[發明專利]雙波長激光拉曼光譜儀

在審

• 申請號: 202010615688.X
• 申請日: 2020-07-01
• 公開（公告）號: CN111504457A
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發明（設計）人: 張恒
• 申請（專利權）人: 北京卓立漢光儀器有限公司
• 主分類號: G01J3/44
• 分類號: G01J3/44;G01J3/02
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王濤;任默聞

1.一種雙波長激光拉曼光譜儀，其特征在于，包括：

雙光柵光譜儀、激光發射收集裝置和控制器；

所述雙光柵光譜儀包括雙光柵臺、第一光學元件和探測器；所述激光發射收集裝置包括雙波長激光模塊和雙濾光片組；所述雙波長激光模塊用于發射第一波長激光或第二波長激光；

所述雙光柵臺包括兩個分別與所述第一波長激光和所述第二波長激光一一對應的光柵；所述雙濾光片組包括兩個分別與所述第一波長激光和所述第二波長激光一一對應的濾光片組；

所述控制器分別與所述雙光柵臺、所述雙波長激光模塊和所述濾光片組連接，用于控制所述雙波長激光模塊發射第一波長激光或第二波長激光，并將發射激光對應的濾光片組移動到所述雙波長激光模塊的發射光路，將所述波長對應的光柵旋轉到測量光路；

所述雙波長激光模塊發射的激光經所述激光對應的濾光片組反射到被測目標物，所述被測目標物受激輻射生成的拉曼信號經該濾光片組透射進入所述雙光柵光譜儀；

所述拉曼信號經所述波長對應的光柵衍射后，再經第一光學元件會聚到所述探測器以得到拉曼光譜圖譜信息。

2.根據權利要求1所述的雙波長激光拉曼光譜儀，其特征在于，還包括：與所述控制器連接的光學元件組；

所述控制器在開啟所述雙波長激光模塊前將所述光學元件組移出觀察光路。

3.根據權利要求2所述的雙波長激光拉曼光譜儀，其特征在于，還包括：第二光學元件、成像采集裝置和與所述控制器連接的光源；所述光學元件組包括第三光學元件和第四光學元件；

所述控制器開啟所述光源，將所述光學元件組移入所述觀察光路；

所述光源發出的光經所述第三光學元件反射到所述第四光學元件，再經所述第四光學元件透射至所述被測目標物；

所述被測目標物的反射光經所述第四光學元件反射到所述第二光學元件，再經所述二光學元件反射到所述成像采集裝置以得到所述被測目標物的成像。

4.根據權利要求3所述的雙波長激光拉曼光譜儀，其特征在于，還包括：第五光學元件；

所述雙波長激光模塊發射的激光經所述激光對應的濾光片組反射到所述第五光學元件，再經所述第五光學元件會聚到所述被測目標物；所述被測目標物受激輻射生成的拉曼信號經所述第五光學元件準直后傳播至該濾光片組；

所述光源發出的光經所述第三光學元件反射到所述第四光學元件，經所述第四光學元件透射到所述第五光學元件，再經所述第五光學元件會聚到所述被測目標物；所述被測目標物的反射光經所述第五光學元件準直后傳播至所述第四光學元件。

5.根據權利要求1所述的雙波長激光拉曼光譜儀，其特征在于，所述激光發射收集裝置還包括：第六光學元件；

所述被測目標物受激輻射生成的拉曼信號經該濾光片組透射到所述第六光學元件，再經所述第六光學元件會聚進入所述雙光柵光譜儀的入射口。

6.根據權利要求1所述的雙波長激光拉曼光譜儀，其特征在于，所述濾光片組包括干涉濾光片、二向色鏡和截止濾光片；

所述雙波長激光模塊發射的激光經所述激光對應的濾光片組的干涉濾光片純化后經所述二向色鏡反射到被測目標物，所述被測目標物受激輻射生成的拉曼信號經所述二向色鏡透射到所述截止濾光片，經所述截止濾光片過濾后進入所述雙光柵光譜儀。

7.根據權利要求1所述的雙波長激光拉曼光譜儀，其特征在于，所述雙光柵光譜儀還包括：第七光學元件和第八光學元件；

所述拉曼信號經所述第七光學元件準直后傳播至所述第八光學元件，經所述第八光學元件反射至所述波長對應的光柵。

8.根據權利要求1所述的雙波長激光拉曼光譜儀，其特征在于，所述雙光柵臺還包括光柵臺支架，所述兩個光柵相背安裝在所述光柵臺支架上；

所述控制器根據所述發射激光的波長控制所述光柵臺支架將所述波長對應的光柵旋轉到所述測量光路。