[發(fā)明專利]發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010624852.3
• 申請(qǐng)日: 2020-07-02
• 公開（公告）號(hào): CN111880163B
• 公開（公告）日: 2023-01-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李坤儀;王吉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市速騰聚創(chuàng)科技有限公司
• 主分類號(hào): G01S7/497
• 分類號(hào): G01S7/497;G01M11/02
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 虞凌霄

1.一種發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

以預(yù)設(shè)策略驅(qū)動(dòng)待測(cè)發(fā)射裝置發(fā)射出射光信號(hào)；

將所述出射光信號(hào)分成第一激光信號(hào)和第二激光信號(hào)；

接收所述第一激光信號(hào)得到所述出射光信號(hào)的脈寬，以及接收所述第二激光信號(hào)得到所述出射光信號(hào)的平均功率；

根據(jù)所述脈寬和所述平均功率計(jì)算得到所述出射光信號(hào)的峰值功率；

將所述出射光信號(hào)的所述峰值功率與預(yù)設(shè)功率閾值進(jìn)行比較，以及將所述出射光信號(hào)的脈寬與預(yù)設(shè)脈寬閾值進(jìn)行比較；

將對(duì)應(yīng)的所述出射光信號(hào)的所述峰值功率大于所述預(yù)設(shè)功率閾值且其所述脈寬小于所述預(yù)設(shè)脈寬閾值的所述待測(cè)發(fā)射裝置分為第一組；

將對(duì)應(yīng)的所述出射光信號(hào)的所述峰值功率小于或等于所述預(yù)設(shè)功率閾值的所述待測(cè)發(fā)射裝置，和/或?qū)?yīng)的所述出射光信號(hào)的所述脈寬大于或等于所述預(yù)設(shè)脈寬閾值的所述待測(cè)發(fā)射裝置分為第二組。

2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)策略包括預(yù)設(shè)驅(qū)動(dòng)功率和預(yù)設(shè)重頻。

3.如權(quán)利要求1所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，還包括：

在將所述峰值功率與所述預(yù)設(shè)功率閾值進(jìn)行比較之前，根據(jù)功率調(diào)整系數(shù)對(duì)所述預(yù)設(shè)功率閾值進(jìn)行調(diào)整。

4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，同一型號(hào)的所述待測(cè)發(fā)射裝置采用相同的所述功率調(diào)整系數(shù)。

5.如權(quán)利要求3所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，利用功率計(jì)檢測(cè)所述待測(cè)發(fā)射裝置的平均功率；

所述功率調(diào)整系數(shù)是與所述功率計(jì)的接收口徑相關(guān)的參數(shù)。

6.如權(quán)利要求1所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，所述將所述出射光信號(hào)分成第一激光信號(hào)和第二激光信號(hào)，包括：

利用準(zhǔn)直鏡對(duì)所述待測(cè)發(fā)射裝置發(fā)射的出射光信號(hào)進(jìn)行準(zhǔn)直，并將準(zhǔn)直后的所述出射光信號(hào)出射至分光器，利用所述分光器將所述出射光信號(hào)分成所述第一激光信號(hào)和所述第二激光信號(hào)。

7.如權(quán)利要求6所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，所述將準(zhǔn)直后的所述出射光信號(hào)出射至分光器之前，還包括：

采用光闌和探測(cè)器檢測(cè)準(zhǔn)直后的所述出射光信號(hào)的光斑是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。

8.如權(quán)利要求7所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，所述采用光闌和探測(cè)器檢測(cè)準(zhǔn)直后的所述出射光信號(hào)的光斑是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)，包括：

當(dāng)所述探測(cè)器沒有產(chǎn)生探測(cè)電信號(hào)時(shí)，確認(rèn)準(zhǔn)直后的所述出射光信號(hào)的光斑尺寸達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)；

當(dāng)所述探測(cè)器產(chǎn)生所述探測(cè)電信號(hào)時(shí)，確認(rèn)準(zhǔn)直后的所述出射光信號(hào)的光斑尺寸不達(dá)標(biāo)，且調(diào)整所述準(zhǔn)直鏡；

其中，所述光闌設(shè)置在所述準(zhǔn)直鏡和所述分光器之間，所述探測(cè)器設(shè)置于所述光闌朝向所述準(zhǔn)直鏡的一側(cè)。

9.如權(quán)利要求8所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，調(diào)整準(zhǔn)直鏡包括：更換鏡片，或者調(diào)整所述準(zhǔn)直鏡和所述待測(cè)發(fā)射裝置之間的距離。

10.如權(quán)利要求1所述的發(fā)射裝置性能檢測(cè)方法，其特征在于，在以所述預(yù)設(shè)策略驅(qū)動(dòng)待測(cè)發(fā)射裝置之前，還包括：

將所述待測(cè)發(fā)射裝置固定于發(fā)射裝置檢測(cè)系統(tǒng)的基座。