[發明專利]自適應像差校正方法及基于該方法的光片顯微成像裝置

有效

• 申請號: 202010587864.3
• 申請日: 2020-06-24
• 公開（公告）號: CN111580271B
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發明（設計）人: 王偉波;李曉君;詹天鵬;譚久彬
• 申請（專利權）人: 哈工大機器人（中山）無人裝備與人工智能研究院
• 主分類號: G02B27/00
• 分類號: G02B27/00;G01N21/64
• 代理公司: 北京隆源天恒知識產權代理有限公司 11473
• 代理人: 鞠永帥

1.一種自適應像差校正方法，其特征在于，應用于光片顯微成像裝置，包括：

建立像差的澤尼克多項式表征模型；

利用遺傳算法求解所述澤尼克多項式表征模型的近似最優解；

以所述近似最優解為起點，利用隨機并行梯度下降算法進一步求解所述澤尼克多項式表征模型的全局最優解；

基于所述全局最優解計算待矯正相位，其中，所述待矯正相位為像差校正參數。

2.如權利要求1所述的自適應像差校正方法，其特征在于，所述澤尼克多項式表征模型為5-36階澤尼克多項式的線性組合。

3.權利要求1或2所述的自適應像差校正方法，其特征在于，所述利用遺傳算法求解所述澤尼克多項式表征模型的近似最優解包括：

將所述澤尼克多項式表征模型中的澤尼克系數進行編碼，將編碼后的所述澤尼克系數作為基因值；

設置種群數量為M個，每個種群包括N個所述澤尼克系數，選取在像差校正范圍內的N個隨機數分別作為各項澤尼克系數，其中，N等于所述澤尼克多項式表征模型的多項式項數；

基于M個種群的澤尼克系數，依次計算各個種群對應的相位分布，并依次施加到波前校正器，并分別計算各個種群對應的相位分布下的圖像評價函數，其中，所述圖像評價函數為所述遺傳算法的適應度函數；

保留所述M個種群中適應度最高的個體直接進入下一代，并從所述M個種群中基于預設交叉規則選取個體進行交叉操作，得到新個體，從所述M個種群中基于預設變異規則選取個體進行變異操作；

判斷是否滿足預設的迭代終止條件；

若不滿足預設的迭代終止條件，則返回執行所述基于M個種群的澤尼克系數，依次計算各個種群對應的相位分布的步驟；

若滿足預設的迭代終止條件，則將當前種群中適應度最高的個體作為所述近似最優解。

4.如權利要求3所述的自適應像差校正方法，其特征在于，所述將所述澤尼克多項式表征模型中的澤尼克系數進行編碼包括：

將所述澤尼克多項式表征模型中的澤尼克系數進行浮點編碼。

5.如權利要求3所述的自適應像差校正方法，其特征在于，所述交叉操作采用均勻交叉算子進行，所述變異操作為高斯變異操作。