[發(fā)明專(zhuān)利]一種電容誤差測(cè)量電路、測(cè)量方法、芯片以及家用電器

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010623426.8
• 申請(qǐng)日: 2020-06-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111983328B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-05-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林建清
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海美仁半導(dǎo)體有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R27/26
• 分類(lèi)號(hào): G01R27/26
• 代理公司: 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 瞿璨

1.一種電容誤差測(cè)量方法，其特征在于，所述方法包括：

確定待測(cè)電容Cx；

提供參考信號(hào)至至少一個(gè)第一電容，輸出校正信號(hào)至校正信號(hào)線(xiàn)，所述至少一個(gè)第一電容包括所述待測(cè)電容；

改變第二電容矩陣的總電容值，調(diào)節(jié)所述校正信號(hào)，在調(diào)節(jié)過(guò)程中檢測(cè)并確認(rèn)比較器的輸出信號(hào)反轉(zhuǎn)，記錄所述第二電容矩陣的總電容值；

根據(jù)記錄的所述總電容值確定所述待測(cè)電容的誤差；

所述改變第二電容矩陣的總電容值，調(diào)節(jié)所述校正信號(hào)，包括：

檢測(cè)并確認(rèn)C0、C1…Cx-1與第一參考信號(hào)線(xiàn)連通，Cx與第二參考信號(hào)線(xiàn)連通，遞增調(diào)節(jié)所述第二電容矩陣的總電容值，在調(diào)節(jié)過(guò)程中，檢測(cè)并確認(rèn)比較器的輸出信號(hào)反轉(zhuǎn)，記錄第一總電容值；

檢測(cè)并確認(rèn)C0、C1…Cx-1與所述第一參考信號(hào)線(xiàn)連通，Cx與所述第二參考信號(hào)線(xiàn)連通，遞減調(diào)節(jié)所述第二電容矩陣的總電容值，在調(diào)節(jié)過(guò)程中，檢測(cè)并確認(rèn)比較器的輸出信號(hào)反轉(zhuǎn)，記錄第二總電容值；

檢測(cè)并確認(rèn)C0、C1…Cx-1與所述第二參考信號(hào)線(xiàn)連通，Cx與所述第一參考信號(hào)線(xiàn)連通，遞增調(diào)節(jié)所述第二電容矩陣的總電容值，在調(diào)節(jié)過(guò)程中，檢測(cè)并確認(rèn)比較器的輸出信號(hào)反轉(zhuǎn)，記錄第三總電容值；

檢測(cè)并確認(rèn)C0、C1…Cx-1與所述第二參考信號(hào)線(xiàn)連通，Cx與所述第一參考信號(hào)線(xiàn)連通，遞減調(diào)節(jié)所述第二電容矩陣的總電容值，在調(diào)節(jié)過(guò)程中，檢測(cè)并確認(rèn)比較器的輸出信號(hào)反轉(zhuǎn)，記錄第四總電容值；

所述根據(jù)記錄的所述總電容值確定所述待測(cè)電容的誤差，包括：

將所述第一總電容值、所述第二總電容值的差的二分之一作為第一分量，將所述第三總電容值、所述第四總電容值的差的二分之一作為第二分量，計(jì)算所述第一分量和所述第二分量的平均值作為所述待測(cè)電容的誤差。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述改變第二電容矩陣的總電容值，調(diào)節(jié)所述校正信號(hào)，包括：

改變所述第二電容矩陣中多個(gè)第二電容中，被配置為接收所述參考信號(hào)的第二電容的數(shù)量，對(duì)所述校正信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)。

3.一種電容誤差測(cè)量電路，用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-2所述的電容誤差測(cè)量方法，其特征在于，所述電容誤差測(cè)量電路包括：

比較器，所述比較器的第一輸入端被配置為輸入模擬信號(hào)，所述比較器的第二輸入端連接校正信號(hào)線(xiàn)，被配置為輸入校正信號(hào)；

第一電容矩陣，所述第一電容矩陣包括多個(gè)第一電容，所述多個(gè)第一電容的一端連接所述校正信號(hào)線(xiàn)，至少一個(gè)所述第一電容的另一端被配置為接收參考信號(hào)，輸入校正信號(hào)至所述校正信號(hào)線(xiàn)，所述至少一個(gè)所述第一電容包括待測(cè)電容；

第二電容矩陣，所述第二電容矩陣的一端連接所述校正信號(hào)線(xiàn)，所述第二電容矩陣的另一端被配置為接收所述參考信號(hào)，所述第二電容矩陣被配置為改變所述第二電容矩陣的總電容值，調(diào)節(jié)所述校正信號(hào)；

控制器，連接所述比較器的輸出端和所述第二電容矩陣，被配置為確定所述比較器的輸出信號(hào)反轉(zhuǎn)時(shí)所述第二電容矩陣的總電容值，根據(jù)所述總電容值確定所述待測(cè)電容的誤差。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電容誤差測(cè)量電路，其特征在于，

所述第二電容矩陣包括多個(gè)第二電容，所述多個(gè)第二電容的一端連接所述校正信號(hào)線(xiàn)，所述第二電容矩陣被配置為根據(jù)所述多個(gè)第二電容中，被配置為接收所述參考信號(hào)的第二電容的數(shù)量，確定所述第二電容矩陣的總電容值。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電容誤差測(cè)量電路，其特征在于，

所述第一電容矩陣中的多個(gè)電容按照電容值從第一初始電容值遞增分布，所述第二電容矩陣中的多個(gè)電容按照電容值從第二初始電容值遞增分布，所述第一初始電容值大于所述第二初始電容值。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電容誤差測(cè)量電路，其特征在于，

所述第二電容矩陣包括5個(gè)電容，所述5個(gè)電容的電容值分別為8C0、4C0、2C0、C0、0.5C0；其中，C0為第一初始電容值。