[發(fā)明專利]基因測(cè)序系統(tǒng)中向基因芯片加載試劑的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010622868.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111793670A | 公開(公告)日: | 2020-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 袁愛好 |
| 主分類號(hào): | C12Q1/24 | 分類號(hào): | C12Q1/24;C12Q1/6869;C12M1/00;C12M1/34;C12M1/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 528400 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基因 系統(tǒng) 基因芯片 加載 試劑 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種基因測(cè)序系統(tǒng)中向基因芯片加載試劑的方法。包括,將基因芯片置入盛裝有試劑的容器中,且試劑淹沒基因芯片,使容器形成負(fù)壓。本發(fā)明通過使容器形成負(fù)壓,以排出基因芯片的流道內(nèi)的空氣,同時(shí),容器中的試劑在負(fù)壓的作用下被吸入基因芯片的流道內(nèi),實(shí)現(xiàn)將試劑均勻并充分地加載至基因芯片的流道內(nèi),提高測(cè)序結(jié)果的準(zhǔn)確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基因測(cè)序系統(tǒng)中向基因芯片加載試劑的方法。
背景技術(shù)
基因的本質(zhì)是控制生物性狀、具有遺傳效應(yīng)的DNA片段?;驕y(cè)序可以快速準(zhǔn)確地獲取生物遺傳信息,揭示基因組的復(fù)雜性和多樣性,在生命科學(xué)研究中扮演十分重要的角色;同樣,基因測(cè)序?qū)εR床醫(yī)學(xué)也具有十分重要的意義和價(jià)值,很多疾病的機(jī)理研究和臨床診斷逐漸依賴于基因測(cè)序技術(shù)。
國(guó)際專利申請(qǐng)?zhí)朠CT/CN2017/104587公開了一種基因測(cè)序反應(yīng)設(shè)備和基因測(cè)序系統(tǒng),其公開了將測(cè)序芯片(即基因芯片)浸泡在試劑中,得以將試劑加載(即注入)基因芯片內(nèi)的微流道中。
由于基因芯片內(nèi)的流道非常細(xì)微,且流道的構(gòu)造復(fù)雜,流體進(jìn)入流道所受到的流動(dòng)阻力非常大。單純浸泡基因芯片,試劑難以進(jìn)入并充滿流道,流道內(nèi)的氣體殘留可能性大,試劑難以進(jìn)入殘留氣體所占據(jù)的容積,導(dǎo)致試劑加載不均勻、不充分,影響測(cè)序結(jié)果。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基因測(cè)序系統(tǒng)中向基因芯片加載試劑的方法,包括,將基因芯片置入盛裝有試劑的容器中,且試劑淹沒基因芯片,使容器形成負(fù)壓。
本發(fā)明通過使容器形成負(fù)壓,以排出基因芯片的流道內(nèi)的空氣,同時(shí),容器中的試劑在負(fù)壓的作用下被吸入基因芯片的流道內(nèi),實(shí)現(xiàn)將試劑均勻并充分地加載至基因芯片的流道內(nèi),提高測(cè)序結(jié)果的準(zhǔn)確性。
附圖說明
圖1示出了本發(fā)明的基因測(cè)序系統(tǒng)中向基因芯片加載試劑的方法的流程示意圖;
圖2示出了本發(fā)明的基因測(cè)序系統(tǒng)的立體圖;
圖3示出了本發(fā)明的基因測(cè)序系統(tǒng)的俯視圖;
圖4示出了輸送線的立體圖;
圖5示出了芯片框架與運(yùn)載體的立體分解圖;
圖6示出了芯片框架的立體圖;
圖7示出了芯片框架的立體分解圖;
圖8示出了芯片框架的主視圖;
圖9示出了圖8的A-A剖視圖;
圖10和圖11分別示出了搬運(yùn)裝置的兩個(gè)不同角度的立體圖;
圖12示出了圖10的B部局部放大圖;
圖13示出了搬運(yùn)裝置的主視圖;
圖14示出了圖13的C部局部放大圖;
圖15示出了圖14的D-D剖視圖;
圖16示出了在圖14的基礎(chǔ)上將芯片框架的頂部插入取放部插槽后的示意圖;
圖17示出了轉(zhuǎn)盤的立體圖;
圖18示出了一個(gè)容器的剖視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖19示出了取放部抽離容器的示意圖;
圖20示出了在圖19的基礎(chǔ)上驅(qū)使取放部下降以封堵容器的口部的示意圖;
圖21示出了本發(fā)明的光學(xué)檢測(cè)裝置的示意圖,其中移動(dòng)架被拉入主機(jī)體之內(nèi);
圖22示出了在圖21的基礎(chǔ)上的剖視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖23示出了光學(xué)檢測(cè)裝置的示意圖,其中移動(dòng)架被推出主機(jī)體之外;
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