與所述固定構件的外側抵接。

在可選的實施方式中，所述穿線管上設置有出線口，所述穿線管內的連接導線能夠從所述出線口穿出。

在可選的實施方式中，所述測量工具固定裝置還包括走線板；

所述穿線管上設置有開口，所述走線板蓋和于所述開口。

在可選的實施方式中，所述固定構件包括頂蓋盤和底座盤；

所述頂蓋盤蓋和于所述底座盤上，且所述頂蓋盤和所述底座盤圍設成夾具放置槽，所述夾持構件設置于所述夾具放置槽內。