[發明專利]一種工件尺寸檢測方法、系統及工件尺寸檢測控制裝置

在審

• 申請號: 202010592756.5
• 申請日: 2020-06-25
• 公開（公告）號: CN111957589A
• 公開（公告）日: 2020-11-20
• 發明（設計）人: 郭宜煌;郭經軍;陳維;鮑劍;李丹;徐小龍
• 申請（專利權）人: 安捷睿（廈門）機器人有限公司
• 主分類號: B07C5/04
• 分類號: B07C5/04;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 深圳市達文創新知識產權代理事務所(普通合伙) 44396
• 代理人: 芮爽

1.一種工件尺寸檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

處理單元控制顯示單元顯示一參數設定界面，并獲取一輸入單元通過所述參數設定界面設定的檢測控制參數；其中，所述檢測控制參數包括工件類型、測量模式、測量參數；所述測量參數包括量程、上限標準件值、下限標準件值、高度補償值、公差名義值、超差上限、超差下限、報警上限、報警下限中的至少一種；

所述處理單元根據所述檢測控制參數讀取一控制表以獲取對應的驅動參數，并使用所述驅動參數驅動測量模式對應的高度檢測裝置和內部尺寸檢測裝置工作；其中，所述控制表預先設置，并用于記錄所述檢測控制參數與驅動參數的對應關系；

所述處理單元判斷一高度檢測裝置對待測量工件的檢測結果是否超過復位上下限；

所述處理單元當判斷未超過復位上下限時，使用所述高度補償值對所述高度檢測裝置的測量結果進行高度補償；

所述處理單元判斷所述高度檢測裝置和內部尺寸檢測裝置的檢測結果是否符合測量參數的定義，并當符合測量參數定義時判斷所述待測量工件為合格工件；當不符合測量參數定義時判斷所述待測量工件為不合格工件；其中，所述測量參數定義為所述高度檢測裝置和內部尺寸檢測裝置檢測到的數值滿足預先設定的公差范圍。

2.根據權利要求1所述的工件尺寸檢測方法，其特征在于，當所述高度檢測裝置對待測量工件的檢測結果超過復位上下限時，所述方法還包括：

所述處理單元生成復位控制指令以控制所述高度檢測裝置復位；

所述處理單元控制所述顯示單元顯示一內部尺寸測量校準界面以獲取所述輸入單元通過所述內部尺寸測量校準界面輸入的上限校準指令和下限校準指令，并分別根據所述上限校準指令和下限校準指令控制所述內部尺寸檢測裝置對放入的上限標準件和下限標準件進行測量，以得到校準后的上限標準件值和下限標準件值；

然后，執行所述“所述處理單元根據所述檢測控制參數讀取一控制表以獲取對應的驅動參數，并使用所述驅動參數驅動測量模式對應的高度檢測裝置和內部尺寸檢測裝置工作”。

3.根據權利要求1所述的工件尺寸檢測方法，其特征在于，還包括：

預先設置所述高度補償值；其中，所述處理單元控制所述顯示單元顯示一高度補償界面，獲取所述輸入單元通過所述高度補償界面輸入的高度補償指令，并根據所述高度補償指令驅動所述高度檢測裝置測量一標準件以得到標準件測量值，以及將所述標準件測量值與標準件實際值的差值作為所述高度補償值。

4.根據權利要求1所述的工件尺寸檢測方法，其特征在于，還包括：

預先設置所述上限標準件值、下限標準件值；其中，所述處理單元控制所述顯示單元顯示一內部尺寸測量校準界面，以獲取所述輸入單元通過所述內部尺寸測量校準界面輸入的上限校準指令和下限校準指令，并分別根據所述上限校準指令和下限校準指令控制內部尺寸檢測裝置對放入的上限標準件和下限標準件進行測量，以得到所述上限標準件值和下限標準件值。