[發(fā)明專(zhuān)利]能量刻度曲線獲取方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010604518.1 | 申請(qǐng)日： | 2020-06-29 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN111714147A | 公開(kāi)（公告）日： | 2020-09-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王旭明 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | A61B6/03 | 分類(lèi)號(hào)： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 杭州華進(jìn)聯(lián)浙知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33250 | 代理人： | 陳涵 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 能量 刻度 曲線 獲取 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種能量刻度曲線獲取方法，其特征在于，包括：
獲取探測(cè)器接收到的來(lái)自于探測(cè)器晶體自身輻射粒子的本底事件；
對(duì)所述本底事件進(jìn)行甄別，得到多個(gè)ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值；
根據(jù)多個(gè)所述ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值，得到能量刻度曲線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的能量刻度曲線獲取方法，其特征在于，所述對(duì)所述本底事件進(jìn)行甄別，得到多個(gè)ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值包括：
根據(jù)所述本底事件，得到多種核素的伽瑪衰變特征能峰；
對(duì)多種所述核素的伽瑪衰變特征能峰進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到相應(yīng)特征能峰的ADC值；
選取至少三個(gè)伽瑪衰變特征能峰以及相應(yīng)伽瑪衰變特征能峰對(duì)應(yīng)的ADC值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的能量刻度曲線獲取方法，其特征在于，所述選取至少三個(gè)伽瑪衰變特征能峰以及相應(yīng)伽瑪衰變特征能峰對(duì)應(yīng)的ADC值包括：
選取0keV、307keV和596keV三個(gè)伽瑪衰變特征能峰以及相應(yīng)伽瑪衰變特征能峰對(duì)應(yīng)的ADC值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的能量刻度曲線獲取方法，其特征在于，所述根據(jù)多個(gè)所述ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值，得到能量刻度曲線包括：
對(duì)多個(gè)所述ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值進(jìn)行插值擬合，得到能量刻度曲線。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的能量刻度曲線獲取方法，其特征在于，所述根據(jù)多個(gè)所述ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值，得到能量刻度曲線之后包括：
根據(jù)所述能量刻度曲線，確定能量刻度曲線上任意能峰值對(duì)應(yīng)的ADC值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的能量刻度曲線獲取方法，其特征在于，所述根據(jù)多個(gè)所述ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值，得到能量刻度曲線之后包括：
根據(jù)所述能量刻度曲線，確定511keV能峰值對(duì)應(yīng)的ADC值。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的能量刻度曲線獲取方法，其特征在于，
所述探測(cè)器接收來(lái)自于探測(cè)器晶體自身輻射粒子的本底事件的時(shí)長(zhǎng)不小于30分鐘。
8.一種能量刻度曲線獲取裝置，其特征在于，包括：
獲取模塊，用于獲取探測(cè)器接收到的來(lái)自于探測(cè)器晶體自身輻射粒子的本底事件；
甄別模塊，用于對(duì)所述本底事件進(jìn)行甄別，得到多個(gè)ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值；
曲線計(jì)算模塊，用于根據(jù)多個(gè)所述ADC值以及對(duì)應(yīng)的核素的伽瑪衰變特征能峰值，得到能量刻度曲線。
9.一種PET探測(cè)器晶體能量校正方法，其特征在于，利用權(quán)利要求1至7中任一種能量刻度曲線獲取方法獲取能量刻度曲線，確定511keV能峰值對(duì)應(yīng)的ADC值，根據(jù)所述確定后的511keV能峰值對(duì)應(yīng)的ADC值對(duì)PET探測(cè)器晶體能量進(jìn)行校正。
10.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的能量刻度曲線獲取方法或如權(quán)利要求9所述的PET探測(cè)器晶體能量校正方法。
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