[發(fā)明專利]信號采樣裝置、系統(tǒng)及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010590348.6 | 申請日: | 2020-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN111669182A | 公開(公告)日: | 2020-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 奚道明;陳瑞;劉葦;謝慶國 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州瑞邁斯醫(yī)療科技有限公司 |
| 主分類號: | H03M7/30 | 分類號: | H03M7/30 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215163 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 信號 采樣 裝置 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種信號采樣裝置,其特征在于,所述裝置包括:
比較單元,其被配置為將所接收的參考信號與待采樣的模擬信號進行幅度比較并且根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的電平信號,其中,所述參考信號為非周期性信號;
計時單元,其被配置為在所述參考信號的觸發(fā)下時開始計時并且在從所述比較單元接收的所述電平信號的觸發(fā)下輸出所記錄的時間;
獲得單元,其被配置為根據(jù)所述參考信號的幅度特性以及所述計時單元輸出的所述時間來獲得所述模擬信號的采樣點。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述比較單元包括電壓比較器或電流比較器,所述計時單元包括時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器或時間電壓轉(zhuǎn)換器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述獲得單元具體被配置為:
針對所述計時單元在從所述比較單元接收的所述電平信號產(chǎn)生邊沿跳變時保持計時的情況,將所述計時單元輸出的時間確定為所述采樣點所對應(yīng)的時間,并且利用所述時間和所述參考信號的幅度特性來計算所述采樣點所對應(yīng)的幅度;或者
針對所述計時單元在從所述比較單元接收的所述電平信號產(chǎn)生邊沿跳變時停止計時并復位后重新開始計時的情況,按照以下公式來計算每個所述采樣點所對應(yīng)的時間,并且利用所述時間和所述參考信號的幅度特性來計算每個所述采樣點所對應(yīng)的幅度:
ti=ti-1+Δti
yi=f(ti)
其中,ti和yi分別表示第i個采樣點所對應(yīng)的時間和幅度;Δti表示所述計時單元所記錄的第i個時間;f(ti)表示所述參考信號的幅度特性;i為正整數(shù),并且當i=1時,t0=0。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:
信號發(fā)生單元,其被配置為產(chǎn)生所述參考信號;
控制單元,其被配置為在所述信號發(fā)生單元產(chǎn)生所述參考信號時控制所述計時單元開始計時。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:
重建單元,其被配置為對所述獲得單元獲得的采樣點進行重建處理以獲得所述模擬信號的還原波形。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,所述重建單元具體被配置為:
直接連接所獲得的所有所述采樣點;
對所述采樣點進行插值處理,并且連接插值處理后的所有采樣點;或者
對所述采樣點進行插值處理,并且對插值處理之后的所有采樣點進行擬合處理,
其中,所述插值處理包括線性插值處理和/或樣條插值處理。
7.一種光電探測系統(tǒng),其特征在于,所述光電探測系統(tǒng)包括權(quán)利要求1-6中任一項所述的信號采樣裝置以及配置為向所述信號采樣裝置發(fā)送模擬信號的探測器。
8.一種信號采樣方法,其特征在于,所述方法包括:
由比較單元將所接收的參考信號與待采樣的模擬信號進行幅度比較并且根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的電平信號,其中,所述參考信號為非周期性信號;
由計時單元在所述參考信號的觸發(fā)下時開始計時并且在從所述比較單元接收的所述電平信號的觸發(fā)下輸出所記錄的時間;
由獲得單元根據(jù)所述參考信號的幅度特性以及所述計時單元輸出的所述時間來獲得所述模擬信號的采樣點。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
由重建單元對所述獲得單元獲得的所述采樣點進行重建處理以獲得所述模擬信號的還原波形。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,由重建單元對所述獲得單元獲得的所述采樣點進行重建處理的步驟包括:
直接連接所獲得的所有所述采樣點;
對所述采樣點進行插值處理,并且連接插值處理后的所有采樣點;或者
對所述采樣點進行插值處理,并且對插值處理之后的所有采樣點進行擬合處理,
其中,所述插值處理包括線性插值處理和/或樣條插值處理。
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