[發明專利]基于常規測井對致密儲層裂縫的精細識別方法

有效

• 申請號: 202010591691.2
• 申請日: 2020-06-24
• 公開（公告）號: CN111880234B
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發明（設計）人: 田杰;劉紅岐;司馬立強;劉詩瓊;劉向君;楊連剛
• 申請（專利權）人: 西南石油大學
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38;G01V3/18
• 代理公司: 成都魚爪智云知識產權代理有限公司 51308
• 代理人: 王珍

1.基于常規測井對致密儲層裂縫的精細識別方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一：排除測井曲線中非裂縫響應的影響因素；

步驟二：對裂縫發育段進行巖性約束，巖性是測井曲線響應的背景，控制著裂縫的發育，利用巖心、薄片觀察和巖化手段，對致密儲層基本巖性進行分析，致密層主要巖性包括灰巖、云巖、砂巖、泥巖；選擇厚層、巖性發育穩定層段，排除不同巖性的干擾，尋找穩定的裂縫發育的測井響應背景；

步驟三：進行裂縫尺度的識別，在常規測井能夠識別出的裂縫尺度基礎上，對裂縫進行更為精細的解釋，即進行裂縫尺度的約束；

步驟四：分大、小尺度裂縫，進行開啟程度以及充填物的識別；對于大尺度裂縫的開啟程度，利用深電阻率Rt與基巖電阻率Rb相對幅度差異可以進行區分，小尺度裂縫開啟程度通過深淺側向相對電阻率差值進行大致判斷；

步驟五：通過裂縫尺度與開啟程度的約束上，在大尺度開啟縫中進行裂縫產狀的識別，裂縫產狀包括高、低、水平角度裂縫；

步驟六：在尺度、開啟程度約束下，對大、小尺度開啟縫的裂縫發育程度進行識別，大尺度裂縫以裂縫線密度進行量化，小尺度裂縫通過薄片面縫率分為大、小兩個等級；從常規測井曲線來看，無論是大尺度裂縫還是小尺度裂縫，裂縫的發育程度越高，電阻率的下降就越明顯，聲波值隨著發育程度的變高也會出現增大的趨勢。

2.根據權利要求1所述的基于常規測井對致密儲層裂縫的精細識別方法，其特征在于，所述排除測井曲線中非裂縫響應的影響因素包括：

1薄層響應的排除；

2泥質響應的排除；

3井壁穩定性響應的排除。

3.根據權利要求1所述的基于常規測井對致密儲層裂縫的精細識別方法，其特征在于，所述進行裂縫尺度的識別，在常規測井能夠識別出的裂縫尺度基礎上，對所述尺度裂縫進行更為精細的解釋，即進行裂縫尺度的約束的步驟如下：

1首先對裂縫進行尺度分類，結合巖心、薄片和掃描電鏡手段，將裂縫分為大、小、微三種尺度；

2大尺度裂縫識別方法：高阻背景下的齒狀、指狀降低，降低后電阻率為中高值，低于3000Ω·m，在聲波曲線上常出現增大的趨勢，值大于48μs/ft；

3小尺度裂縫識別方法：電阻率在6000Ω·m左右，聲波值低值，對比于基巖背景，電阻率曲線出現齒狀下降，常下降為一個缺口，出現“平臺缺口型”；

4微尺度裂縫識別方法：厚層灰巖中電阻率出現指狀峰值，面縫率小，等于或接近基巖電阻率，由于巖性與厚度不同，電阻率常呈高幅、中幅、低幅指型，伽馬曲線背景為箱型平滑曲線，對應點有極小的增大；聲波值光滑，整體為箱型背景，電阻率呈“指型”高值是因為微裂縫的連通性與導電性都很差，相比于其他連通性好或泥質含量高的巖層，會在微裂縫發育段電阻率出現指型。

4.根據權利要求1所述的基于常規測井對致密儲層裂縫的精細識別方法，其特征在于，所述通過裂縫尺度與開啟程度的約束上，在大尺度開啟縫中進行裂縫產狀的識別，裂縫產狀包括高、低、水平角度裂縫包括：

1對于低角度、水平縫，測井表現為自然伽馬呈箱型，曲線光滑，電阻率常呈尖峰狀降低，或齒狀降低，無幅度差到輕微負幅度差；聲波值常呈齒狀、尖峰狀升高；對于斜交縫，測井曲線上表現為電阻率有降低，聲波值出現輕微增大；

2對于高角度縫，高角度裂縫發育程度低且多被充填時，在測井曲線上整體表現為基巖特征，無明顯響應，裂縫開啟時，高角度裂縫深淺電阻率呈負差異。