[發明專利]死時間校正方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202010601040.7
• 申請日: 2020-06-29
• 公開（公告）號: CN111914393A
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 劉益林
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;A61B6/03;A61B6/00
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 朱五云

1.一種死時間校正方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取第一符合事件信息；

利用預先標定的單事件校正模型對所述第一符合事件信息進行死時間校正，得到第二符合事件信息；

利用預先標定的符合事件校正模型對所述第二符合事件信息再次進行死時間校正，得到第三符合事件信息。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述利用預先標定的單事件校正模型對所述第一符合事件信息進行死時間校正之前，所述方法還包括：

記錄標定過程中每次采集的開始時刻、采集時長和單事件計數率；

利用非癱瘓模型和所述每次采集的開始時刻、采集時長和單事件計數率，得到所述單事件校正模型。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述利用預先標定的符合事件校正模型對所述第二符合事件信息再次進行校正之前，所述方法還包括：

記錄標定過程中的單事件計數率和符合事件計數率；所述符合事件計數率為根據標定過程中的符合事件信息計算得到的；

基于所述單事件校正模型、所述標定過程中的單事件計數率和符合事件計數率，得到符合單事件比；

根據所述標定過程中的單事件計數率和所述符合單事件比進行模型擬合，得到所述符合事件校正模型。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述標定過程中的單事件計數率和符合事件計數率，得到符合單事件比，包括：

利用所述單事件校正模型分別對所述標定過程中的單事件計數率和符合事件計數率進行校正，得到校正后的單事件計數率和校正后的符合事件計數率；

計算所述校正后的符合事件計數率與所述校正后的單事件計數率的比值，得到所述符合單事件比。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述標定過程中的單事件計數率和所述符合單事件比進行模型擬合，得到所述符合事件校正模型，包括：

以預設活度下的符合單事件比為基準，計算出多個不同活度下的符合單事件比；

根據所述預設活度下的符合單事件比和所述多個不同活度下的符合單事件比，計算出多個活度下的符合單事件比的降低比例；

根據所述標定過程中的單事件計數率和所述多個不同活度下的符合單事件比的降低比例進行模型擬合，得到所述符合事件校正模型。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據所述標定過程中的單事件計數率和所述多個不同活度下的符合單事件比的降低比例進行模型擬合，得到所述符合事件校正模型，包括：

將所述多個不同活度下符合單事件比的降低比例作為因變量，將所述標定過程中的單事件計數率作為自變量進行多項式模型擬合，得到所述符合事件校正模型。

7.根據權利要求1-6任一項所述的方法，其特征在于，第一符合事件信息包括瞬時符合事件信息與延遲符合事件信息之和。

8.一種死時間校正裝置，其特征在于，所述裝置包括：

信息獲取模塊，用于獲取第一符合事件信息；

第一校正模塊，用于利用預先標定的單事件校正模型對所述第一符合事件信息進行死時間校正，得到第二符合事件信息；

第二校正模塊，用于利用預先標定的符合事件校正模型對所述第二符合事件信息再次進行校正，得到的第三符合事件信息。

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。