[發明專利]膜電極漏氣量的測量裝置及測量方法

在審

• 申請號: 202010625159.8
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111579178A
• 公開（公告）日: 2020-08-25
• 發明（設計）人: 劉昌偉;田明星;宛朝輝;艾勇誠;艾波;周濤
• 申請（專利權）人: 武漢理工新能源有限公司
• 主分類號: G01M3/26
• 分類號: G01M3/26;G01F1/76;G01F1/86
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 付興奇

1.一種膜電極漏氣量的測量裝置，其特征在于，包括：

檢漏模板，所述檢漏模板具有檢漏腔和與所述檢漏腔連通的進氣口和排氣口，所述檢漏模板用于密封固定所述膜電極使所述膜電極將所述檢漏腔分隔成第一腔體和第二腔體，所述第一腔體與所述進氣口連通，所述第二腔體與所述排氣口連通；

整流器，所述整流器用于對氣體進行整流；

通氣管，所述通氣管包括第一氣管和第二氣管，所述第一氣管的前端用于進氣，所述第一氣管的后端與所述整流器的進口連通，所述第二氣管的前端與所述整流器的出口連通，所述第二氣管的后端用于連通所述進氣口；

氣體流量器，所述氣體流量器安裝于所述第二氣管內且用于檢測所述第二氣管內的氣體流量。

2.根據權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述整流器包括整流管和多個用于氣體穿過的整流片，所述整流管的兩端分別連接所述第一氣管的后端和所述第二氣管的前端，多個整流片間隔設置于所述整流管內，每個所述整流片的邊緣連接所述整流管的內壁。

3.根據權利要求2所述的測量裝置，其特征在于，多個所述整流片包括第一組孔片和第二組孔片，所述第二組孔片靠近所述氣體流量器；

所述第一組孔片的多個孔的孔徑沿外周向內逐漸減小，所述第二組孔片的多個孔的孔徑一致。

4.根據權利要求3所述的測量裝置，其特征在于，多個所述整流片還包括第三組孔片，所述第三組孔片位于所述第一組孔片和所述第二組孔片之間；

所述第一組孔片沿外周向內布置有多個第一孔、多個第二孔和多個第三孔，所述第一孔的孔徑所述第二孔的孔徑所述第三孔的孔徑；

所述第三組孔片沿外周向內布置有多個第四孔和多個第五孔，所述第四孔的孔徑所述第五孔的孔徑；

所述第二組孔片上均勻布置有多個第六孔。

5.根據權利要求4所述的測量裝置，其特征在于，所述第二孔的孔徑與所述第五孔的孔徑一致；所述第四孔的孔徑、所述第一孔的孔徑和所述第六孔的孔徑一致。

6.根據權利要求3-5任一項所述的測量裝置，其特征在于，所述第一組孔片的多個孔的目數為100-300目。

7.根據權利要求1-5任一項所述的測量裝置，其特征在于，還包括旁通閥，所述旁通閥的兩端分別連通所述第一氣管的第一位置和所述第二氣管的第二位置，所述第一位置位于所述第一氣管的前端和所述整流器之間，所述第二位置位于所述氣體流量器和所述進氣口之間。

8.根據權利要求1-5任一項所述的測量裝置，其特征在于，還包括標準校準漏頭，所述標準校準漏頭設置于所述氣體流量器和所述進氣口之間，且用于截斷或導通所述進氣口的氣流。

9.根據權利要求1-5任一項所述的測量裝置，其特征在于，所述氣體流量器為熱式氣體質量流量計。

10.一種膜電極漏氣量的測量方法，其特征在于，適用于權利要求1-9任一項所述的測量裝置，所述測量方法包括如下步驟：

將所述膜電極密封固定于所述檢漏模板，使所述膜電極將所述檢漏腔分隔成所述第一腔體和所述第二腔體，所述第一腔體與所述進氣口連通，所述第二腔體與所述排氣口連通；

對所述通氣管的前端通氣，氣體進入所述第一氣管以后，經過整流器，進入所述第二氣管，然后從所述進氣口進入所述第一腔體內，同時，所述氣體流量器檢測所述第二氣管的流量，直到所述氣體流量器的測量值不發生變化為止。