[發(fā)明專利]一種頂裝式磁翻板液位計的校準方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010589953.1
• 申請日: 2020-06-24
• 公開（公告）號: CN111693118A
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發(fā)明（設計）人: 武大志;伍海峰;孫運來
• 申請（專利權）人: 安東儀器儀表檢測有限公司
• 主分類號: G01F25/00
• 分類號: G01F25/00
• 代理公司: 北京鼎佳達知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11348
• 代理人: 張小勇;劉鐵生

1.一種頂裝式磁翻板液位計的校準方法，其特征在于，包括：

使用待校準磁翻板液位計多次對容器內(nèi)具有預設液面高度的液體進行測量，以獲取多個第一高度示值；

使用對比液位計多次對所述容器內(nèi)具有所述預設液面高度的液體進行測量，以獲取多個第二高度示值，其中，所述對比液位計的精度等級高于所述待校準磁翻板液位計的精度等級；

根據(jù)多個所述第一高度示值和多個所述第二高度示值獲取所述待校準磁翻板液位計的重復性；

根據(jù)所述重復性確定所述待校準磁翻板液位計的校準結(jié)果。

2.根據(jù)權利要求1所述的頂裝式磁翻板液位計的校準方法，其特征在于，

所述根據(jù)多個所述第一高度示值和多個所述第二高度示值獲取所述待校準磁翻板液位計的重復性具體包括：

根據(jù)多個所述第一高度示值計算第一平均值；

根據(jù)多個所述第二高度示值計算第二平均值；

根據(jù)所述第一平均示值和所述第二平均值計算平均誤差值；

根據(jù)多個所述第一高度示值、多個所述第二高度示值、所述平均誤差值與所述待校準磁翻板液位計的最大允許誤差確定所述待校準磁翻板液位計的所述重復性。

3.根據(jù)權利要求2所述的頂裝式磁翻板液位計的校準方法，其特征在于，

所述根據(jù)多個所述第一高度示值、多個所述第二高度示值、所述平均誤差值與所述待校準磁翻板液位計的最大允許誤差確定所述待校準磁翻板液位計的所述重復性具體包括：

當所述平均誤差值小于所述最大允許誤差時，根據(jù)公式計算所述重復性；

其中，S_n為所述重復性；

V_i為所述待校準磁翻板液位計第i次獲取的所述第一高度示值；

為所述第一平均值。

4.根據(jù)權利要求2所述的頂裝式磁翻板液位計的校準方法，其特征在于，

所述根據(jù)多個所述第一高度示值、多個所述第二高度示值、所述平均誤差值與所述待校準磁翻板液位計的最大允許誤差之間確定所述待校準磁翻板液位計的所述重復性還包括：

當所述平均值誤差大于所述最大允許誤差時，根據(jù)公式計算所述重復性；

其中，S_n為所述重復性；

V_i為所述待校準磁翻板液位計第i次獲取的所述第一高度示值；

為所述第二平均值。

5.根據(jù)權利要求1所述的頂裝式磁翻板液位計的校準方法，其特征在于，

所述根據(jù)多個所述第一高度示值計算第一平均值具體為：

根據(jù)公式獲取所述第一平均值；

其中，為所述第一平均值；

n為獲取所述第一高度示值的總次數(shù)；

V_i為所述待校準磁翻板液位計第i次獲取的所述第一高度示值；

所述根據(jù)多個所述第二高度示值計算第二平均值具體為：

根據(jù)公式獲取所述第二平均值；

其中，為所述第二平均值；

n為獲取所述第二高度示值的總次數(shù)；

V_0i為所述對比液位計第i次獲取的所述第二高度示值。

6.根據(jù)權利要求1所述的頂裝式磁翻板液位計的校準方法，其特征在于，

所述使用待校準磁翻板液位計多次對容器內(nèi)具有預設液面高度的液體進行測量，以獲取多個第一高度示值中，

相鄰兩次獲取所述第一高度示值之間具有預設時間間隔；

所述使用對比液位計多次對所述容器內(nèi)具有所述預設液面高度的液體進行測量，以獲取多個第二高度示值中，

相鄰兩次獲取所述第二高度示值之間具有預設時間間隔。

7.根據(jù)權利要求1所述的頂裝式磁翻板液位計的校準方法，其特征在于，

還包括：

使所述容器內(nèi)的液體具有多個液面高度，并獲取每個液面高度對應的示值子誤差；

以多個所述示值子誤差中的最大值作為示值誤差；

根據(jù)所述示值誤差獲取所述待校準磁翻板液位計的校準結(jié)果。