[發明專利]一種扁線永磁同步電機繞組損耗測試方法有效
| 申請號: | 202010593457.3 | 申請日: | 2020-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN111856273B | 公開(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發明(設計)人: | 康勁松;母思遠;武凱麗;姜后曉 | 申請(專利權)人: | 同濟大學 |
| 主分類號: | G01R31/34 | 分類號: | G01R31/34;G01R31/72 |
| 代理公司: | 上海科盛知識產權代理有限公司 31225 | 代理人: | 丁云 |
| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 永磁 同步電機 繞組 損耗 測試 方法 | ||
本發明涉及一種扁線永磁同步電機繞組損耗測試方法,該方法包括如下步驟:S1、獲取負載試驗溫度下電機定子繞組的直流電阻值;S2、建立扁線繞組損耗解析模型,確定負載驗溫度下的高頻交流電阻值,同時考慮轉子的旋轉效應影響確定負載試驗溫度下的單相基頻交流電阻修正值;S3、對相電流進行傅里葉分解,對各個頻次下的焦耳損耗進行疊加得到單相繞組交流損耗;S4、各相繞組交流損耗求和得到電機定子繞組總的交流損耗。與現有技術相比,本發明綜合考慮集膚效應、鄰近效應以及轉子的旋轉效應對電機扁線繞組損耗的影響,提高了扁線繞組損耗測試的準確性,解決了扁線永磁同步電機繞組交流損耗測試難的問題。
技術領域
本發明涉及電機測試技術領域,尤其是涉及一種扁線永磁同步電機繞組損耗測試方法。
背景技術
在車用驅動電機高功率密度的發展趨勢下,扁線電機技術成為驅動電機新的發展方向。相對于傳統的圓導線電機,扁線電機的定子繞組受到高頻集膚效應和鄰近效應的影響更加顯著,使得繞組的渦流損耗增大,進而使得繞組的交流電阻無法用一直流電阻完全代替;同時,扁線繞組的交流電阻隨溫度的變化呈現非線性變化的趨勢。此外,由于電機實際工作在PWM供電模式下,電流諧波也會導致扁線繞組的附加損耗。故三相永磁同步電動機測試標準(GB/T22669-2008)中的繞組損耗測試方法已也不再適用于扁線電機繞組交流損耗的測試應用。
發明內容
本發明的目的就是為了克服上述現有技術存在的缺陷而提供一種扁線永磁同步電機繞組損耗測試方法,該方法提高了扁線永磁同步電機繞組損耗測試的準確性。
本發明的目的可以通過以下技術方案來實現:
一種扁線永磁同步電機繞組損耗測試方法,該方法包括如下步驟:
S1、獲取負載試驗溫度下電機定子繞組的直流電阻值;
S2、建立扁線繞組損耗解析模型,確定負載驗溫度下的高頻交流電阻值,同時考慮轉子的旋轉效應影響確定負載試驗溫度下的單相基頻交流電阻修正值;
S3、對相電流進行傅里葉分解,對各個頻次下的焦耳損耗進行疊加得到單相繞組交流損耗;
S4、各相繞組交流損耗求和得到電機定子繞組總的交流損耗。
優選地,步驟S1具體包括:
S11、保持電機的轉子靜止不動,測量電機定子出線端的電阻得到電機的直流相電阻R1,同時獲取定子繞組溫度T1;
S12、進行電機的負載試驗,得到電機在不同轉速與轉矩下得到穩態后的定子繞組溫度值Tt以及對應的電流波形,Tt確定為負載試驗溫度,進而求取負載試驗溫度下電機定子繞組的直流電阻值Rdc:
其中,K為常數。
優選地,步驟S2具體為:
S21、基于扁線繞組損耗解析模型確定扁線繞組的交流電阻增大系數與電阻率之間的函數關系;
S22、基于交流電阻增大系數和負載試驗溫度下電機定子繞組的直流電阻值確定基頻交流電阻值以及高頻交流電阻值;
S23、考慮電機轉子旋轉效應的影響,將由轉子旋轉引起的定子繞組附加損耗與定子繞組直流損耗的比值作為交流電阻的修正系數Kf;
S24、根據修正系數Kf對基頻交流電阻值進行修正得到基頻交流電阻修正值。
優選地,步驟S21中某相繞組的交流電阻增大系數表示為:
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