[發(fā)明專利]陣列基板及顯示面板

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010616708.5
• 申請(qǐng)日: 2020-06-30
• 公開（公告）號(hào): CN111681552B
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 金慧俊;姜煒;張劼
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海中航光電子有限公司
• 主分類號(hào): G09F9/30
• 分類號(hào): G09F9/30;G02F1/1362
• 代理公司: 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11258
• 代理人: 王文

本發(fā)明公開了一種陣列基板及顯示面板。陣列基板包括：襯底，包括顯示區(qū)和非顯示區(qū)，非顯示區(qū)包括芯片集成區(qū)以及扇出區(qū)；信號(hào)端子陣列，包括多個(gè)信號(hào)線端子；多條信號(hào)線；以及測試組件，測試組件包括：測試數(shù)據(jù)線；第一開關(guān)陣列，位于多個(gè)信號(hào)端子的背離顯示區(qū)的一側(cè)，第一開關(guān)陣列包括多個(gè)第一開關(guān)，每個(gè)第一開關(guān)將對(duì)應(yīng)一個(gè)信號(hào)線端子與測試數(shù)據(jù)線連接；第二開關(guān)陣列，位于扇出區(qū)，第二開關(guān)陣列包括多個(gè)第二開關(guān)，每個(gè)第二開關(guān)將對(duì)應(yīng)一個(gè)信號(hào)線端子與測試數(shù)據(jù)線連接；以及測試控制線，用于提供控制第一開關(guān)、第二開關(guān)通斷的測試控制信號(hào)。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的陣列基板，對(duì)測試組件分區(qū)布局，提高顯示面板測試組件的布局合理性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示領(lǐng)域，具體涉及一種陣列基板及顯示面板。

背景技術(shù)

平面顯示面板因具有高畫質(zhì)、省電、機(jī)身薄及應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)，而被廣泛的應(yīng)用于手機(jī)、電視、個(gè)人數(shù)字助理、數(shù)字相機(jī)、筆記本電腦、臺(tái)式計(jì)算機(jī)等各種消費(fèi)性電子產(chǎn)品，成為顯示面板中的主流。

平面顯示面板通常包括陣列基板，陣列基板包括顯示區(qū)和圍繞顯示區(qū)的非顯示區(qū)，非顯示區(qū)包括芯片集成區(qū)。為滿足電子產(chǎn)品窄邊框的設(shè)計(jì)需求，需要盡量縮減芯片集成區(qū)及芯片集成區(qū)附近的非顯示區(qū)的面積，而在芯片集成區(qū)附近，往往還需要布置用于顯示測試的電路。因此，芯片集成區(qū)及附近的非顯示區(qū)的面積有限，期望一種測試組件的合理布局。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種陣列基板及顯示面板，對(duì)測試組件分區(qū)布局，提高顯示面板測試組件的布局合理性。

一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種陣列基板，其包括：襯底，包括顯示區(qū)和圍繞顯示區(qū)的非顯示區(qū)，非顯示區(qū)包括芯片集成區(qū)以及扇出區(qū)，扇出區(qū)位于連接于顯示區(qū)與芯片集成區(qū)之間；信號(hào)端子陣列，位于芯片集成區(qū)，信號(hào)端子陣列包括多個(gè)信號(hào)線端子；多條信號(hào)線，延伸于顯示區(qū)，并經(jīng)由扇出區(qū)與多個(gè)信號(hào)線端子對(duì)應(yīng)連接；以及測試組件，設(shè)置于非顯示區(qū)，其中測試組件包括：測試數(shù)據(jù)線，用于提供測試數(shù)據(jù)信號(hào)；第一開關(guān)陣列，位于多個(gè)信號(hào)端子的背離顯示區(qū)的一側(cè)，第一開關(guān)陣列包括多個(gè)第一開關(guān)，每個(gè)第一開關(guān)將對(duì)應(yīng)一個(gè)信號(hào)線端子與測試數(shù)據(jù)線連接；第二開關(guān)陣列，位于扇出區(qū)，第二開關(guān)陣列包括多個(gè)第二開關(guān)，每個(gè)第二開關(guān)將對(duì)應(yīng)一個(gè)信號(hào)線端子與測試數(shù)據(jù)線連接；以及測試控制線，與多個(gè)第一開關(guān)的控制端、多個(gè)第二開關(guān)的控制端連接，用于提供控制第一開關(guān)、第二開關(guān)通斷的測試控制信號(hào)。

另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示面板，其包括前述任一實(shí)施方式的陣列基板。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的陣列基板，測試組件包括第一開關(guān)陣列和第二開關(guān)陣列，其中第一開關(guān)陣列位于多個(gè)信號(hào)端子的背離顯示區(qū)的一側(cè)，第二開關(guān)陣列所述扇出區(qū)。即其中一部分測試組件被轉(zhuǎn)移至扇出區(qū)，從而減少測試組件對(duì)芯片集成區(qū)的占用。當(dāng)陣列基板的芯片集成區(qū)面積較小時(shí)，可以將芯片集成區(qū)無法容納的一部分測試組件設(shè)置于扇出區(qū)，保證陣列基板具有完整的測試組件，使得陣列基板具有完整的顯示測試功能，能夠?qū)ι瘸龅母餍盘?hào)線進(jìn)行檢測，便于及時(shí)發(fā)現(xiàn)陣列基板的信號(hào)線連接不良，以更合理的結(jié)構(gòu)布局實(shí)現(xiàn)陣列基板的完整功能。

附圖說明

通過閱讀以下參照附圖對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯，其中，相同或相似的附圖標(biāo)記表示相同或相似的特征，附圖并未按照實(shí)際的比例繪制。

圖1是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施例提供的陣列基板的俯視示意圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施例提供的陣列基板中第二開關(guān)陣列處的局部放大示意圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明又一種實(shí)施例提供的陣列基板的俯視示意圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明又一種實(shí)施例提供的陣列基板中第一開關(guān)陣列處的局部放大示意圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明又一種實(shí)施例提供的陣列基板的俯視示意圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明又一種實(shí)施例提供的陣列基板中第一開關(guān)陣列處的局部放大示意圖；