[發明專利]一種IGBT器件測試電路及測試方法

在審

• 申請號: 202010608422.2
• 申請日: 2020-06-29
• 公開（公告）號: CN111707919A
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 李堯圣;李金元;楊曉亮;陳中圓;陳艷芳;李翠;劉穎含
• 申請（專利權）人: 全球能源互聯網研究院有限公司;國家電網有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/52
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 劉靜

1.一種IGBT器件測試電路，其特征在于，包括：雙脈沖測試模塊、電流耐受能力測試模塊、采集模塊及保護模塊，其中，

雙脈沖測試模塊，其第一端與IGBT集電極連接，其第二端分別與所述保護模塊的第一端及接地端連接，用于測試IGBT的開通、關斷性能；

電流耐受能力測試模塊，其第一端與IGBT集電極連接，其第二端與保護模塊的第二端連接，用于在模擬換流閥雙極性短路情況下，對IGBT的電流耐受能力進行測試；

采集模塊，其第一端與IGBT集電極連接，其第二端及第三端均與IGBT發射極連接，用于采集IGBT集射極電壓及發射極電流；

保護模塊，其第二端還與采集模塊的第三端連接，用于當IGBT集射極電壓和/或發射極電流超過對應的預設閾值時，切斷所述雙脈沖測試模塊與所述IGBT的連接。

2.根據權利要求1所述的IGBT器件測試電路，其特征在于，還包括：

加熱板，用于將IGBT的溫度加熱到IGBT預設工作溫度。

3.根據權利要求1所述的IGBT器件測試電路，其特征在于，所述雙脈沖測試模塊包括：電壓源、充電單元及通斷測試單元，其中，

電壓源，與所述充電單元的輸入端并聯連接，用于為所述充電單元提供充電電壓；

充電單元，其第一輸出端與所述通斷測試單元的第一端連接，其第二輸出端與所述保護模塊的第一端連接，用于為所述通斷測試單元充電；

通斷測試單元，其第二端與所述IGBT的集電極連接，用于測試IGBT的開通、關斷性能。

4.根據權利要求3所述的IGBT器件測試電路，其特征在于，所述充電單元包括：

充電開關，其第一端與所述電壓源的正極連接；

放電開關，其第一端與所述充電開關的第二端連接；

放電電阻，其第一端與所述放電開關的第二端連接，其第二端與所述電壓源的負極連接；

充電電阻，其第一端與所述放電電阻的第二端連接，其第二端分別與接地端及所述保護模塊的第一端連接；

電容，其第一端與所述放電開關的第一端連接，其第二端分別與所述充電電阻的第二端及接地端連接。

5.根據權利要求4所述的IGBT器件測試電路，其特征在于，所述通斷測試單元包括：

電感，其第一端與所述電容第一端連接；

二極管，其第一端與所述電感的第一端連接，其第二端與所述電感的第二端連接；

第一隔離開關，其第一端與所述電感的第二端連接，其第二端與所述IGBT的集電極連接。

6.根據權利要求1所述的IGBT器件測試電路，其特征在于，所述電流耐受能力測試模塊包括：第二隔離開關及電流源，其中，

電流源，其正極與所述第二隔離開關的第一端連接，其負極與所述保護模塊的第二端連接，用于為IGBT提供測試電流；

第二隔離開關，其第二端與所述IGBT的集電極連接，用于控制所述電流源為IGBT提供測試電流的時間。

7.一種IGBT器件測試方法，其特征在于，基于權利要求1-6任一項所述的IGBT器件測試電路對IGBT器件進行測試，所述IGBT器件測試方法包括：

閉合充電開關，同時斷開放電開關、第一隔離開關及第二隔離開關；

判斷電容電壓是否達到預設測試電壓，當電容電壓達到預設測試電壓后，閉合第二隔離開關，接收外部控制器發送的導通驅動信號，對IGBT進行電流耐受能力測試，所述閉合驅動信號用于控制IGBT導通；

判斷對IGBT進行電流耐受能力測試的持續時間是否達到預設浪涌電流持續時間，當對IGBT進行電流耐受能力測試的持續時間達到預設測試時間后，斷開第二隔離開關，閉合第一隔離開關，對IGBT進行雙脈沖測試；

雙脈沖測試完成后，斷開第一隔離開關及充電開關，閉合放電開關。