[發明專利]測試用例、規則生成、芯片測試方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 202010592012.3
• 申請日: 2020-06-24
• 公開（公告）號: CN111752839A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 金羅軍;張夢娟;安世民
• 申請（專利權）人: 北京靈汐科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G01R31/28
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發明實施例公開了一種測試用例、測試用例規則的生成、芯片測試方法、裝置、設備及介質。測試用例的生成方法包括：根據與待測芯片匹配的原始用例規則庫，生成多條備選測試用例；調用golden系統提供的至少一項標準運算算子執行各所述備選測試用例，并獲取各所述備選測試用例的執行結果；根據所述執行結果，將各所述備選測試用例劃分為正常測試用例集以及異常測試用例集。本發明實施例的技術方案能夠快速、準確、自動化的生成符合測試需求的測試用例。

技術領域

本發明實施例涉及測試技術，尤其涉及一種測試用例、測試用例規則的生成、芯片測試方法、裝置、設備及介質。

背景技術

測試用例是為某個特殊目標而編制的一組測試輸入、執行條件以及預期結果，用于核實某一個待測系統(例如，應用程序或者數據處理芯片等)是否滿足某個特定的數據處理需求。測試用例一般包括正常測試用例或者異常測試用例。正常測試用例為預期結果為正常執行的測試用例，異常測試用例為預期結果為產生異常錯誤的測試用例。

無論是正常測試用例，還是異常測試用例，一般都是由有經驗的測試人員人工設計得到，測試人員需要徹底理解待測系統的各個功能模塊或者實現機制，才能編寫出滿足條件的測試用例。

發明人在實現本發明的過程中，發現現有技術存在如下缺陷：測試用例需要經驗豐富的測試人員深度了解待測系統后才能人工生成，對測試人員的要求高、實現成本高，且需要耗費大量的時間。

發明內容

本發明實施例提供了一種測試用例、測試用例規則的生成、芯片測試方法、裝置、設備及介質，以快速、準確、自動化的生成符合測試需求的測試用例。

第一方面，本發明實施例提供了一種測試用例的生成方法，該測試用例的生成方法，包括：

根據與待測芯片匹配的原始用例規則庫，生成多條備選測試用例；

調用golden系統提供的至少一項標準運算算子以執行各備選測試用例，并獲取各備選測試用例的執行結果；

根據執行結果，將各備選測試用例劃分為正常測試用例集以及異常測試用例集。

第二方面，本發明實施例還提供了一種測試用例規則的生成方法，該測試用例規則的生成方法，包括：

根據與待測芯片匹配的原始用例規則庫，生成多條備選測試用例；

調用golden系統提供的至少一項標準運算算子以執行各備選測試用例，并獲取各備選測試用例的執行結果；

根據執行結果，將各備選測試用例劃分為正常測試用例集以及異常測試用例集；

根據正常測試用例集，和/或異常測試用例集，生成正常用例規則庫和異常用例規則庫。

第三方面，本發明實施例還提供了一種芯片測試方法，該芯片測試方法，包括：

獲取目標測試用例；

調用golden系統提供的至少一項標準運算算子以執行目標測試用例，并獲取目標測試用例的第一執行結果；

調用待測芯片包括的至少一項硬件執行單元執行目標測試用例，并獲取目標測試用例的第二執行結果；

如果第一執行結果和第二執行結果不一致，則確定待測芯片未通過測試。

第四方面，本發明實施例還提供了一種測試用例的生成裝置，該測試用例的生成裝置，包括：

備選測試用例生成模塊，用于根據與待測芯片匹配的原始用例規則庫，生成多條備選測試用例；

執行結果獲取模塊，用于調用golden系統提供的至少一項標準運算算子以執行各備選測試用例，并獲取各備選測試用例的執行結果；