[發明專利]多孔徑激光發射定位檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 202010597243.3
• 申請日: 2020-06-28
• 公開（公告）號: CN111722182A
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 孫鑫鵬;史俊鋒;李曄;蔣廣通;王彤璐;李川;張志強;羅媛;王旭鵬;段京豐;李建婷;徐林;李青松;韓松;白海濱
• 申請（專利權）人: 中國兵器裝備研究院
• 主分類號: G01S5/16
• 分類號: G01S5/16
• 代理公司: 北京金咨知識產權代理有限公司 11612
• 代理人: 宋教花

1.一種多孔徑激光發射定位檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括輸出模塊、成像模塊和數據處理模塊；

所述輸出模塊用于輸出多路激光，對多路激光進行準直，并改變準直激光的發射方向，對其進行擴束，所述輸出模塊包括：

多通道激光源，用于輸出多路激光；

準直器陣列，包括多個準直器單元，用于將所述多通道激光源輸出的多路激光進行準直，以獲得多路準直激光；

偏擺鏡陣列，包括多個偏擺鏡單元，改變所述多路準直激光的發射方向；

輸出鏡陣列，包括多個輸出鏡單元，用于對經由所述偏擺鏡陣列的各路輸出激光進行擴束；

所述成像模塊用于對所述輸出模塊輸出的多路激光進行聚焦、分路和成像，以獲得采樣探測聚焦光斑的圖像信息，所述成像模塊包括：

聚焦鏡，用于對所述輸出鏡陣列輸出的多路激光進行聚焦；

激光分路器，用于對所述聚焦鏡聚焦的激光進行分路，以獲得采樣探測激光；

激光成像器，用于對所述激光分路器獲得的采樣探測激光進行成像，以獲得采樣探測聚焦光斑的圖像信息；

所述數據處理模塊用于對所述成像模塊獲得的采樣探測聚焦光斑的圖像信息進行運算處理，所述數據處理模塊包括：

圖像處理器，用于對所述激光成像器獲得的圖像信息進行運算處理，以獲得用于激光發射定位檢測的數據。

2.根據權利要求1所述的多孔徑激光發射定位檢測裝置，其特征在于，

所述輸出模塊還包括：

指向控制器，用于產生控制信號并輸出至所述偏擺鏡陣列，指向控制器與所述偏擺鏡陣列相連接；

所述數據處理模塊還包括：

輸出顯示器，用于對所述圖像處理器獲得的用于激光發射定位檢測的數據進行顯示輸出。

3.根據權利要求2所述多孔徑激光發射定位檢測裝置，其特征在于，

所述偏擺鏡陣列的偏擺鏡單元采用以下的一種或多種：電控平面反射鏡、反射式或透射式的液晶光束偏擺鏡；

所述指向控制器采用與所述偏擺鏡單元相對應的控制器，并輸出相應的控制信號至偏擺鏡陣列，以使得各路激光的采樣探測聚焦光斑均位于激光成像器的有效感光面上，且任意兩個采樣探測聚焦光斑的間隔距離大于這兩個光斑的半徑之和。

4.根據權利要求1所述的多孔徑激光發射定位檢測裝置，其特征在于，所述多通道激光源是多臺獨立的激光器或是由一臺激光器進行多個通道分路實現的。

5.根據權利要求1所述的多孔徑激光發射定位檢測裝置，其特征在于，所述準直器陣列與多通道激光源的接口采用機械適配器連接或采用光纖熔接連接；

所述準直激光的直徑小于相應的偏擺鏡單元的有效光束口徑。

6.根據權利要求1所述的多孔徑激光發射定位檢測裝置，其特征在于，所述輸出鏡陣列的每個輸出鏡單元包括一片或多片球面鏡和/或一片或多片非球面鏡，各輸出鏡單元之間采用圓形、正六邊形或矩形的排布方式。

7.根據權利要求1所述的多孔徑激光發射定位檢測裝置，其特征在于，所述激光分路器為楔形鏡組或立方棱鏡，其材料為石英玻璃或K9玻璃，所述激光分路器的鏡面通過鍍增透膜來提高激光的透過率。

8.根據權利要求1所述的多孔徑激光發射定位檢測裝置，其特征在于，

所述激光成像器采用對應多通道激光源波長的面陣成像器件，所述器件的單元像素尺寸小于單孔徑激光聚焦光斑半徑；

所述圖像處理器采用計算機、單片機或數字圖像處理器。