[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于反應(yīng)離子刻蝕的黑硅鈍化接觸電池的制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010597522.X | 申請(qǐng)日: | 2020-06-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111933745A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-11-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳程;吳偉梁;包杰;馬麗敏;陳嘉;劉志鋒;林建偉 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 泰州中來(lái)光電科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L31/18 | 分類(lèi)號(hào): | H01L31/18;H01L21/3065;H01L21/02;H01L31/0236;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 北京金之橋知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11137 | 代理人: | 李托弟;朱黎光 |
| 地址: | 225500 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 反應(yīng) 離子 刻蝕 鈍化 接觸 電池 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種基于反應(yīng)離子刻蝕的黑硅鈍化接觸電池的制備方法。該方法包括:對(duì)制絨后的n型單晶硅基體前表面進(jìn)行反應(yīng)離子刻蝕處理,以在微米級(jí)的金字塔結(jié)構(gòu)上形成納米級(jí)孔洞結(jié)構(gòu);清洗n型單晶硅基體,以去除反應(yīng)離子刻蝕過(guò)程中產(chǎn)生的殘留物和離子轟擊形成的損傷層,并對(duì)所述納米級(jí)孔洞結(jié)構(gòu)進(jìn)行擴(kuò)孔處理;對(duì)n型單晶硅基體進(jìn)行后處理。本發(fā)明的制備方法不會(huì)引入金屬離子,其對(duì)后續(xù)的清洗工藝要求不高,且能獲得定制大小的納米級(jí)孔洞結(jié)構(gòu),其工藝簡(jiǎn)單,穩(wěn)定性可靠,適用于大規(guī)模量產(chǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及太陽(yáng)能電池技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于反應(yīng)離子刻蝕的黑硅鈍化接觸電池的制備方法。
背景技術(shù)
在晶體硅太陽(yáng)電池中,光學(xué)、電學(xué)和電阻損失是限制太陽(yáng)能電池效率的主要因素。目前已有的商業(yè)化晶體硅太陽(yáng)電池中,多晶太陽(yáng)能電池采用酸制絨,形成蠕蟲(chóng)狀的孔洞結(jié)構(gòu),制絨后表面反射率在16%-20%;相較于多晶電池,單晶電池表面采用堿制絨技術(shù),形成金字塔結(jié)構(gòu),可以獲得比常規(guī)多晶電池更低的表面反射率,制絨后反射率為11%-13%。由于多晶硅片金剛線(xiàn)切割的推廣,常規(guī)的酸制絨工藝后表面反射率更高,并且伴有明顯的線(xiàn)痕等外觀缺陷,嚴(yán)重影響多晶電池效率,黑硅技術(shù)可以完美的解決這一問(wèn)題。
目前,國(guó)內(nèi)已經(jīng)有一些廠商將該黑硅技術(shù)應(yīng)用到多晶電池生產(chǎn)中,該技術(shù)可以降低表面反射率,提升電池的短路電流,從而提升電池效率。然而,黑硅技術(shù)在單晶電池中的應(yīng)用卻鮮有報(bào)道。在單晶電池中疊加黑硅技術(shù),可以進(jìn)一步的降低電池表面反射率,提升短路電流,從而提升電池效率;此外,黑硅單晶電池表面各角度反射率均很低,而常規(guī)單晶只對(duì)垂直入射的光反射率低,黑硅TOPCon電池可以滿(mǎn)足特斯拉瓦的需求。
目前,常用的黑硅技術(shù)有如下幾種:1)激光刻蝕法、2)氣相腐蝕法、3)金屬催化化學(xué)腐蝕法。其中,激光刻蝕法和氣相腐蝕法由于設(shè)備造價(jià)昂貴,在產(chǎn)業(yè)化中應(yīng)用很少,一般用于實(shí)驗(yàn)室研究。
金屬催化化學(xué)腐蝕法在多晶電池產(chǎn)業(yè)中有廣泛的應(yīng)用,其主要利用金屬的催化能力,通過(guò)利用AgNO3/H2O2的混合溶液或者CuSO4/HF的混合溶液來(lái)刻蝕硅表面。其原理為:溶液中的金屬離子擴(kuò)散到硅片表面后,從硅片中吸收電子被還原成金屬單質(zhì)吸附在硅片表面,同時(shí)將金屬單質(zhì)下的硅氧化成氧化硅,隨著反應(yīng)的持續(xù)進(jìn)行,在硅片表面形成納米級(jí)孔洞結(jié)構(gòu)。該制備方法會(huì)引入金屬離子,這將對(duì)后續(xù)的清洗要求更高;并且,該制備方法中,形成的納米級(jí)孔洞結(jié)構(gòu)的尺寸與引入的金屬粒子大小的相關(guān),無(wú)法獲得定制大小的孔洞結(jié)構(gòu)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種基于反應(yīng)離子刻蝕的黑硅鈍化接觸電池的制備方法。
本發(fā)明的一種基于反應(yīng)離子刻蝕的黑硅鈍化接觸電池的制備方法,包括以下步驟:
(1)、對(duì)制絨后的n型單晶硅基體前表面進(jìn)行反應(yīng)離子刻蝕處理,以在微米級(jí)的金字塔結(jié)構(gòu)上形成納米級(jí)孔洞結(jié)構(gòu);
(2)、清洗步驟(1)處理后的n型單晶硅基體,以去除反應(yīng)離子刻蝕過(guò)程中產(chǎn)生的殘留物和離子轟擊形成的損傷層,并對(duì)所述納米級(jí)孔洞結(jié)構(gòu)進(jìn)行擴(kuò)孔處理;
(3)、對(duì)步驟(2)處理后的n型單晶硅基體進(jìn)行后處理。
本發(fā)明提供的一種基于反應(yīng)離子刻蝕的黑硅鈍化接觸電池的制備方法,還包括如下附屬技術(shù)方案:
其中,在步驟(1)中,
反應(yīng)離子刻蝕的氣體為SF4、CL2與O2的混合氣體,反應(yīng)離子刻蝕的功率為100-600w;其中,SF4、CL2與O2的體積比為1:1:2-1:1:4。
其中,在步驟(1)中,
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專(zhuān)門(mén)適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





