[發明專利]一種柔性顯示面板及其展平度測試方法有效
| 申請號: | 202010600656.2 | 申請日: | 2020-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN111735392B | 公開(公告)日: | 2022-09-06 |
| 發明(設計)人: | 陳宗志 | 申請(專利權)人: | 合肥維信諾科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02;G01B11/30;G09F9/30 |
| 代理公司: | 北京遠智匯知識產權代理有限公司 11659 | 代理人: | 范坤坤 |
| 地址: | 230000 安徽省合*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 柔性 顯示 面板 及其 平度 測試 方法 | ||
1.一種柔性顯示面板的展平度測試方法,所述柔性顯示面板包括彎折區和非彎折區,其特征在于,包括:
在柔性顯示面板進行預設次數的彎折后,獲取測試數據,所述測試數據包括多個非展平區坐標和多個展平區坐標;
根據所述測試數據,計算所述柔性顯示面板的折痕寬度和展平度;
所述非展平區包括所述彎折區和部分與所述彎折區相鄰的所述非彎折區,所述展平區包括所述柔性顯示面板除所述非展平區外的其他區域;
所述獲取測試數據包括:
利用三次元測量儀在非展平區內讀取N個所述非展平區坐標,以及在展平區內讀取M個所述展平區坐標;
N個所述非展平區坐標在X軸上的取值相同、且在Y軸上均勻分布,N=[(L1/D)*a];
M個所述展平區坐標在X軸上的取值與N個所述非展平區坐標在X軸上的取值相同,M個所述展平區坐標在Y軸上均勻分布、且相鄰的兩個所述展平區坐標在Y軸上的距離大于等于0.1*L2,[]表示取整;
其中,L1為所述彎折區平行于彎折軸的長度,D=π*(R+b*T),R為所述彎折區的彎折半徑,T為所述柔性顯示面板的屏體厚度,b為經驗系數,a為正整數,L2為所述柔性顯示面板垂直于彎折軸的長度;
所述計算所述柔性顯示面板的折痕寬度包括:
根據N個所述非展平區坐標和M個所述展平區坐標在Z軸上的取值,確定折痕邊界;
根據所述折痕邊界,計算所述柔性顯示面板的折痕寬度;
所述計算所述柔性顯示面板的展平度包括:
根據N個所述非展平區坐標和M個所述展平區坐標在Z軸上的取值,確定展平度,其中,所述展平度為N個所述非展平區坐標在Z軸上的最大值減去M個中任意一個所述展平區坐標在Z軸上的取值;
或者,所述獲取測試數據包括:
利用光學影像測量儀拍攝所述柔性顯示面板以獲取所述測試數據;
所述計算所述柔性顯示面板的折痕寬度和展平度包括:獲取所述柔性顯示面板進行預設次數的彎折前的基準數據;
將所述基準數據與所述測試數據進行比對,計算所述柔性顯示面板的折痕寬度和展平度;
所述測試數據與所述基準數據的取點重合;
所述基準數據的取點包括:在非展平區內獲取N個點,并讀取N個點的非展平區坐標;在展平區內獲取M個點,并讀取M個點的展平區坐標;
N個所述非展平區坐標在X軸上的取值相同、且在Y軸上均勻分布,N=[(L1/D)*a];
M個所述展平區坐標在X軸上的取值與N個所述非展平區坐標在X軸上的取值相同,M個所述展平區坐標在Y軸上均勻分布、且相鄰的兩個所述展平區坐標在Y軸上的距離大于等于0.1*L2,[]表示取整;
其中,L1為所述彎折區平行于彎折軸的長度,D=π*(R+b*T),R為所述彎折區的彎折半徑,T為所述柔性顯示面板的屏體厚度,b為經驗系數,a為正整數,L2為所述柔性顯示面板垂直于彎折軸的長度。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,b的取值為0.318,a的取值為2。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,還包括:
判斷所述折痕寬度是否小于等于標準寬度、且所述展平度是否小于等于標準展平度;
若是,則說明所述柔性顯示面板的展平度測試合格。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述標準寬度為π*(R+b*T),R為所述彎折區的彎折半徑,T為所述柔性顯示面板的屏體厚度,b為經驗系數。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,b的取值為0.318。
6.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述展平度的取值為0.05mm。
7.一種柔性顯示面板,其特征在于,所述柔性顯示面板是采用如權利要求1-6中任一所述的柔性顯示面板的展平度測試方法進行展平度測試的。
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