[發(fā)明專利]裂縫檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010591399.0 | 申請日: | 2020-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN111551120A | 公開(公告)日: | 2020-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王虎巖;王鳳秀;王家重;曹慧俐 | 申請(專利權(quán))人: | 威海華菱光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 梁文惠 |
| 地址: | 264209 山東省威海*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 裂縫 檢測 裝置 | ||
本發(fā)明提供了一種裂縫檢測裝置,裂縫檢測裝置包括第一檢測部和第二檢測部,第一檢測部包括第一框架和第一感光芯片,第一框架具有用于與第一待測位置配合的第一表面,第一感光芯片設(shè)置在第一框架上,第一感光芯片朝向第一表面;第二檢測部包括第二框架和第二感光芯片,第二框架具有用于與第二待測位置配合的第二表面,第二感光芯片設(shè)置在第二框架上,第二感光芯片朝向第二表面;其中,第一框架和第二框架連接,第一表面和第二表面之間具有夾角。采用該方案,由于第一檢測部的第一表面和第二檢測部的第二表面具有夾角,因此可將第一檢測部和第二檢測部安裝到與夾角匹配的建筑物拐角位置,從而方便地對拐角的兩個面上的裂縫進行檢測。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及裂縫檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種裂縫檢測裝置。
背景技術(shù)
混凝土、鋼結(jié)構(gòu)是樓房、橋梁、隧道等建筑物的主要材料。現(xiàn)在的樓房越來越高,橋梁越來越長、結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜,隨著使用年限的增加,混凝土或鋼結(jié)構(gòu)或其它材料可能會逐漸老化,出現(xiàn)這樣或那樣的缺陷。其中,裂縫對建筑物的安全使用構(gòu)成了較大的威脅。因此能否及時準(zhǔn)確的了解建筑物的重點部位的裂縫變化情況,并及時采取措施,是預(yù)防安全事故的重要手段。
目前在對建筑物上的裂縫進行的測量,主要采用刻度尺測量或采用相機拍攝,這種方法費時費力,不方便也不安全。在一些現(xiàn)有技術(shù)中,采用了接觸式圖像傳感器來對裂縫的寬度進行連續(xù)檢測,克服了上述檢測方法的缺陷。
但是,在一些特殊的位置,比如建筑物的拐角處,對于橫貫建筑物拐角的兩個面的裂縫,則難以進行裝置的安裝以及裂縫檢測。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種裂縫檢測裝置,以便于檢測建筑物拐角處的裂縫。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種裂縫檢測裝置,包括:第一檢測部,所述第一檢測部包括第一框架和第一感光芯片,所述第一框架具有用于與第一待測位置配合的第一表面,所述第一感光芯片設(shè)置在所述第一框架上,所述第一感光芯片朝向所述第一表面;第二檢測部,所述第二檢測部包括第二框架和第二感光芯片,所述第二框架具有用于與第二待測位置配合的第二表面,所述第二感光芯片設(shè)置在所述第二框架上,所述第二感光芯片朝向所述第二表面;其中,所述第一框架和所述第二框架連接,所述第一表面和所述第二表面之間具有夾角。
進一步地,所述第一表面和所述第二表面之間的夾角為銳角、鈍角或直角。
進一步地,所述第一框架和所述第二框架為一體結(jié)構(gòu)。
進一步地,所述第一框架和所述第二框架活動連接,所述第一表面和所述第二表面之間的夾角可調(diào)節(jié)。
進一步地,所述裂縫檢測裝置還包括轉(zhuǎn)軸,所述第一框架和所述第二框架通過所述轉(zhuǎn)軸連接。
進一步地,所述第一框架沿所述轉(zhuǎn)軸的軸向可移動地設(shè)置,和/或,所述第二框架沿所述轉(zhuǎn)軸的軸向可移動地設(shè)置。
進一步地,所述裂縫檢測裝置還包括:支撐結(jié)構(gòu),所述支撐結(jié)構(gòu)的一端與所述第一框架連接,所述支撐結(jié)構(gòu)的另一端與所述第二框架連接。
進一步地,所述第一感光芯片為多個,多個所述第一感光芯片沿預(yù)設(shè)方向排列設(shè)置,所述第二感光芯片為多個,多個所述第二感光芯片沿預(yù)設(shè)方向排列設(shè)置,其中,所述第一表面和所述第二表面均與所述預(yù)設(shè)方向平行。
進一步地,所述裂縫檢測裝置還包括:安裝臺,所述安裝臺設(shè)置在所述第一框架和/或所述第二框架上,所述安裝臺用于與待檢測的結(jié)構(gòu)連接。
進一步地,所述第一檢測部還包括設(shè)置在所述第一框架上的第一透光板和第一透鏡,所述第一透光板沿所述第一表面設(shè)置,所述第一透鏡位于所述第一透光板和所述第一感光芯片之間;所述第二檢測部還包括設(shè)置在所述第二框架上的第二透光板和第二透鏡,所述第二透光板沿所述第二表面設(shè)置,所述第二透鏡位于所述第二透光板和所述第二感光芯片之間。
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