[發明專利]保持件以及測定用夾具

在審

• 申請號: 202010616244.8
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN112179285A
• 公開（公告）日: 2021-01-05
• 發明（設計）人: 八日市屋元男;半田宏治;杉野明彥;田中仁;上村健太郎
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G01B21/20;B25B11/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 劉文海

本發明提供一種保持件以及測定用夾具。保持件具備：基座，其具有設置被保持物的設置面；以及彈簧座，其利用多個按壓部對被保持物向設置面施力而對被保持物進行保持。

技術領域

本發明涉及對被保持物進行保持的保持件以及測定用夾具。

背景技術

關于能夠在測定透鏡的表面和背面的形狀時高精度地測定表面和背面的傾斜以及偏心的測定方法以及裝置的方案已被提出(例如，參照專利文獻1)。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2006-78398號公報

發明內容

本發明的保持件具備：基座，其具有設置被保持物的設置面；以及

彈簧座，其利用多個按壓部對所述被保持物向所述設置面施力而對所述被保持物進行保持。

附圖說明

圖1A是示出實施方式1的保持件的結構的概要立體圖。

圖1B是圖1A的保持件的側視圖。

圖1C是示出包括由圖1A的保持件的端部保持的一個透鏡和端部的螺釘在內的剖面的、沿A-A方向觀察到的概要剖視圖。

圖1D是示出包括由圖1C的保持件的端部保持的一個透鏡在內的剖面的、沿B-B方向觀察到的概要剖視圖。

圖2A是示出構成保持件的各構件的配置的保持件的分解立體圖。

圖2B是示出圖2A的各構件中收納了螺釘的狀態的保持件的分解立體圖。

圖3A是示出基座的一例的結構的概要平面圖。

圖3B是示出在圖3A的基座的一個開口部設置的抵接部的局部概要放大圖。

圖4A是示出基座的另一例的結構的概要平面圖。

圖4B是示出在圖4A的基座的一個開口部設置的抵接部的局部概要放大圖。

圖5A是示出基座的又一例的結構的概要平面圖。

圖5B是示出在圖5A的基座的一個開口部設置的抵接部的局部概要放大圖。

圖6是示出框座的結構的概要平面圖。

圖7是示出彈簧座的上表面的結構的概要俯視圖。

圖8A是示出彈簧座的下表面的一例的結構的概要仰視圖。

圖8B是示出在圖8A的彈簧座的一個開口部設置的按壓部的局部概要放大圖。

圖9A是示出彈簧座的下表面的另一例的結構的概要仰視圖。

圖9B是示出在圖9A的彈簧座的一個開口部設置的按壓部以及抵接部的局部概要放大圖。

圖10A是示出彈簧座的下表面的又一例的結構的概要仰視圖。

圖10B是示出在圖10A的彈簧座的一個開口部設置的按壓部以及抵接部的局部概要放大圖。

圖11A是示出利用基座和彈簧座的按壓部來保持透鏡的狀態的概要剖視圖。

圖11B是示出利用基座和彈簧座的按壓部來保持透鏡的其他狀態的概要剖視圖。

圖12是示出對透鏡施力的載荷和支承透鏡的支承力所作用的部位錯開的狀態的概要剖視圖。

圖13A是示出實施方式1的測定用夾具的結構的概要立體圖。

圖13B是圖13A的測定用夾具的下表面側的概要立體圖。