[發(fā)明專利]一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法

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• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111967127A
• 公開（公告）日: 2020-11-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王世清;黎明;張濤;王建岡
• 申請（專利權(quán)）人: 航天東方紅衛(wèi)星有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F119/02
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 劉秀祥

1.一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、針對已發(fā)射的同類型小衛(wèi)星，以每顆衛(wèi)星正樣階段整星起始加電時(shí)間作為零點(diǎn)，選取截止時(shí)間點(diǎn)T₀，獲取所有同類型小衛(wèi)星出現(xiàn)的可靠性問題及可靠性問題的發(fā)生時(shí)間；

S2、從零點(diǎn)到T₀，對所有同類型小衛(wèi)星的可靠性問題的發(fā)生時(shí)段進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，獲取不同時(shí)間段內(nèi)的可靠性問題數(shù)量，然后繪制直方圖；

S3、根據(jù)直方圖，基于對數(shù)正態(tài)疊加分布假設(shè)，確定可靠性問題分布的數(shù)學(xué)模型，利用不同時(shí)間段內(nèi)的可靠性問題數(shù)量對數(shù)據(jù)模型進(jìn)行擬合，獲得可靠性問題分布公式；

S4、統(tǒng)計(jì)任一待出廠同類型小衛(wèi)星的整星累計(jì)加電時(shí)間，利用可靠性問題分布公式，獲得該待出廠同類型小衛(wèi)星的可靠性問題篩選率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，所述直方圖為雙波峰分布，第一波峰出現(xiàn)在研制測試過程，第二波峰出現(xiàn)在環(huán)境試驗(yàn)考核過程。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，利用不同時(shí)間段內(nèi)的可靠性問題數(shù)量，對數(shù)據(jù)模型進(jìn)行擬合。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，根據(jù)擬合獲得的參數(shù)，獲得可靠性問題分布公式。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，可靠性問題分布的數(shù)學(xué)模型為雙對數(shù)正態(tài)疊加分布模型。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，S2中，按每100小時(shí)進(jìn)行分段，繪制直方圖。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，第一個(gè)對數(shù)正態(tài)分布的起始時(shí)間為整星起始加電時(shí)間，第二個(gè)對數(shù)正態(tài)分布的起始時(shí)間為環(huán)境試驗(yàn)考核起始時(shí)間。

8.根據(jù)權(quán)利要求1～7之一所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，所有同類型小衛(wèi)星出現(xiàn)的可靠性問題至少包括GPS接收機(jī)上注問題、紅外相機(jī)圖像數(shù)據(jù)丟行、單載波測試信號不能下傳、遙控單元甲機(jī)和乙機(jī)計(jì)數(shù)不一致、DC-DC模塊備份無輸出、太陽翼展開指示信號異常。

9.根據(jù)權(quán)利要求1～7之一所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，S4之后，根據(jù)該待出廠同類型小衛(wèi)星的可靠性問題篩選率和預(yù)設(shè)的可靠性問題篩選率，確定小衛(wèi)星的出廠累計(jì)加電時(shí)間。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種小衛(wèi)星出廠可靠性問題篩選率計(jì)算方法，其特征在于，預(yù)設(shè)的可靠性問題篩選率大于90％。