[發明專利]PON光模塊檢測裝置及測試系統在審
| 申請號: | 202010599491.1 | 申請日: | 2020-06-28 | 
| 公開(公告)號: | CN113852881A | 公開(公告)日: | 2021-12-28 | 
| 發明(設計)人: | 湯朝輝 | 申請(專利權)人: | 中興通訊股份有限公司 | 
| 主分類號: | H04Q11/00 | 分類號: | H04Q11/00;H04B10/079 | 
| 代理公司: | 北京德崇智捷知識產權代理有限公司 11467 | 代理人: | 王斌 | 
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | pon 模塊 檢測 裝置 測試 系統 | ||
1.一種PON光模塊檢測裝置,包括:處理單元、第一光模塊單元、第二光模塊單元和光衰減單元,其中:
所述第一光模塊單元和所述第二光模塊單元相互作為對方的檢測方和待測方;
所述光衰減單元設置在所述第一光模塊單元和所述第二光模塊單元之間通信連接于所述處理單元,并且基于所述處理單元發送的控制指令控制鏈路的光功率;
所述處理單元發送測試指令至所述第一光模塊單元和所述第二光模塊單元以對所述待測方進行測試。
2.如權利要求1所述的PON光模塊檢測裝置,所述第一光模塊單元包括m個OLT光模塊,所述第二光模塊單元包括m個ONU光模塊組,所述m個OLT光模塊和所述m個ONU光模塊組對應形成m個測試組,所述ONU光模塊組包括n個ONU光模塊,m為小于等于8的正整數,n為小于等于4的正整數。
3.如權利要求2所述的PON光模塊檢測裝置,當m小于等于8,n不等于1時,所述裝置還包括分光器單元,所述分光器單元設置于所述第一光模塊單元和所述光衰減單元之間。
4.如權利要求1至3中任一項所述的PON光模塊檢測裝置,當進行測試時,所述處理單元發送第一數據流業務至所述待測方,并且對應地接收所述檢測方返回的第二數據流業務,統計所述第一數據流業務和所述第二數據流業務后對所述待測方的數據流丟包率進行分析。
5.如權利要求4所述的PON光模塊檢測裝置,所述裝置還包括控制單元,用于與上位機通信連接,所述控制單元將測試數據上傳至所述上位機,并且將測試內容下發至所述處理單元。
6.如權利要求4所述的PON光模塊檢測裝置,當進行不同測試時,至少所述第一光模塊單元或者所述第二光模塊單元包括不同封裝形式的光模塊,所述裝置還包括基座和多個子卡,至少所述處理單元設置于所述基座上,所述多個子卡用于分別安裝所述不同封裝形式的光模塊,所述基座和所述子卡分別包括插座,所述不同封裝形式的光模塊中的一個對應地插接至所述多個子卡中一個的所述插座后所述子卡插接至所述基座的所述插座,以使所述不同封裝形式的光模塊中的一個連接至所述處理單元。
7.如權利要求6所述的PON光模塊檢測裝置,當進行不同測試時,至少所述第一光模塊單元或者所述第二光模塊單元包括不同類型的光模塊,將所述不同類型的光模塊的特性相同的管腳連接至所述處理單元的同一接口。
8.如權利要求7所述的PON光模塊檢測裝置,所述基座上設置有下拉電阻,通過BOM選焊實現所述下拉電阻與所述處理單元的連接或者斷開以對所述不同類型的光模塊的管腳進行兼容處理。
9.如權利要求7所述的PON光模塊檢測裝置,在進行不同測試時,將所述不同類型的光模塊的不同速率的數據管腳或者不同功能的控制管腳連接至所述處理單元的同一接口;和/或在進行不同測試時,將所述不同類型的光模塊的低速控制管腳和NC管腳連接至所述處理單元的同一接口。
10.一種PON光模塊測試系統,包括上位機和如權利要求1至9中任一項所述的PON光模塊檢測裝置,所述PON光模塊檢測裝置并聯連接至所述上位機。
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